一种时间串测量方法与流程

本发明涉及一种时间串测量方法，属于自动测试领域。

背景技术：

自动测试领域常常涉及到时间串的测量问题，即以多个通道信号中的任意一个信号的上升沿或下降沿作为起始时刻，测量多个通道信号中其他通道信号产生沿的时刻以及产生的沿的状态。现有的状态量测量装置通常通过自动测试软件来定时读取待测通道信号的状态，从而完成时间串的测量。但是，采用自动测试软件来测量时间串会影响自动测试软件的运行效率，而且自动测试软件的定时精度较低，进而导致时间串测量的分辨率低。

技术实现要素：

本发明为解决现有状态量测量装置因采用自动测试软件对时间串进行测量而导致其测量效率低和测量分辨率低的问题，提出了一种时间串测量方法。

本发明所述的时间串测量方法基于时间串测量装置实现，所述装置包括光电隔离模块1、三态缓冲模块2和DSP最小系统3；

光电隔离模块1的多个信号输入端分别为多个通道信号的输入端，光电隔离模块1的多个信号输出端分别与三态缓冲模块2的多个信号输入端相连，三态缓冲模块2的多个信号输出端均与DSP最小系统3的数据总线相连，DSP最小系统3与上位机4相连；

多个通道信号均为待测信号，DSP最小系统3包括DSP芯片；

所述方法包括：

初始化的步骤：对DSP芯片进行初始化处理；

第一读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值，所述状态值包括0和1，二者分别表示其对应的通道信号的状态为低电平和高电平；

判断起始时刻的步骤：将多个通道信号中的任意一个信号设定为起始通道信号，将上升沿或下降沿设定为起始沿，并判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当判断结果为是时，执行第一读取通道信号状态值的步骤，否则，判断起始通道信号变化过程中的状态沿是否为起始沿，当判断结果为是时，执行计数器清零的步骤，否则，执行第一读取通道信号状态值的步骤；

计数器清零的步骤：对DSP芯片内的计数器进行清零处理；

启动定时器的步骤：启动DSP芯片内定时器，并开启定时中断；

定时中断的工作模式包括：

第二读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值；

判断是否产生状态沿的步骤：分别判断多个通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当该判断的结果全部为是时，执行第二读取通道信号状态值的步骤，否则，执行记录数据步骤；

记录数据步骤：分别记录有状态沿产生的信号通道的编号、该状态沿的状态以及该状态沿对应的计数值，状态沿的状态包括上升沿和下降沿；

计算状态沿发生时刻的步骤：状态沿发生时刻等于该状态沿对应的计数值与计数器的度量值的乘积；

数据上传的步骤：将实施记录步骤所得的信号通道的编号、状态沿的状态以及实施计算状态沿发生时刻的步骤所得的状态沿发生时刻发至上位机；

计数器加一的步骤：将计数值加一。

本发明所述的方法通过所述时间串测量装置实现了对待测通道信号的状态量的获取，无需采用自动测试软件来定时读取待测通道信号的状态，因此时间串的测量效率高和测量分辨率高。

附图说明

在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明所述的时间串测量方法进行更详细的描述，其中：

图1为实施例中时间串测量装置的电气连接示意图；

图2为实施例所述的时间串测量方法的流程图；

图3为实施例中定时中断的流程图。

在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明所述的时间串测量方法作进一步说明。

实施例：下面结合图1至图3详细地说明本实施例。

本实施例所述的时间串测量方法基于时间串测量装置实现，所述装置包括光电隔离模块1、三态缓冲模块2和DSP最小系统3；

光电隔离模块1的多个信号输入端分别为多个通道信号的输入端，光电隔离模块1的多个信号输出端分别与三态缓冲模块2的多个信号输入端相连，三态缓冲模块2的多个信号输出端均与DSP最小系统3的数据总线相连，DSP最小系统3与上位机4相连；

多个通道信号均为待测信号，DSP最小系统3包括DSP芯片；

所述方法包括：

初始化的步骤：对DSP芯片进行初始化处理；

第一读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值，所述状态值包括0和1，二者分别表示其对应的通道信号的状态为低电平和高电平；

判断起始时刻的步骤：将多个通道信号中的任意一个信号设定为起始通道信号，将上升沿或下降沿设定为起始沿，并判断起始通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当判断结果为是时，执行第一读取通道信号状态值的步骤，否则，判断起始通道信号变化过程中的状态沿是否为起始沿，当判断结果为是时，执行计数器清零的步骤，否则，执行第一读取通道信号状态值的步骤；

计数器清零的步骤：对DSP芯片内的计数器进行清零处理；

启动定时器的步骤：启动DSP芯片内定时器，并开启定时中断；

定时中断的工作模式包括：

第二读取通道信号状态值的步骤：通过DSP芯片同时读取多个通道信号的状态值；

判断是否产生状态沿的步骤：分别判断多个通道信号的当前状态值与上一状态值是否一致，当该判断的结果全部为是时，执行第二读取通道信号状态值的步骤，否则，执行记录数据步骤；

记录数据步骤：分别记录有状态沿产生的信号通道的编号、该状态沿的状态以及该状态沿对应的计数值，状态沿的状态包括上升沿和下降沿；

计算状态沿发生时刻的步骤：状态沿发生时刻等于该状态沿对应的计数值与计数器的度量值的乘积；

数据上传的步骤：将实施记录步骤所得的信号通道的编号、状态沿的状态以及实施计算状态沿发生时刻的步骤所得的状态沿发生时刻发至上位机；

计数器加一的步骤：将计数值加一。

本实施例中的光电隔离模块采用TLP521型号的芯片实现，该模块用于测试通道与所述时间串测量装置之间的信号隔离，提高待测通道信号的抗干扰性。

本实施例中的三态缓冲模块采用74HC540型号的芯片实现，该模块用于待测通道信号与DSP最小系统总线信号之间的三态缓冲。

本实施例中的DSP芯片为SM320DM642AGDK型号的芯片，该芯片为所述时间串测量装置的主控器，用于实现时间串的测量以及与上位机的PCI之间进行通信。

所述时间串测量装置的技术指标如下：

待测通道信号的幅值范围：0V至30V；

待测通道信号的频率范围：0Hz至10MHz；

待测通道信号的最大脉冲间隔：60s；

时间分辨率：10μs；

所述时间串测量装置能够有效地进行16路通道的时间串测量，测量分辨率高，能够满足自动测试系统对时间串测量的要求。

所述初始化的步骤用于配置DSP芯片的寄存器，DSP芯片内程序变量的额初始化，确保DSP芯片在预设的模式下正常工作。

本实施例所述的方法基于硬件采集待测通道信号，采用DSP最小系统进行高精度定时，实现了对时间串的测量，从而提高时间串测量的分辨率，减少自动测试软件在时间串测量中的软件开销。

虽然在本文中参照了特定的实施方式来描述本发明，但是应该理解的是，这些实施例仅是本发明的原理和应用的示例。因此应该理解的是，可以对示例性的实施例进行许多修改，并且可以设计出其他的布置，只要不偏离所附权利要求所限定的本发明的精神和范围。应该理解的是，可以通过不同于原始权利要求所描述的方式来结合不同的从属权利要求和本文中所述的特征。还可以理解的是，结合单独实施例所描述的特征可以使用在其他所述实施例中。