技术总结
本实用新型公开了一种PIN针式背光源测试治具，包括底板，底板上设置有一组定位通孔，定位通孔内装置有引脚夹具，引脚夹具为套管结构；套管结构的内壁设置有若干缺口，缺口内设置有夹持结构，夹持结构的底部直径大于缺口口部的直径；夹持结构的外壁始终和缺口相接；套管结构的外侧壁设置有螺钉，螺钉的螺柱部分贯穿套管结构外壁深入缺口，螺柱上套设置有回位压簧，回位压簧的两端分别和套管内壁、夹持结构内壁相抵；底板的底部设置有和套管结构相接的测试导线。本实用新型能够有效解决现有PIN针式背光源测试过程中，容易发生产品晃动导致产品闪亮，影响产品电性能及使用寿命，或者测试不够方便，效率低的问题。
技术研发人员：肖华军;戴奋雄;李平波
受保护的技术使用者：黄山市展硕半导体科技有限公司
文档号码：201620962067
技术研发日：2016.08.26
技术公布日：2017.02.22