技术总结
本发明公开了一种用于裸芯片的测试接口板和用于裸芯片的测试系统。其中，该接口板包括：多条打线，设置在接口板上，每条打线均具有焊盘端和信号端，其中，焊盘端用于向裸芯片相应的管脚输入测试信号，信号端用于接收输入的外部测试信号，裸芯片固定在接口板上。通过本发明，解决了相关技术中在实验室执行裸芯片的EFA测试时，只能提供数量有限的静态测试信号的问题。
技术研发人员：崔嘉;徐昊
受保护的技术使用者：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司
文档号码：201510181821
技术研发日：2015.04.16
技术公布日：2016.11.23