本实用新型涉及温度校验仪领域，具体涉及一种新型温度校验仪。
背景技术：
温度校验仪，在工业现场的使用过程中，很多工业都涉及到温度这一块，而温度一般都使用现场传感器(PT100热电阻、热电偶等)和现场显示仪表(数显表、温控器、记录仪等)来测量。在长期的使用过程中，检测的仪表的精度可能会慢慢的降低，从而影响到产品的质量、生产等等。而如果这些仪表重新拆下来再返回厂家检测，这样又比较的麻烦，所以需要一款精度比较高的校验仪来检测他们的精度。
技术实现要素：
针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种新型温度校验仪。
本实用新型解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：一种新型温度校验仪，包括壳体，其中所述壳体的上表面转轴，转轴上设有转盘，转盘的上表面设有凹孔，凹孔内设有连接架，连接架包括第一立柱、第二立柱与横杆，其中第一立柱与第二立柱铰接在凹孔上，第一立柱与第二立柱表面上均设有螺纹，第一立柱上设有滑块，滑块内设有转动连接的第一螺母，第一螺母螺纹连接在第一立柱上，横杆的一端铰接在滑块上靠近第二立柱的一侧上，第二立柱上设有锁紧块，锁紧块内设有转动连接的第二螺母，第二螺母螺纹连接在第二立柱上，锁紧块在靠近所第二立柱一侧的侧面与底面之间设有向下的连接槽，连接槽的内壁上设有磁性涂层，横杆在靠近第一立柱的一端设有磁性的定位块，定位孔磁性连接在连接槽内。
优选的，所述锁紧块在远离所述第一立柱的一侧设有铰接的支架，支架的中间设有卡槽。
优选的，所述横杆的下表面上设有弹性块。
优选的，所述第一立柱与所述第二立柱的顶端设有挡块。
优选的，所述横杆的上表面上设有一行凹槽。
有益效果是：本温度校验仪的顶端上设有连接架，连接架可以将本温度校验仪固定在任意位置，更加方便使用。本温度校验仪的壳体上有转盘，转盘上有连接架，连接架是可以在转盘上转动，连接架是通过第一立柱、第二立柱与横杆组成的，锁紧块与滑块通过第一螺母与第二螺母上下滑动，滑块上的横杆也就随之上下滑动。横杆在第一立杆与第二立杆的作用下向下挤压固定定位面，弹性块可以适应不同的定位面。此外，支架可以放置温度校验仪的电笔，横杆上的凹槽可以收纳温度校验仪的导线。
附图说明
图1为本实用新型一种新型温度校验仪的结构示意图；
其中1，壳体；2，转轴；3，转盘；4，凹孔；5，挡块；6，第一立柱；7，第二立柱；8，横杆；9，滑块；10，第一螺母；11，锁紧块；12，第二螺母；13，连接槽；14，定位块；15，支架；16，弹性块；17，凹槽。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施方式。
图1出示本实用新型一种新型温度校验仪的具体实施方式：一种新型温度校验仪，包括壳体1，其中所述壳体1的上表面转轴2，转轴2上设有转盘3，转盘3的上表面设有凹孔4，凹孔4内设有连接架，连接架包括第一立柱6、第二立柱7与横杆8，其中第一立柱6与第二立柱7铰接在凹孔4上，第一立柱6与第二立柱7表面上均设有螺纹，第一立柱6上设有滑块9，滑块9内设有转动连接的第一螺母10，第一螺母10螺纹连接在第一立柱6上，横杆8的一端铰接在滑块9靠近第二立柱7的一侧上，第二立柱7上设有锁紧块11，锁紧块11内设有转动连接的第二螺母12，第二螺母12螺纹连接在第二立柱7上，锁紧块11在靠近所第二立柱7一侧的侧面与底面之间设有向下的连接槽13，连接槽13的内壁上设有磁性涂层，横杆8在靠近第一立柱6的一端设有磁性的定位块14，定位孔磁性连接在连接槽13内。
值得注意的是，所述锁紧块11在远离所述第一立柱6的一侧设有铰接的支架15，支架15的中间设有卡槽。所述横杆8的下表面上设有弹性块16。所述第一立柱6与所述第二立柱7的顶端设有挡块5。所述横杆8的上表面上设有一行凹槽17。
基于上述，本温度校验仪的顶端上设有连接架，连接架可以将本温度校验仪固定在任意位置，更加方便使用。本温度校验仪的壳体1上有转盘3，转盘3上有连接架，连接架是可以在转盘3上转动，连接架是通过第一立柱6、第二立柱7与横杆8组成的，锁紧块11与滑块9通过第一螺母10与第二螺母12上下滑动，滑块9上的横杆8也就随之上下滑动。横杆8在第一立杆与第二立杆的作用下向下挤压固定定位面，弹性块16可以适应不同的定位面。此外，支架15可以放置温度校验仪的电笔，横杆8上的凹槽17可以收纳温度校验仪的导线。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。