技术总结
本发明提供一种TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，包括：在生物芯片上设定一定长度的校准线，通过判断扫描到的校准线图像的长度来判断TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度是否失配，并据此调整扫描速度，使得TDI‑CMOS荧光检测仪器的工作时序与扫描速度扫描幅度严格配合。本发明的TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法可高效地检测生物芯片中的微弱荧光信号并形成高分辨率的图像，促进生物研究的发展。
技术研发人员：汪辉;封松林
受保护的技术使用者：中国科学院上海高等研究院
文档号码：201611122207
技术研发日：2016.12.08
技术公布日：2017.05.31