技术总结
本发明涉及一种任意交流载波下的电容特性测量设备及其测量方法，包括以下步骤：步骤S1：搭建一测量设备，先开启测量设备中的交流载波源，再开启高频激励源，测量待测量电容C，得到电压表和电流表的数据分别为uc（t），ic（t）；步骤S2：通过待测量电容C两端的电压为交流载波激励源和高频测量激励源的叠加，得出任意一时刻t时的电容C的阻抗值ZC(t)；步骤S3：对不同频率f的高频激励源进行扫频，得出电容C阻抗特性随时间t、高频激励源f的变化关系。本发明针对目前已有测量有交流偏压情况下难以测量的问题，提出了任意交流载波下电容特性测量的方法，高频激励源和低频载波源之间不会发生串扰，实现了容性负载在任意交流载波下的精确测量。
技术研发人员：陈为;陈庆彬;谢静逸;张伟豪
受保护的技术使用者：福州大学
文档号码：201610691763
技术研发日：2016.08.20
技术公布日：2016.12.07