一种基于人工加速老化试验的盆式绝缘子寿命评估方法与流程

本发明属于固体电介质老化寿命预测技术领域，特别涉及一种基于人工加速老化试验的盆式绝缘子寿命评估方法。

背景技术：

盆式绝缘子是GIS的主要组成部件，它有两大功能：一是联系高电位部件与地电位外壳，起着支撑与对地绝缘的作用；二是连接断口间的动触头及静触头相应元件，起着连接与断口绝缘的作用。随着GIS的广泛应用，GIS设备的运行可靠性问题已经引起了国内外的广泛关注，而近年来GIS设备故障事件时有发生。根据运行经验，在所有的GIS故障事例中，盆式绝缘子和隔离开关造成的故障比例最高，其中盆式绝缘子的故障率高达26.6％。

盆式绝缘子工作在GIS封闭金属外壳中，对于正常的盆式绝缘子，在与导体连接处会出现最大场强，最易发生绝缘老化和损坏；对于含有其他缺陷的盆式绝缘子，在缺陷处会发生电场畸变，使得局部场强明显增大，沿面闪络电压显著下降，在缺陷处易引发局部放电，是盆式绝缘子的重要老化因素。基于固体电介质绝缘老化的“陷阱理论”，电介质总是在绝缘最薄弱的地方先发生老化和绝缘受损，然后以这点为中心像链条一样传播开来，最终造成绝缘击穿和失效。盆式绝缘子在正常工作过程中，在外施电场作用下，表面会累积自由电荷，使得局部电场发生畸变，沿面闪络电压下降；另外，盆式绝缘子本身固化过程中可能存在质量把控不严，内部存在气泡缺陷，或者在安装过程中发生机械碰撞、带入杂质等。以上因素都会引起盆式绝缘子发生局部放电，加速盆式绝缘子的老化。盆式绝缘子是GIS中的重要绝缘部件，长期工作并处于高电压和高温环境，GIS的全封闭环境使得其工作状态和故障检测比较困难，当其发生沿面闪络或击穿故障时，会造成停电面积大，检修周期长的严重后果。

盆式绝缘子的构成材料为环氧树脂。环氧树脂是目前三大通用热固性树脂之一，是热固性塑料中用量最大、应用最广的品种，有着优良的力学性能和电绝缘性能，然而其耐候性和韧性较差，易发生光氧化和热老化。对于在GIS环境中的盆式绝缘子来说，长期承受高电压，高温环境，其老化主要是电老化和热老化。如何对盆式绝缘子工作过程中的老化因素进行分析，得到有效的绝缘状态和老化寿命评估方法，是亟待解决的问题。

目前国内外所有文献中，对盆式绝缘子老化机制的研究较少，没有形成可供工程实际参考的规律和结论。虽然随着GIS的广泛应用对盆式绝缘子的研究越来越多，但是都局限于单个问题的研究，没有深入到绝缘老化评估和寿命预测部分。人工加速老化试验方面，目前IEC及国标尚未有关于固体电介质的电热综合因素的老化试验方法，但是关于复合绝缘子的老化试验方法形成了比较系统的标准，可供参考。实验室条件下对输电线路复合绝缘子的老化试验方法同时考虑大气环境中各类老化因素，同理而言，对盆式绝缘子可以考虑GIS内部老化因素进行实验设计。因为直接对盆式绝缘子进行老化试验成本太高且操作困难，可对用于浇注盆式绝缘子的环氧树脂材料进行电热综合因素下的人工加速老化试验。要通过对环氧树脂材料的试验数据分析联系到盆式绝缘子老化评估，需要对试验数据进行分析，通过老化过程中的相关物理量建立样品与实际盆式绝缘子之间的联系。固体电介质寿命预测模型方面一直都是一个难题，目前大都依照经验公式。

技术实现要素：

基于此，本发明公开了一种基于人工加速老化试验的盆式绝缘子寿命评估方法，所述方法包括以下步骤：

S100、将两组安装有电极的样品放入多因子老化实验室；设定试验温度和电压，开始人工加速老化试验；

S200、每隔一段老化时间t从两组样品中各取出一个，采用相同的编号，进行绝缘电阻率测量，基于老化时间和绝缘电阻率百分比关系生成绝缘特征曲线；

S300、保持试验温度不变，另取多个试验电压值，重复步骤S100和S200，共得到多组绝缘特性曲线；

S400、通过S300得到的不同电压值下的多组绝缘特性曲线中的数据，建立电场强度与老化寿命的关系曲线，得到电场强度与老化时间的关系式(1)；

t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ (1)

