纸张厚度电子测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种 纸张厚度电子测量装置。 目前，在大多数纸张生产线上对纸张厚度在线检测中，有的使用接触法，但易划伤被测表面，影响产品质量。一种纸张厚度电子测量装置，其组成包括：壳体（ 1 ），所述的壳体内具有单片机（ 12 ），所述的单片机分别与 A/D 转换器（ 7 ）、可擦除可编程只读寄存器（ 8 ）、 LED 显示屏（ 9 ）、随机存取存储器（ 11 ）连接，所述的 A/D 转换器与校零放大器（ 6 ）连接，所述的校零放大器与锁定放大器（ 5 ）连接，所述的锁定放大器与光电探测器（ 4 ）连接，所述的光电探测器与光学系统（ 3 ）连接，所述的光学系统与光调制器（ 2 ）连接，所述的随机存取存储器与打印机（ 10 ）连接。本实用新型应用于纸张厚度电子测量装置。
【专利说明】纸张厚度电子测量装置
[0001]【技术领域】:
[0002]本实用新型涉及一种纸张厚度电子测量装置。
[0003]【背景技术】:
[0004]目前，在大多数纸张生产线上对纸张厚度在线检测中，有的使用接触法，但易划伤被测表面，影响产品质量，有的采用辐射、电容或红外线灯非接触检测方法，但又受到纸张灰分、水分、密度等因素的影响，使检测值不稳定，降低了检测精度。
[0005]
【发明内容】
:
[0006]本实用新型的目的是提供一种纸张厚度电子测量装置。
[0007]上述的目的通过以下的技术方案实现:
[0008]一种纸张厚度电子测量装置，其组成包括:壳体，所述的壳体内具有单片机，所述的单片机分别与A/D转换器、可擦除可编程只读寄存器、LED显示屏、随机存取存储器连接，所述的A/D转换器与校零放大器连接，所述的校零放大器与锁定放大器连接，所述的锁定放大器与光电探测器连接，所述的光电探测器与光学系统连接，所述的光学系统与光调制器连接，所述的随机存取存储器与打印机连接。
[0009]本实用新型的有益效果:
[0010]1.本实用新型通过光电探测器输出待测信号和光调制器输出的同步参考信号经锁定放大器单元，在经过校零放大器单元，通过A/D转换器，单片机对测量信号进行数据采集、标度变化和厚度测量运算，将测量结果通过八位LED直接显示出来，如需打印可以通过打印机打印。
[0011]本实用新型结构简单、操作方便，测量过程中不会划坏纸张，又没有辐射、电容或红外线灯非接触检测方法带来纸张灰分、水分、密度等因素的影响，测量值稳定，测量精度尚ο
[0012]【专利附图】
【附图说明】:
[0013]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0014]附图2是本实用新型光学系统示意图。
[0015]附图3是本实用新型单片机及外围电路示意图。
[0016]【具体实施方式】:
[0017]实施例1:
[0018]一种纸张厚度电子测量装置，其组成包括:壳体1，所述的壳体内具有单片机12，所述的单片机分别与A/D转换器7、可擦除可编程只读寄存器8、LED显示屏9、随机存取存储器11连接，所述的A/D转换器与校零放大器6连接，所述的校零放大器与锁定放大器5连接，所述的锁定放大器与光电探测器4连接，所述的光电探测器与光学系统3连接，所述的光学系统与光调制器2连接，所述的随机存取存储器与打印机10连接。
[0019]实施例2:
[0020]根据实施例1所述的纸张厚度电子测量装置，光源1发出的光一路作为信号光，经过透镜4、光阑6、透镜8后成为平行光束，并由透镜11聚焦后达到光电探测器12，另一路作为参考光，经反射镜2、透镜3、光阑、透镜7和透镜11后到达光电探测器12，旋转的调制圆盘5上开有均匀分布的圆孔，使信号光和参考光交替地通过光路，照射到光电传感器上。纸张10张紧在造纸生产的基准辊9上。由于在信号光路中放入被测物体，部分信号光呗遮挡，使照射到光电探测器的光强发生变化，从而使光电探测器的输出为一方波信号，方波的幅度正比与信号强和参考光强之差，也即正比与待测物体的厚度。
【权利要求】
1.一种纸张厚度电子测量装置，其组成包括:壳体，其特征是:所述的壳体内具有单片机，所述的单片机分别与八/0转换器、可擦除可编程只读寄存器、[￡0显示屏、随机存取存储器连接，所述的八/0转换器与校零放大器连接，所述的校零放大器与锁定放大器连接，所述的锁定放大器与光电探测器连接，所述的光电探测器与光学系统连接，所述的光学系统与光调制器连接，所述的随机存取存储器与打印机连接。
【文档编号】G01B11/06GK204255300SQ201420834311
【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月25日 优先权日:2014年12月25日
【发明者】邢琦 申请人:邢琦