天线罩测试装置的制作方法

文档序号:11987269阅读:488来源:国知局
天线罩测试装置的制作方法

本实用新型涉及通信测试技术领域,具体而言,涉及一种天线罩测试装置。



背景技术:

现有技术中的天线罩测试转台一般设置有方位转台1’、俯仰支撑架2’、俯仰轴、天线罩支架3’、天线罩极化转环4’、天线支架5’、天线方位轴、天线俯仰轴等机构。其中,如图1所示,方位转台1’安置在最下端,可带动转台整体绕着方位轴转动,用于天线罩方位角度调节以及方位扫描。俯仰支撑架2’安装在转台上,是天线罩的主要承力构件。俯仰轴安装在俯仰支架上,俯仰臂6’安装俯仰轴上,天线罩支架3’紧固连接在俯仰臂6’上,俯仰轴可带动俯仰臂6’和天线罩支架3’俯仰转动,用于天线罩俯仰角度调节。在天线罩支架上安装有天线罩极化转环4’,天线罩通过工装可以安装在天线罩极化转环4’上,天线罩极化转4’环可带动天线罩绕着其自身的天线罩极化轴转动,用于实现天线罩的横滚运动。天线支架5’安装在俯仰支撑架2’上,布置在天线罩支架3’后方,是天线的主要承力构件。天线方位轴安装在天线支架上端,天线俯仰轴安装在天线方位轴上,天线安装在天线俯仰轴上,天线方位轴的转动可同时带动天线俯仰轴和天线进行方位转动,天线俯仰轴只带动天线进行俯仰转动。天线方位轴和天线俯仰轴构成万向结构,进而使得天线能够在平面内的一定范围内朝任意方向摆动。现有技术中的天线罩测试转台有以下问题:

通过天线罩的方位俯仰、天线的方位俯仰运动组合,可实现天线罩的方向图、透波率以及瞄准误差测试。但对于任意角度上带瞄准误差的方向图、透波率测试需求,现有技术中的天线罩测试转台存在结构缺陷。具体地,当测试转台1’进行方位修正时,方位转台1’只能够进行在水平面方向上的方位转动,而不能实现天线罩在特定俯仰方向上的方位转动。因此,由于缺少相应的调节运动轴,接收天线极化方向不能转到与发射天线极化方向正对的角度,导致测试结果失真。



技术实现要素:

本实用新型的主要目的在于提供一种天线罩测试装置,以解决现有技术中的天线罩测试装置结构设计不合理,进而使得天线罩测试装置在进行带瞄准误差的测试时测试结果失真的问题。

为了实现上述目的,本实用新型提供了一种天线罩测试装置,包括:转动支架,转动支架绕第一轴线可转动的设置;第一转臂,可枢转地设置在转动支架上,第一转臂能够绕第二轴线转动;第二转臂,可枢转地设置在第一转臂上,第二转臂能够绕第三轴线转动;测试连接部,设置在第二转臂上。

进一步地,第二轴线和第三轴线垂直。

进一步地,转动支架包括绕第一轴线可转动设置的转台及固定设置在转台上的固定臂。

进一步地,固定臂为弯折状或者弯曲状。

进一步地,第一转臂为弯折状或者弯曲状。

进一步地,固定臂的第一端与转台连接,第一转臂的第一端可枢转地连接在固定臂的第二端,第二转臂的第一端可枢转地连接在第一转臂的第二端。

进一步地,固定臂为U型结构,第一转臂为U型结构,固定臂的底部固定在转台上。

进一步地,第二转臂可枢转地连接在第一转臂的中部。

进一步地,测试连接部包括:天线罩支架,连接在第二转臂上,天线罩支架包括定位环。

进一步地,测试连接部还包括:天线支架,连接在第二转臂上,定位环套设在天线支架外。

进一步地,第二转臂上设置有第一滑轨,天线罩支架还包括第一滑块,第一滑块可移动地设置在第一滑轨上,定位环设置在第一滑块上。

进一步地,天线罩支架还包括转环,转环可转动地设置在定位环上,转环和定位环同轴设置。

进一步地,天线支架包括:连杆,连杆包括互相连接并且互成角度的第一连杆和第二连杆,其中,第一连杆的端部连接在第二转臂的远离第一转臂的端部,第二连杆与第二转臂相互平行,第二连杆上设置有第二滑轨;第二滑块,可移动地设置在第二滑轨上,其中,定位环套设在第二连杆和第二滑块外。