其中，t₁为在场强E₁作用下的老化寿命，t₂为在场强E₂作用下的老化寿命，n为寿命系数，通过t＝KE^-n公式计算得到，其中，t为热老化时间，K为与绝缘材料、绝缘结构相关的常数，E为外施场强；

S500、如果步骤S100中设定的试验温度和盆式绝缘子工作环境温度相对误差在5℃以内，则进行步骤S600；如果步骤S100中设定的试验温度高于盆式绝缘子工作环境温度5℃以上，则利用Arrhenius方程确定热老化时间和温度的关系曲线，所述关系曲线的拟合方程如式(2)所示：

lnt＝ln A₀-E_a/RT (2)

其中，A₀为前因子，t为热老化时间，E_a为热老化活性能，R为气体常数；

利用式(2)对步骤S200中所述的绝缘特征曲线进行修正，得到盆式绝缘子工作环境温度下的绝缘特征曲线，并用此绝缘特征曲线代替步骤S200中所述的绝缘特征曲线；

S600、测量具有使用年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率并记录该使用年限，在S300得到的多组绝缘特征曲线上找到相对应的点；

S700、基于步骤S600中找到的所述相对应的点，进一步利用公式(1)，换算盆式绝缘子工作电场强度下的老化时间，与步骤S600中所述的盆式绝缘子的使用年限作比较；

S800、基于S700的年限比较结果，在步骤S300中的多组绝缘特性曲线中，选取与盆式绝缘子的使用年限最接近的绝缘特征曲线，对使用年限最接近的绝缘特征曲线进行曲线拟合，得到拟合函数；

其中，A为常数，K为与材料相关的系数，t为老化时间，δ为时间指数，z代表绝缘电阻率；

S900、最终得到盆式绝缘子工作场强下的寿命预测模型如下式所示；

上式中，t₁为场强E₁作用下的老化时间，t₂为场强E₂作用下的老化时间；A₀为前因子，t为热老化寿命，E_a为热老化活性能，R为气体常数，T为热力学温度，A为常数，K为与材料相关的系数，t为老化时间，δ为时间指数；

S1000、基于S900的寿命预测模型，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。

与现有技术相比，本发明通过对人工加速老化的数据处理建立了环氧树脂样品试验数据和盆式绝缘子寿命预测之间的联系，开辟了盆式绝缘子寿命预测的一条可行的途径，对盆式绝缘子及其他电介质寿命预测有很大的指导意义。

附图说明

图1为本发明的环氧树脂绝缘老化特征曲线图；其中1表示绝缘电阻率较小值绝缘曲线，2表示绝缘电阻率较大值绝缘曲线，3表示绝缘电阻率平均值绝缘曲线；

图2为本发明的由Arrhenius方程确定的热老化寿命和温度的关系曲线图；

图3为本发明的威布尔概率法推算的场强与老化寿命的关系曲线图；

图4为本发明的盆式绝缘子寿命预测模型建立流程图。

具体实施方式

下面结合具体的实施例和附图对本发明进行进一步的阐述。

在一个实施例中，本发明公开了一种基于人工加速老化试验的盆式绝缘子寿命评估方法，所述方法包括以下步骤：

S100、将两组安装有电极的样品放入多因子老化实验室；设定试验温度和电压，开始人工加速老化试验；

S200、每隔一段老化时间t从两组样品中各取出一个，采用相同的编号，进行绝缘电阻率测量，基于老化时间和绝缘电阻率百分比关系生成绝缘特征曲线；

S300、保持试验温度不变，另取多个试验电压值，重复步骤S100和S200，共得到多组绝缘特性曲线；

S400、通过S300得到的不同电压值下的多组绝缘特性曲线中的数据，建立电场强度与老化寿命的关系曲线，得到电场强度与老化时间的关系式(1)；

t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ (1)

其中，t₁为在场强E₁作用下的老化寿命，t₂为在场强E₂作用下的老化寿命，n为寿命系数，通过t＝KE^-n公式计算得到，其中，t为热老化时间，K为与绝缘材料、绝缘结构相关的常数，E为外施场强；

