技术总结
本发明涉及一种非球面元件的应力双折射量的测量方法，所述测量方法包括：确定非球面元件上的测试点和光源的初始位置以及根据当前测试点与非球面元件光轴的角度得到所述光源的偏转角；根据当前测试点的位置确定所述应力双折射设备的探测器的位置；根据所述探测器的位置将所述探测器移动对应的位置；通过探测器得到当前测试点的应力双折射量；通过旋转所述测试台将所述非球面元件转动到同一圆周上的多个指定角度对应测试点上，并通过探测器得到同一圆周上的多个指定角度对应测试点的多个应力双折射量；进入确定非球面元件上的测试点和光源的初始位置，根据当前测试点与光源光轴的角度得到所述光源的偏转角的步骤，直到所有的测试点测量完毕。
技术研发人员：时光;梅林;才玺坤;武潇野;贺健康;张立超;隋永新;杨怀江
受保护的技术使用者：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
技术研发日：2016.11.25
技术公布日：2018.12.04