进一步地,测试连接部还包括:十字轴,十字轴连接在第二滑块的端部。

进一步地,第二转臂通过固定座连接在第一转臂上。

应用本实用新型的技术方案,当天线罩测试装置进行带瞄准误差的测试时,第一转臂在俯仰角度上进行转动,此时第二转臂被第一转臂带动一同运动。然后第二转臂转动并带动测试结构进行方位转动。上述的方位转动是在测试结构转动至特定俯仰角度时进行的方位转动,因此在带瞄准误差的测试时能够准确的进行方向正对操作。因此本实用新型的技术方案解决了现有技术中的天线罩测试装置结构设计不合理,进而使得天线罩测试装置在进行带瞄准误差的测试时测试结果失真的问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解,本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中:

图1示出了现有技术中的天线罩测试装置的结构示意图;

图2示出了根据本实用新型的天线罩测试装置的实施例一的结构示意图;

图3示出了图2中天线罩测试装置的A处放大示意图;

图4示出了图2中天线罩测试装置的天线调整角度后的结构示意图;

图5示出了图4中的B处放大示意图;

图6示出了根据本实用新型的天线罩测试装置的实施例二的结构示意图;以及

图7示出了图6中天线罩测试装置与天线罩装配后的结构示意图。

其中,上述附图包括以下附图标记:

1’、方位转台;2’、俯仰支撑架;3’、天线罩支架;4’、天线罩极化环;5’、天线支架;6’、俯仰臂;10、转动支架;11、转台;12、固定臂;30、第一转臂;40、第二转臂;41、第一滑轨;50、测试连接部;51、天线支架;511、第一连杆;512、第二连杆;513、第二滑轨;514、第二滑块;52、天线罩支架;521、定位环;522、第一滑块;523、转环;53、天线;60、十字轴;70、固定座。

具体实施方式

需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本实用新型。

下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的,决不作为对本申请及其应用或使用的任何限制。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。

需要注意的是,这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式,而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的,除非上下文另外明确指出,否则单数形式也意图包括复数形式,此外,还应当理解的是,当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时,其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。

除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时,应当明白,为了便于描述,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论,但在适当情况下,所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中,任何具体值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。因此,示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

在本申请的描述中,需要理解的是,方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本申请和简化描述,在未作相反说明的情况下,这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本申请保护范围的限制;方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

为了便于描述,在这里可以使用空间相对术语,如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等,用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是,空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如,如果附图中的器件被倒置,则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而,示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位),并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

此外,需要说明的是,使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件,仅仅是为了便于对相应零部件进行区别,如没有另行声明,上述词语并没有特殊含义,因此不能理解为对本申请保护范围的限制。

如图2所示,实施例一中的天线罩测试装置包括转动支架10、第一转臂30、第二转臂40和测试连接部50。其中,转动支架10,转动支架10绕第一轴线可转动的设置,第一转臂30可枢转地设置在转动支架10上,第一转臂30能够绕第二轴线转动。第二转臂40可枢转地设置在第一转臂30上,第二转臂40能够绕第三轴线转动。测试连接部50设置在第二转臂40上。

应用本实施例的技术方案,当天线罩测试装置进行带瞄准误差的测试时,第一转臂30在俯仰角度上进行转动,此时第二转臂40被第一转臂30带动一同运动。然后第二转臂40转动并带动测试结构进行方位转动。上述的方位转动是在测试连接部50转动至特定俯仰角度时进行的方位转动,因此在带瞄准误差的测试时能够准确的进行方向正对操作。因此本实用新型实施例的技术方案解决了现有技术中的天线罩测试装置结构设计不合理,进而使得天线罩测试装置在进行带瞄准误差的测试时测试结果失真的问题。

