技术总结
本发明提供一种圆偏光面板检测方法及圆偏光面板检测装置。该圆偏光面板检测方法根据波长分散性的原理，以一预设角度为间隔旋转检偏器(3)内的偏光片(31)，圆偏光面板(1)发出的光线经偏光片(31)与退偏滤片(33)进入光谱仪(5)，每旋转一次偏光片(31)，使用光谱仪(5)测量一次全光谱，然后根据光谱仪(5)测量到的全光谱数据便能够计算得到圆偏光波长、及圆偏光延迟量值，从而能够较快速准确地测量面板的圆偏光特性，对圆偏光面板品质进行评估，有效监控圆偏光面板模组制程。
技术研发人员：徐亮;林奇颖
受保护的技术使用者：武汉华星光电技术有限公司
文档号码：201611230328
技术研发日：2016.12.27
技术公布日：2017.05.17