S500、如果步骤S100中设定的试验温度和盆式绝缘子工作环境温度相对误差在5℃以内，则进行步骤S600；如果步骤S100中设定的试验温度高于盆式绝缘子工作环境温度5℃以上，则利用Arrhenius方程确定热老化时间和温度的关系曲线，所述关系曲线的拟合方程如式(2)所示：

lnt＝ln A₀-E_a/RT (2)

其中，A₀为前因子，t为热老化时间，E_a为热老化活性能，R为气体常数；

利用式(2)对步骤S200中所述的绝缘特征曲线进行修正，得到盆式绝缘子工作环境温度下的绝缘特征曲线，并用此绝缘特征曲线代替步骤S200中所述的绝缘特征曲线；

S600、测量具有使用年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率并记录该使用年限，在S300得到的多组绝缘特征曲线上找到相对应的点；

S700、基于步骤S600中找到的所述相对应的点，进一步利用公式(1)，换算盆式绝缘子工作电场强度下的老化时间，与步骤S600中所述的盆式绝缘子的使用年限作比较；

S800、基于S700的年限比较结果，在步骤S300中的多组绝缘特性曲线中，选取与盆式绝缘子的使用年限最接近的绝缘特征曲线，对使用年限最接近的绝缘特征曲线进行曲线拟合，得到拟合函数；

其中，A为常数，K为与材料相关的系数，t为老化时间，δ为时间指数，z代表绝缘电阻率；

S900、最终得到盆式绝缘子工作场强下的寿命预测模型如下式所示；

上式中，t₁为场强E₁作用下的老化时间，t₂为场强E₂作用下的老化时间；A₀为前因子，t为热老化寿命，E_a为热老化活性能，R为气体常数，T为热力学温度，A为常数，K为与材料相关的系数，t为老化时间，δ为时间指数；

S1000、基于S900的寿命预测模型，对盆式绝缘子寿命进行评估，并基于评估结果，对盆式绝缘子执行不同的寿命维护策略。

本实施例中所述的老化时间保持在3000h以上，所述步骤S200中相隔的老化时间t可取500h，1000h，1500h，2000h或者3000h。

本实施例包括两组试验样品，因此绝缘电阻率每次测量可得到两个值，对测得的两个绝缘电阻率值求取平均值，如图1所示生成的绝缘特征曲线是一个带状区域，对测得的两组绝缘特征曲线值中的较大值，较小值和平均值各绘成一条曲线。

本实施例中步骤S400中关系式(1)中的n值的确定是在不同的试验电压下计算出多个n值，然后取均值得到最终的n值。

本实施例所述的模型的意义是：对与盆式绝缘子材料相同的环氧树脂板进行电、热综合因素的人工加速老化试验，得到绝缘特征曲线，近似函数形式为然后通过使用一定年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率测量，带入该式，配合式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ可计算出盆式绝缘子工作场强下的老化时间；如果老化试验中设定的温度不接近GIS内部温度，则再通过老化时间与温度的关系式lnt＝lnA₀-E_a/RT可得到最终推算的盆式绝缘子的老化时间。即可以由绝缘特征曲线函数和另外两个关系式推算出盆式绝缘子绝缘电阻率百分比降为某值时的老化时间，如果知道绝缘电阻百分比降为b值时盆式绝缘子绝缘破坏，即可得到寿命终止时间(老化寿命)。

本发明通过测取绝缘失效被撤下来的盆式绝缘子的绝缘电阻率，计算绝缘电阻率百分比，作为寿命终止标志，即当环氧树脂材料老化到绝缘电阻率百分比降为此值时认为绝缘失效。

本实施例所述的方法针对盆式绝缘子封闭、高温和长期承受高电压的特点，利用多因子实验室设计电热综合因素的人工加速老化试验平台，测量多个环氧树脂样品不同老化程度下的特征量。在此基础上，对实验数据进行分析，利用已有的经验公式，采用曲线拟合技术及威布尔概率分布法，研究各老化因素、电气测试量及老化寿命之间的内在联系，将对环氧树脂材料的试验数据与盆式绝缘子的老化评估建立联系，提出一套盆式绝缘子寿命评估方法。

基于上述人工加速老化试验方法的盆式绝缘子寿命评估方法，需要对老化后的环氧树脂板进行电气测量，分析试验数据，通过物理量建立与盆式绝缘子之间的联系。对经过不同时间老化后的样品进行电镜观察及电气参数测量，找出能代表老化程度的特征量，画出环氧树脂绝缘老化特征曲线，结合现有一定使用年限的盆式绝缘子相关参数，利用曲线拟合和威布尔概率分布法推算出盆式绝缘子的寿命预测模型。

