1.一种利用参考连接器测量被测装置(DUT)连接器的插入损耗的非接触方法，所述DUT连接器具有第一套圈，所述第一套圈具有第一光纤和第一端面，而所述参考连接器具有第二套圈，所述第二套圈具有第二光纤和第二端面，所述方法包括：
将所述第一套圈和所述第二套圈轴向对准以使所述第一端面和所述第二端面相面对并且间隔开来以界定具有轴向间隙距离d的间隙；
针对不同间隙距离d>0来测量所述第一光纤和所述第二光纤之间的所述插入损耗的值；以及
基于当d>0时所述插入损耗的所述测量值来针对d＝0的间隙距离估算所述插入损耗的值。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一套圈和所述第二套圈可操作地设置在对准构件中。
3.根据权利要求2所述的方法，其中所述对准构件包括陶瓷、金属或任何其他材料套筒。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其中对所述插入损耗的所述值的所述测量包括使光从所述第一光纤穿过所述间隙发往所述第二光纤。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中所述不同间隙距离通过将所述参考连接器相对于所述DUT连接器或将所述DUT连接器相对于所述参考连接器轴向移动来建立。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其中所述DUT连接器是选自包括以下各项的连接器组的连接器：SC、LC、MTP、MT-RJ、UPC和APC。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的方法，其进一步包括计算所述参考连接器的接触位置，在所述接触位置处，预期所述第一端面和所述第二端面进行接触。
8.根据权利要求7所述的方法，其中计算所述接触位置包括使用所述插入损耗的所述测量值的多项式外推法。
9.根据权利要求7所述的方法，其中计算所述接触位置是基于插入损耗斜率和它的第一导数和第二导数的投射。
10.根据权利要求7所述的方法，其中所述计算所述接触位置处的所述插入损耗是基于针对大于零的间隙距离的所述插入损耗对所述间隙距离的曲线拟合。
11.根据权利要求7所述的方法，其中所述计算所述接触位置处的所述插入损耗是基于针对大于零的间隙距离的所述插入损耗对所述间隙距离的线性或多项式外推法。
12.根据权利要求1-11中任一项所述的方法，其中所述插入损耗的所述测量值展现因干涉效应的测量噪声，所述方法进一步包括向所述插入损耗的所述测量值应用滤波器来减少所述测量噪声。
13.根据权利要求1-12中任一项所述的方法，其中所述第一光纤和所述第二光纤都是单模光纤或都是多模光纤。