圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置与流程

本发明涉及显示面板检测领域，尤其涉及一种圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置。

背景技术：

随着显示技术的发展，液晶显示面板(Liquid Crystal Display，LCD)与有机发光二极管显示面板(Organic Light Emitting Diode，OLED)等平板显示器件已经逐步取代CRT显示器。

LCD面板具有厚度薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛地应用：如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。

OLED面板具有自发光、驱动电压低、发光效率高、响应时间短、清晰度与对比度高、近180°视角、使用温度范围宽，可实现柔性显示与大面积全色显示等诸多优点，被业界公认为最有发展潜力。

然而，当在户外或在室内强光下使用LCD面板或OLED面板时，经常会因为外界光线过强，面板所显示的影像画面无法发挥较佳的能见度，造成用户无法清楚地观看该影像画面，此外，面板表面还会因强光反射而映出强光的影像，进一步破坏了用户的观赏体验，且不利于用户的眼睛健康。

为解决上述问题，在显示面板表面贴附圆偏光片的圆偏光面板应运而生。圆偏光片是一种由直线偏光片和1/4波长的光学延迟片组成的光学元件，能够将入射的自然光转变为偏光光轴随光的前行而呈螺旋变化的圆偏振光。圆偏光面板可以提高影像的清晰度和表现力，消除有害的反射光，且具有健康护眼效果。

目前，对圆偏光面板成品效果的检测，尤其是对面板圆偏光特性的检测，尚未有较好的方法。

现有的圆偏光检测设备价格高，仅能逐一测量单个波长，且仅能测试透光的样品，无法准确测试现有的圆偏光面板产品。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种圆偏光面板检测方法，能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。

本发明的另一目的在于提供一种圆偏光面板检测装置，利用该装置能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性。

为实现上述目的，本发明首先提供一种圆偏光面板检测方法，包括如下步骤：

步骤S1、提供待检测的圆偏光面板、及置于圆偏光面板出光侧的圆偏光面板检测装置；

所述圆偏光面板检测装置包括检偏器、及置于检偏器后方的光谱仪；

所述检偏器包括偏光片、及快轴方向与偏光片的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片；

步骤S2、开启圆偏光面板使其发光，以一预设角度为间隔旋转检偏器内的偏光片，光线经偏光片与退偏滤片进入光谱仪，每旋转一次偏光片，使用光谱仪测量一次全光谱；

步骤S3、根据光谱仪测量到的全光谱数据计算相对均方根偏差最小的波长λ0，得到圆偏光波长。

所述圆偏光面板检测方法还包括步骤S4、计算圆偏光延迟量值、及波长延迟量值。

所述步骤S4中计算圆偏光延迟量值使用的计算公式为：

当λ≤λ0时；

当λ>λ0时；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分别为波长λ0的光随检偏器内的偏光片的角度变化时测量到光谱辐射强度的最大值、最小值；

θ为圆偏光延迟量值；S_λ(min)、S_λ(max)分别为任一波长λ的可见光随检偏器内的偏光片的角度变化时测量到的光谱辐射强度的最大值、最小值；

所述步骤S4中计算波长延迟量值使用的计算公式为：

其中，Re为波长延迟量值，θ为圆偏光延迟量值，λ为可见光的任一波长。

所述偏光片的光轴方向与退偏滤片的快轴方向呈+45°、或-45°的夹角。

所述步骤S2以5°或10°为间隔旋转检偏器内的偏光片。

所述光谱仪为光纤光谱仪，其光纤末端设置有积分球。

本发明还提供一种圆偏光面板检测装置，包括检偏器、及置于检偏器后方的光谱仪；

所述检偏器包括偏光片、及快轴方向与偏光片的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片；所述偏光片能够以一预设角度为间隔旋转。

所述偏光片的光轴方向与退偏滤片的快轴方向呈+45°、或-45°的夹角。

所述偏光片能够以5°或10°为间隔旋转。

所述光谱仪为光纤光谱仪，其光纤末端设置有积分球。

本发明的有益效果：本发明提供的一种圆偏光面板检测方法，根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器内的偏光片，圆偏光面板发出的光线经偏光片与退偏滤片进入光谱仪，每旋转一次偏光片，使用光谱仪测量一次全光谱，然后根据光谱仪测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。本发明提供的一种圆偏光面板检测装置，设置有检偏器、及光谱仪，检偏器内的偏光片能够以一预设角度为间隔旋转，光谱仪配合偏光片的旋转来测量全光谱，能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性。

