圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置与流程

技术特征：

1.一种圆偏光面板检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤S1、提供待检测的圆偏光面板(1)、及置于圆偏光面板(1)出光侧的圆偏光面板检测装置；

所述圆偏光面板检测装置包括检偏器(3)、及置于检偏器(3)后方的光谱仪(5)；

所述检偏器(3)包括偏光片(31)、及快轴方向与偏光片(31)的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片(33)；

步骤S2、开启圆偏光面板(1)使其发光，以一预设角度为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)，光线经偏光片(31)与退偏滤片(33)进入光谱仪(5)，每旋转一次偏光片(31)，使用光谱仪(5)测量一次全光谱；

步骤S3、根据光谱仪(5)测量到的全光谱数据计算相对均方根偏差最小的波长λ0，得到圆偏光波长。

2.如权利要求1所述的圆偏光面板检测方法，其特征在于，还包括步骤S4、计算圆偏光延迟量值、及波长延迟量值。

3.如权利要求2所述的圆偏光面板检测方法，其特征在于，所述步骤S4中计算圆偏光延迟量值使用的计算公式为：

当λ≤λ0时；

当λ>λ0时；

其中：

S_λ0(min)、S_λ0(max)分别为波长λ0的光随检偏器(3)内的偏光片(31)的角度变化时测量到光谱辐射强度的最大值、最小值；

θ为圆偏光延迟量值；S_λ(min)、S_λ(max)分别为任一波长λ的可见光随检偏器(3)内的偏光片(31)的角度变化时测量到的光谱辐射强度的最大值、最小值；

所述步骤S4中计算波长延迟量值使用的计算公式为：

$\mathrm{Re}=\frac{\mathrm{\θ}}{2\mathrm{\π}}\·\mathrm{\λ}$

其中，Re为波长延迟量值，θ为圆偏光延迟量值，λ为可见光的任一波长。

4.如权利要求1所述的圆偏光面板检测方法，其特征在于，所述偏光片(31)的光轴方向与退偏滤片(33)的快轴方向呈+45°、或-45°的夹角。

5.如权利要求1所述的圆偏光面板检测方法，其特征在于，所述步骤S2以5°或10°为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)。

6.如权利要求1所述的圆偏光面板检测方法，其特征在于，所述光谱仪(5)为光纤光谱仪，其光纤末端设置有积分球。

7.一种圆偏光面板检测装置，其特征在于，包括检偏器(3)、及置于检偏器(3)后方的光谱仪(5)；

所述检偏器(3)包括偏光片(31)、及快轴方向与偏光片(31)的光轴方向呈一固定角度夹角的退偏滤片(33)；所述偏光片(31)能够以一预设角度为间隔旋转。

8.如权利要求7所述的圆偏光面板检测装置，其特征在于，所述偏光片(31)的光轴方向与退偏滤片(33)的快轴方向呈+45°、或-45°的夹角。

9.如权利要求7所述的圆偏光面板检测装置，其特征在于，所述偏光片(31)能够以5°或10°为间隔旋转。

10.如权利要求7所述的圆偏光面板检测装置，其特征在于，所述光谱仪(5)为光纤光谱仪，其光纤末端设置有积分球。