高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，包括测试治具和MCU微处理控制模块，测试治具上布置有显示模块和连接器支撑载板，用于放置待测电源传感器模块的连接器固定于连接器支撑载板上，直流电源与电流采样单元电性连接，电流采样单元与待测电源传感器模块相连，电流采样单元与MCU微处理控制模块通信连接，待测电源传感器模块与MCU微处理控制模块相连，显示模块与MCU微处理控制模块电性连接。待测电源传感器模块的各个关键测试点通过连接器进行接触，MCU微处理控制模块自动供给工作电压并对产品关键特性进行测试，精度得到保证，实现了测试过程的自动化，有效提高了生产线的测试效率，节约了测试成本。
【专利说明】高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置。
【背景技术】
[0002]目前，叉车产品上电池管理模块的测试由工人采用表笔及其他繁琐的方式去测量各待测点的电压、电流等参数，操作极不方便、效率低下，人工检测容易出现测量误差，导致工作效率低下，成本增加。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是克服现有技术存在的不足，提供一种高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置。
[0004]本实用新型的目的通过以下技术方案来实现:
[0005]高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，特点是:包括测试治具和MCU微处理控制模块，测试治具上布置有显示模块和连接器支撑载板，用于放置待测电源传感器模块的连接器固定于连接器支撑载板上，直流电源与电流采样单元电性连接，电流采样单元与待测电源传感器模块相连，电流采样单元与MCU微处理控制模块通信连接，待测电源传感器模块与MCU微处理控制模块相连，显示模块与MCU微处理控制模块电性连接。
[0006]进一步地，上述的高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，其中，所述MCU微处理控制模块是32位ARM微处理芯片。
[0007]再进一步地，上述的高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，其中，所述显示模块是IXD显示屏。
[0008]本实用新型技术方案的实质性特点和进步主要体现在:
[0009]待测电源传感器模块的各个关键测试点通过连接器进行接触，MCU微处理控制模块自动供给工作电压并对产品关键特性进行测试，精度得到保证，测试结果在显示模块上显示，实现了测试过程的自动化，有效提高了生产线的测试效率，节约了测试成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]下面结合附图对本实用新型技术方案作进一步说明:
[0011]图1:本实用新型的架构框图；
[0012]图2:测试治具的构造示意图。
【具体实施方式】
[0013]如图1、图2所示，高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，包括测试治具6和MCU微处理控制模块1，测试治具6上布置有显示模块5和连接器支撑载板7，用于放置待测电源传感器模块的连接器8固定于连接器支撑载板7上，直流电源3与电流采样单元4电性连接，电流采样单元4与待测电源传感器模块2相连，电流采样单元4与MCU微处理控制模块I通信连接，待测电源传感器模块2与MCU微处理控制模块I相连，显示模块5与MCU微处理控制模块I电性连接。
[0014]电流采样单元4通过对精密电阻上流过的电压进行采集和测量进而得到流过此信号的电流。MCU微处理控制模块I是以32位ARM微处理芯片，MCU微处理控制模块控制输入电压和测量输出电压，精度和稳定性均得到保证。显示模块5是LCD显示屏。
[0015]与被测产品接触的部分采样防静电材料，能更好的保护待测产品，测试治具6内腔内安装MCU微处理控制模块I以及与之相连的电路元件。
[0016]具体应用时，将待测电源传感器模块2放置于连接器8上，待测电源传感器模块2的各个关键测试点通过连接器8进行接触，MCU微处理控制模块I自动供给工作电压并对产品关键特性进行测试，测试结果在显示模块5上显示，实现了测试过程的自动化，有效提高了生产线的测试效率，节约了测试成本。
[0017]需要强调的是:以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【权利要求】
1.高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，其特征在于:包括测试治具和MCU微处理控制模块，测试治具上布置有显示模块和连接器支撑载板，用于放置待测电源传感器模块的连接器固定于连接器支撑载板上，直流电源与电流采样单元电性连接，电流采样单元与待测电源传感器模块相连，电流采样单元与MCU微处理控制模块通信连接，待测电源传感器模块与MCU微处理控制模块相连，显示模块与MCU微处理控制模块电性连接。
2.根据权利要求1所述的高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，其特征在于:所述MCU微处理控制模块是32位ARM微处理芯片。
3.根据权利要求1所述的高效精密开关电源传感器模块的自动化测试装置，其特征在于:所述显示模块是IXD显示屏。
【文档编号】G01R31/00GK204214970SQ201420735806
【公开日】2015年3月18日 申请日期:2014年11月28日 优先权日:2014年11月28日
【发明者】张华 , 李利, 许銮杰 申请人:欧朗科技（苏州）有限公司