1.一种新型温度校验仪，包括壳体，其特征在于：所述壳体的上表面转轴，转轴上设有转盘，转盘的上表面设有凹孔，凹孔内设有连接架，连接架包括第一立柱、第二立柱与横杆，其中第一立柱与第二立柱铰接在凹孔上，第一立柱与第二立柱表面上均设有螺纹，第一立柱上设有滑块，滑块内设有转动连接的第一螺母，第一螺母螺纹连接在第一立柱上，横杆的一端铰接在滑块上靠近第二立柱的一侧上，第二立柱上设有锁紧块，锁紧块内设有转动连接的第二螺母，第二螺母螺纹连接在第二立柱上，锁紧块在靠近所第二立柱一侧的侧面与底面之间设有向下的连接槽，连接槽的内壁上设有磁性涂层，横杆在靠近第一立柱的一端设有磁性的定位块，定位孔磁性连接在连接槽内。
2.根据权利要求1所述一种新型温度校验仪，其特征在于：所述锁紧块在远离所述第一立柱的一侧设有铰接的支架，支架的中间设有卡槽。
3.根据权利要求1所述一种新型温度校验仪，其特征在于：所述横杆的下表面上设有弹性块。
4.根据权利要求1所述一种新型温度校验仪，其特征在于：所述第一立柱与所述第二立柱的顶端设有挡块。
5.根据权利要求1所述一种新型温度校验仪，其特征在于：所述横杆的上表面上设有一行凹槽。