1.一种用于裸芯片的测试接口板，其特征在于，包括：多条打线，设置在接口板上，每条所述打线均具有焊盘端和信号端，
其中，所述焊盘端用于向裸芯片相应的管脚输入测试信号，所述信号端用于接收输入的外部测试信号，所述裸芯片固定在所述接口板上。
2.根据权利要求1所述的接口板，其特征在于，还包括：
多个插座，每个所述插座均具有第一端和第二端，所述第一端与相应的所述打线的信号端相连接，用于向相应的所述打线的信号端输入测试信号，所述第二端与输入/输出端口相连接，用于接收所述输入/输出端口输入的外部测试信号。
3.根据权利要求1所述的接口板，其特征在于，所述多条打线在所述接口板上布线如下：
所述多条打线上的焊盘端分布在第一预设区域的周边上；以及
所述多条打线上的信号端分布在第二预设区域的周边上，所述第一预设区域和所述第二预设区域均为所述接口板上的区域，且所述第一预设区域包含在所述第二预设区域内部，所述多条打线中每条打线的焊盘端与该条打线的信号端之间间隔预设距离。
4.根据权利要求3所述的接口板，其特征在于，所述第一预设区域为矩形，所述第二预设区域为矩形，所述第一预设区域的对称中心和所述第二预设区域的对称中心为同一对称中心，其中，
所述多条打线上的焊盘端均匀分布在所述第一预设区域的四周；以及
所述多条打线上的信号端均匀分布在所述第二预设区域的四周，所述多条打线中每条打线的焊盘端所在的矩形区域的边所在的直线平行于该条打线的信号端所在的矩形区域的边所在的直线。
5.一种用于裸芯片的测试系统，其特征在于，包括：
用于裸芯片的测试接口板，包括：多条打线，设置在接口板上，每条所述打线均具有焊盘端和信号端，其中，所述焊盘端用于向裸芯片相应的管脚输入测试信号，所述信号端用于接收输入的外部测试信号，所述裸芯片固定在所述接口板上；
信号发生/测量部件，与所述接口板相连接，用于产生多个动态的所述外部测试信号，并将多个动态的所述外部测试信号输出至固定在所述接口板上的所述裸 芯片；以及
控制器，与所述信号发生/测量部件相连接，用于控制所述信号发生/测量部件产生多个的所述外部动态测试信号。
6.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，动态的所述外部测试信号为发生时间可变的信号和/或大小可变的信号和/或电性可变的信号。
7.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述信号发生/测量部件包括：
时钟发生单元，用于产生时钟信号；以及
信号发生单元，与所述时钟发生单元相连接，用于在所述时钟信号对应的时钟下产生多个动态的所述外部测试信号。
8.根据权利要求7所述的测试系统，其特征在于，所述信号发生/测量部件还包括：
数字比较单元，与所述时钟发生单元相连接，用于判断所述时钟发生单元产生的时钟信号是否为预设时钟信号；以及
输入/输出端口，用于在所述数字比较单元判断出所述时钟发生单元产生的时钟信号为所述预设时钟信号时，输出所述信号发生单元产生的多个动态的所述外部测试信号。
9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述信号发生/测量部件还包括：程序纠错部单元，连接在所述数字比较单元和所述时钟发生单元之间，用于在所述数字比较单元判断出所述时钟发生单元产生的时钟信号不是所述预设时钟信号时，进行纠错处理，得到纠错结果，
其中，所述时钟发生单元还用于根据所述纠错结果重新产生时钟信号。
10.根据权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：
输入/输出缓冲器，连接在所述接口板和所述信号发生/测量部件之间，用于对多个动态的所述外部测试信号进行缓冲处理。
11.根据权利要求10所述的测试系统，其特征在于，所述输入/输出缓冲器还用于在对多个动态的所述外部测试信号进行缓冲处理的同时，对所述裸芯片输出的反馈信号进行缓冲处理。
12.根据权利要求10所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：
开关，连接在所述输入/输出缓冲器和所述信号发生/测量部件之间，用于控制多个动态的所述外部测试信号输出至所述输入/输出缓冲器。
13.根据权利要求10所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：
敏感放大器，与所述输入/输出缓冲器相连接，用于对所述输入/输出缓冲器输出的反馈信号的缓冲信号进行放大处理，得到放大后的缓冲信号；以及
逻辑比较器，连接在所述敏感放大器和所述控制器之间，用于判断所述放大后的缓冲信号对应的逻辑值是否为预设逻辑值，
所述控制器还用于在所述逻辑比较器判断出所述放大后的缓冲信号对应的逻辑值不是所述预设逻辑值时，控制所述信号发生/测量部件重新产生多个动态的所述外部测试信号。
14.根据权利要求10所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：
编码/解码电路，连接在所述控制器和所述输入/输出缓冲器之间，用于在所述控制器的控制下对所述输入/输出缓冲器产生的缓冲信号的数目进行扩展处理。