附图说明

为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。

附图中，

图1为本发明的圆偏光面板检测方法的流程图；

图2为本发明的圆偏光面板检测装置的示意简图；

图3为本发明的圆偏光面板检测装置中检偏器的结构简图；

图4为本发明的圆偏光面板检测装置的检偏器中偏光片的光轴方向与退偏滤片快轴方向呈固定角度夹角的示意图；

图5为本发明的圆偏光面板检测方法的步骤S3的示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。

请参阅图1，本发明首先提供一种圆偏光面板检测方法，包括如下步骤：

步骤S1、结合图2，提供待检测的圆偏光面板1、及置于圆偏光面板1出光侧的圆偏光面板检测装置；

所述圆偏光面板检测装置包括检偏器3、及置于检偏器3后方的光谱仪5。

如图3与图4所示，所述检偏器3包括偏光片31、及快轴方向与偏光片31的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片33，优选的所述偏光片31的光轴方向与退偏滤片33的快轴方向呈+45°、或-45°的夹角。

步骤S2、开启圆偏光面板1使其发光，以一预设角度为间隔旋转检偏器3内的偏光片31，光线经偏光片31与退偏滤片33进入光谱仪5，每旋转一次偏光片31，使用光谱仪5测量一次全光谱。

具体地，该步骤S2优选以5°或10°为间隔旋转检偏器3内的偏光片31。

所述光谱仪5可以是任意类型的光谱仪。若该光谱仪5为光纤光谱仪，则在其光纤末端设置积分球来提高光谱仪5的再现性。

步骤S3、请参阅图5，根据光谱仪5测量到的全光谱数据计算相对均方根偏差最小的波长λ0，此波长下的光最接近圆偏光，也就相当于得到了圆偏光波长。以及步骤S4、计算圆偏光延迟量值、及波长延迟量值。

具体地，该步骤S4中计算圆偏光延迟量值使用的计算公式为：

当λ≤λ0时；

当λ>λ0时；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分别为波长λ0随检偏器3内的偏光片31的角度变化时测量到光谱辐射强度的最大值、最小值；

θ为圆偏光延迟量值；S_λ(min)、S_λ(max)分别为任一波长λ的可见光随检偏器3内的偏光片31的角度变化时测量到的光谱辐射强度的最大值、最小值；

该步骤S4中计算波长延迟量值使用的计算公式为：

其中，Re为波长延迟量值，θ为圆偏光延迟量值，λ为可见光的任一波长。

本发明的圆偏光面板检测方法，根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器3内的偏光片31，圆偏光面板1发出的光线经偏光片31与退偏滤片32进入光谱仪5，每旋转一次偏光片31，使用光谱仪5测量一次全光谱，然后根据光谱仪5测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板1的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。

请同时参阅图2、图3、与图4，本发明还提供一种圆偏光面板检测装置，包括检偏器3、及置于检偏器3后方的光谱仪5。

所述检偏器3包括偏光片31、及快轴方向与偏光片31的光轴方向呈一固定角度，优选+45°、或-45°的夹角的退偏滤片33；所述偏光片31能够以一预设角度，优选5°或10°为间隔旋转。

所述光谱仪5可以是任意类型的光谱仪。若该光谱仪5为光纤光谱仪，则在其光纤末端设置积分球来提高光谱仪5的再现性。

当检偏器3内的偏光片31以一预设角度为间隔旋转时，每旋转一次偏光片31便使用光谱仪5测量一次全光谱。

根据光谱仪5测量到的全光谱数据计算相对均方根偏差最小的波长λ0即得到圆偏光波长；

还可以使用以下公式来计算圆偏光延迟量值：

当λ≤λ0时；

当λ>λ0时；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分别为波长λ0随检偏器3内的偏光片31的角度变化时测量到光谱辐射强度的最大值、最小值；

θ为圆偏光延迟量值；S_λ(min)、S_λ(max)分别为任一波长λ的可见光随检偏器3内的偏光片31的角度变化时测量到的光谱辐射强度的最大值、最小值。

以及可以使用以下公式来计算波长延迟量值：

其中，Re为波长延迟量值，θ为圆偏光延迟量值，λ为可见光的任一波长。

因此，本发明的圆偏光面板检测装置通过光谱仪配合检偏器内偏光片的旋转来测量全光谱，能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性。

综上所述，本发明的圆偏光面板检测方法，根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器内的偏光片，圆偏光面板发出的光线经偏光片与退偏滤片进入光谱仪，每旋转一次偏光片，使用光谱仪测量一次全光谱，然后根据光谱仪测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。本发明的圆偏光面板检测装置，设置有检偏器、及光谱仪，检偏器内的偏光片能够以一预设角度为间隔旋转，光谱仪配合偏光片的旋转来测量全光谱，能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。