技术总结
公开测量DUT连接器的插入损耗的非接触方法。所述DUT连接器具有第一套圈，所述第一套圈具有第一光纤和第一端面。所述方法利用参考连接器，所述参考连接器具有第二套圈，所述第二套圈具有第二光纤和第二端面。所述方法包括：将所述第一套圈和所述第二套圈轴向对准以使所述第一端面和所述第二端面相面对并且间隔开来以界定具有轴向间隙距离d的间隙；针对不同间隙距离d>0来测量所述第一光纤和所述第二光纤之间的所述插入损耗的值；以及基于当d>0时所述插入损耗的所述测量值来针对d＝0的间隙距离估算所述插入损耗的值。
技术研发人员：亚当·约瑟夫·福斯科;丹尼尔·奥赫·里基茨;詹姆斯·斯科特·萨瑟兰;尼尔·大卫·万斯;埃尔维斯·阿尔贝托·詹布拉诺
受保护的技术使用者：康宁光电通信有限责任公司
文档号码：201580050646
技术研发日：2015.07.28
技术公布日：2017.05.17