如图2所示,在实施例一的技术方案中,第二轴线和第三轴线垂直。具体地,在本领域技术中,天线罩测试装置的天线罩运动机构分为俯仰扭转臂和方位扭转臂。因此在实施例一中,第一转臂30的第二轴线朝水平方向延伸,第一转臂30即为俯仰扭转臂。第二转臂40的第三轴线的位置是变化的,具体地,当天线罩安装在天线罩测试装置上后,第二转臂40的第三轴线和天线罩的中心轴线垂直的。由于第二转臂40随第一转臂30一同运动,因此在第一转臂30的运动的过程中,第二转臂40的轴线的角度变化和第一转臂30的俯仰角度相同。第二转臂40能够带动测试连接部50在任意俯仰角度下进行方位摆动,因此第二转臂40即为方位扭转臂。

如图2所示,在实施例一的技术方案中,转动支架10包括绕第一轴线可转动设置的转台11及固定设置在转台11上的固定臂12。具体地,在实施例一中,转台11作为旋转结构,用于调整测试连接部50的整体方位。固定臂12固定设置在转台11上,也即固定臂12能够随着转台11同步转动,同时固定臂12主要作为支撑结构。当然,转动支架10也可以有其他实施方式,例如转动支架10包括一个固定台以及设置在固定台上的转动臂,或者仅设置一个转动臂结构。转动支架10的具体结构本领域技术人员可以根据实际工作需要来设计。

如图2所示,固定臂12为弯折状或者弯曲状,第一转臂30为弯折状或者弯曲状。具体地,上述的弯折状是指,由至少两端直线组成的结构,例如“L”形结构。弯曲状是指,由平滑曲线组成的形状,例如“U”型。在实施例一的技术方案中,固定臂12第一转臂30均是由三个杆段形成的弯折状结构。以固定臂12来说,固定臂包括第一臂段、第二臂段以及连接在第一臂段和第二臂段之间的第三臂段。其中,第一臂段、第二臂段和第三臂段之间互成夹角。上述的夹角大致在120度至150度之间,同时,当固定臂12安装在转台11上后,第一臂段沿水平方向延伸,第二臂段沿竖直方向延伸。第一转臂30的形状和固定臂12大致相同,区别在于第一转臂30的竖直臂段的长度稍小于固定臂12的竖直臂段,进而防止当第一转臂30摆动时,测试连接部50与转台11发生碰撞干涉。

如图2所示,在实施例一的技术方案中,固定臂12的第一端与转台11连接,第一转臂30的第一端可枢转地连接在固定臂12的第二端,第二转臂40的第一端可枢转地连接在第一转臂30的第二端。通过上述对于固定臂12和第一转臂30的结构描述可以理解,固定臂12的水平臂段的端部连接在转台11上,第一转臂30的竖直臂段的端部连接在固定臂12的竖直臂段的端部,第二转臂40的端部连接在第一转臂30的水平臂段的端部。本实施例中的第二转臂40为直杆结构,直杆结构的长度要小于第二转臂40的水平臂段的长度。上述结构使得第一转臂30和第二转臂40的运动空间充裕,防止各个结构之间发生干涉。

如图3所示,在实施例一的技术方案中,测试连接部50包括天线罩支架52,天线罩支架52连接在第二转臂40上,天线罩支架52包括定位环521。具体地,第一转臂30控制天线罩支架52的俯仰角度,第二转臂40控制天线罩支架52的方位角度。定位环用于对天线罩进行固定。进行测试时,第一转臂30和第二转臂40对天线罩进行位姿调整。