本实施例利用绝缘电阻率对环氧树脂板及盆式绝缘子的绝缘状态进行评估，若经过试验老化后的环氧树脂板与使用一定年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率相同，可大致认为二者老化程度相同。采用已有的经验公式，建立温度、电场与老化寿命之间的关系，由此可推测在GIS内部温度和电场条件下绝缘子的老化速率。通过试验样品数据的曲线拟合函数与经验公式结合，可推测不同状态下盆式绝缘子的剩余寿命。

在一个实施例中，步骤S100中所述的样品采用环氧树脂板，所述的电极采用铜棒电极，所述铜棒电极放置于环氧树脂板的两侧。

在本实施例中，试验所用的环氧树脂板的各项物理及电气性能要求与盆式绝缘子材料一致。

在一个实施例中，所述步骤S100中的每组样品为多个两侧放置有铜棒电极的环氧树脂板。

在本实施例中，每组的试验样品数量可为五个两侧放置有铜棒电极的环氧树脂板。

在一个实施例中，所述步骤S100中人工加速老化试验平台基于多因子实验室搭建，具有高温和高电压的环境。

本实施例所述的多因子老化实验室内部结构为：地电位端为环形钢架结构，投入的试验样品呈环形均匀分布，通过半径为2mm的裸铜线连接并悬挂在钢架上，高压端从地面变压器端子输出。

在一个实施例中，所述样品上的两根铜棒电极间的间距和试验设定的电压值由盆式绝缘子正常工作场强决定。

更优的，在一个实施例中，所述两根铜棒电极间的间距和试验设定的电压值的设定原则具体为两根铜棒电极中间区域场强高于盆式绝缘子正常工作场强的2到3倍以上，小于试验所得击穿场强。

在一个实施例中，所述试验温度高于GIS环境温度，但不超过环氧树脂材料本身的玻璃化温度。

步骤S200中所述的绝缘电阻率百分比为样品进行人工加速老化出厂时的绝缘电阻率与试验后的绝缘电阻率之间的百分比；

步骤S200中所述绝缘特征曲线包括三条曲线，分别是绝缘电阻率较大值绝缘曲线，绝缘电阻率较小值绝缘曲线和绝缘电阻率平均值绝缘曲线；

绝缘电阻率较大值绝缘曲线是基于老化时间和两组样品中绝缘电阻率较大值百分比的关系生成的；

绝缘电阻率最小值绝缘曲线是基于老化时间和两组样品中绝缘电阻率较小值百分比的关系生成的；

绝缘电阻率平均值绝缘曲线是基于老化时间和两组样品的绝缘电阻率平均值百分比的关系生成的。

在本实施例中，试验所用的环氧树脂板的各项物理及电气性能要求与盆式绝缘子材料一致，即我们可认为刚出厂的环氧树脂板和盆式绝缘子的绝缘电阻率是相同值，以此值为初始值。一定使用年限的绝缘子的绝缘电阻率与初始值相比得到一个绝缘电阻率百分比，经过一定时间老化后的样品的绝缘电阻率与初始值相比得到老化样品的绝缘电阻率百分比。

在一个实施例中，所述步骤S400中的电场强度由试验电压和样品上的两根铜棒电极间的间距确定；步骤S400中的老化寿命为在不同试验电压值样品老化后绝缘电阻率降为40％-55％时所对应的老化时间。

优选的，本发明以绝缘电阻率作为衡量电介质绝缘老化程度的参数，当绝缘电阻率达到相同值时可认为样品的老化程度是相同的。故此处的可选取绝缘电阻率百分比降为60％作为参考点，这样在不同电压下经过一定时间老化都达到这个值，即不同电压下样品经过不同时间达到相同的老化程度。

优选的，可取绝缘电阻率降为50％的点(也可取其他点)为参考点，这样在不同电压值下老化后绝缘电阻率降为50％所对应的老化时间即为老化寿命。

在一个实施例中，所述步骤S800中选取与盆式绝缘子的使用年限最接近的绝缘特征曲线，包括以下步骤：

S1、对使用一定年限的盆式绝缘子进行绝缘电阻率测量，与未经老化的环氧树脂样品的绝缘电阻率相比得到绝缘电阻率百分比，设为α％；

S2、在5组不同的绝缘特征曲线上找到对应绝缘电阻率百分比为α％的点，假设下包络线，上包络线和平均值线上的老化时间分别为tm、tn、tf；

S3、假设绝缘特征曲线对应的环氧树脂样品表面最大电场强度为E1，仿真计算盆式绝缘子工作时的表面的最大电场强度，记为E2，利用公式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ，令t1＝tf，确定由各绝缘特征曲线确定的盆式绝缘子老化时间t2；

