技术特征：
技术总结
本发明涉及测试领域，公开了一种电路板的智能测试方法和智能测试系统，该测试方法包含如下步骤：预先获取电路板的M个待测模块所需的测试时间，M为自然数。为每个待测模块分别配置一个测试组，每个测试组包含至少一台测试仪，测试仪用于测试本测试组对应的待测模块。其中，测试组包含的测试仪的数量与对应的待测模块所需的测试时间呈正比。在需要对电路板进行测试时，将待测电路板依次移送至各测试组内的一台测试仪，供各测试仪分别对该待测电路板的M个待测模块进行测试。采用了该智能测试方法的智能测试系统能够防止电路板在测试过程中发生积压，提高测试效率。
技术研发人员：王中华
受保护的技术使用者：沈阳晨讯希姆通科技有限公司
技术研发日：2016.02.04
技术公布日：2017.08.11