一种低电压多档位的调速模块测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子测量控制领域，特别是一种低电压多档位的调速模块测试装置。

背景技术：

自动换挡测量多个档位的低电压信号，现有的换挡测量方法过程中，测量电压的常规工具有两种：万用表和示波器，这两种工具虽然都可以满足测量的精度要求，但是都不具备控制功能，要切换档位，必须要人工干预换挡，然后再测量，再换挡，如此反复进行，增加了人工操作的繁复性，增加了人工劳动成本。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种低电压多档位的调速模块测量装置，该装置降少了人工操作的繁复性，降低了人工成本，解决了人工操作换挡较慢、效率低下的问题，避免传统人工读数，长期工作易疲劳，容易误读的问题。

本实用新型的技术方案如下：一种低电压多档位的调速模块测试装置，包括计算机主机、人机交互模块、数据采集模块和测试治具，测试治具的信号端与数据采集模块的信号端相连，数据采集模块的信号端与计算机主机的信号端相连，计算机主机的信号端与人机交互模块的信号端相连；所述人机交互模块包括键盘、鼠标以及显示器；所述数据采集模块包括数据采集板卡；所述测试治具包括负载电路、探针架和数据采集控制板，探针架上设有探针。

优选的，所述数据采集板卡包括电源滤波电路、通道选择脉冲电路、通道选择编码电路、编码上电复位电路、通道选择电路和信号输出电路，所述通道选择脉冲电路和编码上电复位电路分别与电源滤波电路相连，通道选择脉冲电路与通道选择编码电路相连，通道选择编码电路分别与信号输出电路以及通道选择电路相连。

优选的，电源滤波电路包括连接器JP1、第一电容C1和第二电容C2，连接器JP1的第一端通过第一电容C1与连接器JP1的第二端相连，连接器JP1的第一端还与VCC端相连，连接器JP1的第二端接地，第二电容C2与第一电容C1并联。

优选的，通道选择脉冲电路2包括第六电阻R6和第三三极管Q3，第六电阻R6的一端与连接器JP1的第一端相连，第六电阻R6的第二端与第三三极管Q3的发射极相连，第三三极管Q3的基极与Clock端相连，第三三极管Q3的集电极与连接器JP1的第二端相连，第三三极管Q3的集电极接地。

优选的，编码上电复位电路包括第二电阻R2和第六电容C6，第二电阻R2的第一端与连接器JP1的第一端相连，第二电阻R2的另一端通过第六电容C6接地，第二电阻R2的另一端还依次通过第六电容C6、第三三极管Q3、第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连。

优选的，通道选择编码电路包括第一芯片U1、第四电容C4、第五电容C5、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第一三极管Q1和第二三极管Q2，第一芯片U1的第一引脚通过第二电阻R2与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第二引脚通过第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第三引脚分别与第一芯片U1的第四引脚、第一芯片U1的第五引脚、第一芯片U1的第六引脚、第一芯片U1的第八引脚相连，第一芯片U1的第七引脚的第一个连接端与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第七引脚的另一个连接端通过电阻R5与第一芯片U1的第九引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的第一个连接端通过第四电容C4与第一芯片U1的第十引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的另一个连接端与第一三极管Q1的发射极相连，第一三极管Q1的集电极与第二三极管Q2的发射极相连，第一三极管Q1的基极通过第三电阻R3与第一芯片U1的第十二引脚相连，第二三极管Q2的集电极与第一芯片U1的第九引脚相连，第二三极管Q2的基极通过第四电阻R4与第一芯片U1的第十四引脚相连，第五电容C5与第四电容C4并联，第一芯片U1的第十引脚与第一芯片U1的第十六引脚相连。

优选的，通道选择电路包括第二芯片U2和档位接口P3，档位接口P3的第一端与第二芯片U2的第五引脚相连，档位接口P3的第二端与第二芯片U2的第二引脚相连，档位接口P3的第三端与第二芯片U2的第十二引脚相连，档位接口P3的第四端与第二芯片U2的第十五引脚相连，档位接口P3的第五端与第二芯片U2的第十四引脚相连，档位接口P3的第六端与第二芯片的第十三引脚相连。

优选的，信号输出电路包括第一电阻R1、第三电容C3和输出接口P2，输出接口P2的第一端通过第三电容C3与输出接口P2的第二端相连，输出接口P2的第一端接地，输出接口P2的第二端通过第一电阻R1与第二芯片U2的第三引脚相连。

优选的，第一芯片U1的型号为74HC163计数器，第二芯片U2的型号为CD4051芯片。

本实用新型的有益效果为：

(1)该装置降少了人工操作的繁复性，降低了人工成本，解决了人工操作换挡较慢、效率低下的问题；

(2)避免采用传统人工读数，长期工作易疲劳，导致容易误读的问题；

(3)结构简单，连接可用，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型数据采集板卡的电路结构示意图；