S4、将由各特征曲线折算的盆式绝缘子老化时间与实际使用年限对比，选取最接近的一个，即为与盆式绝缘子绝缘老化趋势最接近的绝缘特征曲线。

在一个实施例中，所述步骤S1000中的寿命维护策略包括：在盆式绝缘子安装使用之前进行耐压试验，保证绝缘子本身不存在质量缺陷；在保证盆式绝缘子本身不存在质量缺陷的情况下投入使用，并根据步骤S900中所述寿命预测模型评估绝缘子老化寿命，在使用年限达到老化寿命的80％后，监测盆式绝缘子的局部放电情况；如出现局部放电现象，将所述监测的盆式绝缘子予以替换，如没有出现局部放电情况，则对所述盆式绝缘子的局部放电情况继续进行监视。

在一个实施例中，图1为本发明的环氧树脂材料绝缘老化特征曲线。横坐标为试验老化时间，纵坐标为绝缘电阻率百分比(老化后的样品的绝缘电阻率/未经老化的样品绝缘电阻率)。固体电介质在老化或绝缘受损后，绝缘电阻率会逐渐减小，即绝缘电阻百分比越小，代表材料的老化程度越严重。

图2为本发明的由Arrhenius方程确定的热老化寿命和温度的关系曲线图。

Arrhenius方程为：

K＝A₀exp(-E/RT)

式中，K为反应速率常数，A₀为前因子，E为反应活化能，R为气体常数，T为热力学温度。为了研究老化寿命与老化温度的关系，可将上式转化成

t＝A₀exp(-E_a/RT)

其中t为热老化寿命，E_a为热老化活性能。

将公式t＝A₀exp(-E_a/RT)两边同时取自然对数，可得到热老化时间和温度的关系曲线的拟合方程：

lnt＝ln A₀-E_a/RT

可进一步转化为线性方程

Y＝a+bX

式中，Y＝lnt，a＝ln A₀，b＝-E_a/R，T＝1/(θ+273.15)。θ是以摄氏度表示的温度。

由此，我们可以在3～4个高于GIS内部温度的温度值下做热老化加速试验，得到材料在该温度下的性能衰减至50％的时间(即半衰期)，可以得出老化时间的对数与温度的倒数的线性关系曲线，可确定式(4)中的参数a和b，通过此关系曲线可以得到温度设定为GIS内部工作温度时的材料老化寿命。

图3为威布尔概率法推算的场强与老化寿命的关系曲线图。在不同的试验电压下，试样累积击穿概率与寿命值近似直线关系，其数学表达式为

F(t，E)＝1-exp(ct^aE^b)

式中：E为外施场强，a、b、c为与温度、材料及结构等有关的常数；

两侧取对数，令n＝b/a，可得

t＝KE^-n

式中：K为与绝缘材料、绝缘结构相关的常数，n为寿命系数。

取5组试验电压，控制老化箱温度不变，依次做5组试验，在不同试验电压下，得到了每个试样绝缘电阻率百分比将为50％时的老化寿命，即寿命中值。

若在场强E₁作用下的寿命中值为t₁，在场强E₂作用下的寿命中值为t₂，则有

t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ

在电极结构及间距不变的情况下，式(7)可推得

t₁/t₂＝(U₂/U₁)ⁿ

依据两两相邻的试验电压值代入式t₁/t₂＝(U₂/U₁)ⁿ中可以计算得到4组n值，取平均值即可确定n值，得到环氧树脂材料的试验电压与老化寿命的关系式。

图4为本发明的盆式绝缘子寿命预测模型建立流程图。建立盆式绝缘子寿命预测模型步骤如下：

步骤1、将两组装好电极的样品(2×5个)放入人工加速老化试验平台。设定好温度和电压，开始老化试验。

步骤2、每隔一段老化时间t从两组样品中各取出一个，采用相同的编号，进行绝缘电阻率测量。绘制绝缘特征曲线图。

步骤3、保持温度不变，另取4个电压值，重复步骤1和2。

步骤4、通过不同电压值下的老化试验数据，建立电场强度与老化寿命的关系曲线，确定t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ中的n值。