如图3所示,在实施例一的技术方案中,测试连接部50还包括天线支架51。天线支架51连接在第二转臂40上,定位环521套设在天线支架51外。具体地,由于天线罩支架52和天线支架51均连接在第二转臂40上,因此天线罩支架52和天线支架51是同步进行运动的。也即第一转臂30会调整天线支架51的俯仰角度,第二转臂40会调整天线支架51的方位角度。

如图3所示,在实施例一的技术方案中,第二转臂40上设置有第一滑轨41,天线罩支架52还包括第一滑块522。第一滑块522可移动地设置在第一滑轨41上,定位环521设置在第一滑块522上。具体地,定位环521可以沿着第一滑轨41进行滑动,也即定位环521沿着其中心轴线方向改变和天线支架51之间的相对位置,从而满足测试需求。

如图3所示,在实施例一的技术方案中,天线罩支架52还包括转环523,转环523可转动地设置在定位环521上,转环523和定位环521同轴设置。具体地,上述结构能够实现天线罩沿其中心轴线做转动运动,从而满足测试需求。

如图3所示,在实施例一的技术方案中,天线支架51包括连杆和第二滑块514。连杆包括互相连接并且互成角度的第一连杆511和第二连杆512,其中,第一连杆511的端部连接在第二转臂40的远离第一转臂30的端部,第二连杆512与第二转臂40相互平行,第二连杆512上设置有第二滑轨513。第二滑块514可移动地设置在第二滑轨513上,其中,定位环521套设在第二连杆512和第二滑块514外。具体地,连杆通过第一连杆511和第二连杆512形成L型结构,第二连杆512和第二转臂40平行,同时第一连杆511的两端分别连接在第二转臂40和第二连杆512之间。第二滑块514为长条形结构,同时第二滑块514和第二连杆512平行。上述结构能够实现天线53的伸缩运动。

如图4和图5所示,在实施例一的技术方案中,测试连接部50还包括十字轴60,十字轴60连接在第二滑块514的端部。具体地,天线53通过十字轴60连接在第二滑块514上,十字轴60作为本领域常用的万向结构能够实现天线53在一定方位内的扫动。其中,十字轴60的竖直轴作为天线53的方位运动轴,十字轴60的水平轴作为天线53的俯仰运动轴。

如图2所示,在实施例一的技术方案中,第二转臂40通过固定座70连接在第一转臂30上。上述固定座70为圆形固定座,固定座70便于第二转臂40的安装。

下面将介绍本申请的天线罩测试装置的测试方法:

初始状态下,天线53指向天线罩正前方,极化方向垂直;通过设置天线俯仰轴和天线方位轴(十字轴60)的角度,可将天线53的指向设定在扫描范围内任意指定的空间角度位置上(此时天线53指向天线罩某一指定的位置),用以模拟机械扫描雷达的实际工作状态。根据天线俯仰轴和天线方位轴先前的转动角度,通过相应反向等量地转动俯仰轴(第一转臂30)和方位调节轴(第二转臂40),可以将天线53和天线罩同时一起转动到天线的初始方向,而且天线的极化方向是初始状态的垂直方向,然后通过方位转台和俯仰轴的转动与仪表进行配合,进行寻零修正,此时指定天线角度的瞄准误差就完成修正,可以进入天线罩测试步骤。

如图6和图7所示,根据本申请的实施例二的天线罩测试结构和实施例一的区别在于,固定臂12为U型结构,第一转臂30为U型结构,固定臂12的底部固定在转台11上,第一转臂30的第一端可枢转地连接在固定臂12的第一端,第一转臂30的第二端可枢转地连接在固定臂12的第二端。具体地,上述的U型结构是指两边高中间凹陷的杆状结构。因此有多个直杆构成的U型结构,或者由平滑曲线构成的U型结构均在上述的U型结构的范围内。实施例二中的天线罩测试结构和实施例一相比结构更加的稳定。同时优选地,第二转臂40可枢转地连接在第一转臂30的中部,进而使得当第二转臂40在枢转时测试结构整体保持受力平衡。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,对于本领域的技术人员来说,本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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