图中，10-测试治具，20-人机交互模块，30-数据采集模块，40-计算机主机，101-负载电路，102-探针架，103-数据采集控制板，201-键盘，202-鼠标，203-显示器，301-数据采集板卡。

具体实施方式

下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。

实施例：

如图1、图2所示，一种低电压多档位的调速模块测量装置，包括计算机主机40、人机交互模块20、数据采集模块30和测试治具10，测试治具10的信号端与数据采集模块30的信号端相连，数据采集模块30的信号端与计算机主机40的信号端相连，计算机主机40的信号端与人机交互模块20的信号端相连；所述人机交互模块20包括键盘201、鼠标202以及显示器203；所述数据采集模块30包括数据采集板卡301；所述测试治具10包括负载电路101、探针架102和数据采集控制板103，探针架102上设有探针。

优选的，所述数据采集板卡301包括电源滤波电路、通道选择脉冲电路、通道选择编码电路、编码上电复位电路、通道选择电路和信号输出电路，所述通道选择脉冲电路和编码上电复位电路分别与电源滤波电路相连，通道选择脉冲电路与通道选择编码电路相连，通道选择编码电路分别与信号输出电路以及通道选择电路相连。

优选的，电源滤波电路包括连接器JP1、第一电容C1和第二电容C2，连接器JP1的第一端通过第一电容C1与连接器JP1的第二端相连，连接器JP1的第一端还与VCC端相连，连接器JP1的第二端接地，第二电容C2与第一电容C1并联。

优选的，通道选择脉冲电路包括第六电阻R6和第三三极管Q3，第六电阻R6的一端与连接器JP1的第一端相连，第六电阻R6的第二端与第三三极管Q3的发射极相连，第三三极管Q3的基极与Clock端相连，第三三极管Q3的集电极与连接器JP1的第二端相连，第三三极管Q3的集电极接地。

优选的，编码上电复位电路包括第二电阻R2和第六电容C6，第二电阻R2的第一端与连接器JP1的第一端相连，第二电阻R2的另一端通过第六电容C6接地，第二电阻R2的另一端还依次通过第六电容C6、第三三极管Q3、第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连。

优选的，通道选择编码电路包括第一芯片U1、第四电容C4、第五电容C5、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第一三极管Q1和第二三极管Q2，第一芯片U1的第一引脚通过第二电阻R2与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第二引脚通过第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第三引脚分别与第一芯片U1的第四引脚、第一芯片U1的第五引脚、第一芯片U1的第六引脚、第一芯片U1的第八引脚相连，第一芯片U1的第七引脚的第一个连接端与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第七引脚的另一个连接端通过电阻R5与第一芯片U1的第九引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的第一个连接端通过第四电容C4与第一芯片U1的第十引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的另一个连接端与第一三极管Q1的发射极相连，第一三极管Q1的集电极与第二三极管Q2的发射极相连，第一三极管Q1的基极通过第三电阻R3与第一芯片U1的第十二引脚相连，第二三极管Q2的集电极与第一芯片U1的第九引脚相连，第二三极管Q2的基极通过第四电阻R4与第一芯片U1的第十四引脚相连，第五电容C5与第四电容C4并联，第一芯片U1的第十引脚与第一芯片U1的第十六引脚相连。

优选的，通道选择电路包括第二芯片U2和档位接口P3，档位接口P3的第一端与第二芯片U2的第五引脚相连，档位接口P3的第二端与第二芯片U2的第二引脚相连，档位接口P3的第三端与第二芯片U2的第十二引脚相连，档位接口P3的第四端与第二芯片U2的第十五引脚相连，档位接口P3的第五端与第二芯片U2的第十四引脚相连，档位接口P3的第六端与第二芯片的第十三引脚相连。

优选的，信号输出电路包括第一电阻R1、第三电容C3和输出接口P2，输出接口P2的第一端通过第三电容C3与输出接口P2的第二端相连，输出接口P2的第一端接地，输出接口P2的第二端通过第一电阻R1与第二芯片U2的第三引脚相连。

优选的，第一芯片U1的型号为74HC163计数器，第二芯片U2的型号为CD4051芯片。

工作原理：通电后，编码上电复位电路使得通道选择编码电路复位，整个电路等待计算机的通道选择脉冲，当脉冲进入通道选择脉冲电路后，触发通道选择编码电路进行编码，通道选择编码电路的编码输出到通道选择电路，通道选择电路选择相应的档位通道，把电压信号输送到信号输出电路，信号输出电路对电压信号进行低通滤波处理后输送给计算机处理。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。