步骤5、如试验温度和盆式绝缘子工作环境温度相近，则进行步骤6；如试验温度高于盆式绝缘子工作环境温度，则通过Arrhenius方程确定的热老化寿命和温度的关系曲线图对绝缘特征曲线进行修正，得到盆式绝缘子工作环境温度下的绝缘特征曲线。

步骤6、测量有一定使用年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率(或介质损耗因数)，在之前的5组绝缘特征曲线上找到相对应的点。

步骤7、利用公式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ，由各绝缘特征曲线上的点换算盆式绝缘子工作场强下的老化时间，与该盆式绝缘子的使用年限作比较。

步骤8、选取经过换算后与该盆式绝缘子的使用年限最接近的绝缘特征曲线，对该曲线进行曲线拟合，得到拟合函数

步骤9、通过拟合函数与公式lnt＝lnA₀-E_a/RT和公式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ结合，可得到盆式绝缘子工作场强下的寿命预测模型。

选取与盆式绝缘子绝缘老化趋势最接近的绝缘特征曲线，其步骤如下：

步骤1、对使用一定年限的盆式绝缘子进行绝缘电阻率测量，与未经老化的环氧树脂样品的绝缘电阻率相比得到绝缘电阻率百分比，设为α％。

步骤2、在5组不同的绝缘特征曲线上找到对应绝缘电阻率百分比为α％的点如图1，在下包络线，上包络线和平均值线上得到老化时间分别为t_m、t_n、t_f。

步骤3、假设绝缘特征曲线对应的环氧树脂样品表面最大场强为E₁，仿真计算盆式绝缘子工作时的表面的最大电场强度，记为E₂，利用公式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ，令t₁＝t_f，算出由各特征曲线折算的盆式绝缘子老化时间t₂。

步骤4、将由各特征曲线折算的盆式绝缘子老化时间与实际使用年限对比，选取最接近的一个，即为与盆式绝缘子绝缘老化趋势最接近的绝缘特征曲线。盆式绝缘子的老化趋势可由此曲线结合公式(2)确定。

盆式绝缘子的老化寿命预测模型的确立与使用如下：

对环氧树脂材料的老化特征曲线如图1所示，由经验公式可设拟合函数为：

其中z为绝缘电阻率百分数，z＝(老化时间t后的样品绝缘电阻率/未经老化的样品绝缘电阻率)×100％，y为绝缘电阻率下降百分数。

A为常数，K为与材料相关的系数，t为老化时间，δ为时间指数。

通过对绝缘老化特征曲线进行曲线拟合，可以求取拟合函数中的各待定参数。

若老化试验中选取的试验温度接近与GIS盆式绝缘子工作温度，则老化寿命预测模型可由以下方程组确定：

若老化试验选取的试验温度高于GIS盆式绝缘子工作温度，则需要补做3～4个高于GIS内部温度的温度值下的热老化加速试验，得出老化时间的对数与温度的倒数的线性关系曲线lnt＝ln A₀-E_a/RT。此时盆式绝缘子的老化寿命预测模型可由以下方程组确定：

本实施例所述的模型的意义是：对与盆式绝缘子材料相同的环氧树脂板进行电、热综合因素的人工加速老化试验，得到绝缘特征曲线，近似函数形式为然后通过使用一定年限的盆式绝缘子的绝缘电阻率测量，带入该式，配合式t₁/t₂＝(E₂/E₁)ⁿ可计算出盆式绝缘子工作场强下的老化时间；如果老化试验中设定的温度不接近GIS内部温度，则再通过老化时间与温度的关系式lnt＝lnA₀-E_a/RT可得到最终推算的盆式绝缘子的老化时间。即可以由绝缘特征曲线函数和另外两个关系式推算出盆式绝缘子绝缘电阻率百分比降为某值时的老化时间，如果知道绝缘电阻百分比降为b值时盆式绝缘子绝缘破坏，即可得到寿命终止时间(老化寿命)。

本发明通过测取绝缘失效被撤下来的盆式绝缘子的绝缘电阻率，计算绝缘电阻率百分比，作为寿命终止标志，即当环氧树脂材料老化到绝缘电阻率百分比降为此值时认为绝缘失效。

以上对本发明进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。