1.一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，包括计算机主机、人机交互模块、数据采集模块和测试治具，测试治具的信号端与数据采集模块的信号端相连，数据采集模块的信号端与计算机主机的信号端相连，计算机主机的信号端与人机交互模块的信号端相连；所述人机交互模块包括键盘、鼠标以及显示器；所述数据采集模块包括数据采集板卡；所述测试治具包括负载电路、探针架和数据采集控制板，探针架上设有探针。
2.根据权利要求1所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，所述数据采集板卡包括电源滤波电路、通道选择脉冲电路、通道选择编码电路、编码上电复位电路、通道选择电路和信号输出电路，所述通道选择脉冲电路和编码上电复位电路分别与电源滤波电路相连，通道选择脉冲电路与通道选择编码电路相连，通道选择编码电路分别与信号输出电路以及通道选择电路相连。
3.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，电源滤波电路包括连接器JP1、第一电容C1和第二电容C2，连接器JP1的第一端通过第一电容C1与连接器JP1的第二端相连，连接器JP1的第一端还与VCC端相连，连接器JP1的第二端接地，第二电容C2与第一电容C1并联。
4.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，通道选择脉冲电路包括第六电阻R6和第三三极管Q3，第六电阻R6的一端与连接器JP1的第一端相连，第六电阻R6的第二端与第三三极管Q3的发射极相连，第三三极管Q3的基极与Clock端相连，第三三极管Q3的集电极与连接器JP1的第二端相连，第三三极管Q3的集电极接地。
5.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，编码上电复位电路包括第二电阻R2和第六电容C6，第二电阻R2的第一端与连接器JP1的第一端相连，第二电阻R2的另一端通过第六电容C6接地，第二电阻R2的另一端还依次通过第六电容C6、第三三极管Q3、第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连。
6.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，通道选择编码电路包括第一芯片U1、第四电容C4、第五电容C5、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第一三极管Q1和第二三极管Q2，第一芯片U1的第一引脚通过第二电阻R2与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第二引脚通过第六电阻R6与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第三引脚分别与第一芯片U1的第四引脚、第一芯片U1的第五引脚、第一芯片U1的第六引脚、第一芯片U1的第八引脚相连，第一芯片U1的第七引脚的第一个连接端与连接器JP1的第一端相连，第一芯片U1的第七引脚的另一个连接端通过电阻R5与第一芯片U1的第九引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的第一个连接端通过第四电容C4与第一芯片U1的第十引脚相连，第一芯片U1的第八引脚的另一个连接端与第一三极管Q1的发射极相连，第一三极管Q1的集电极与第二三极管Q2的发射极相连，第一三极管Q1的基极通过第三电阻R3与第一芯片U1的第十二引脚相连，第二三极管Q2的集电极与第一芯片U1的第九引脚相连，第二三极管Q2的基极通过第四电阻R4与第一芯片U1的第十四引脚相连，第五电容C5与第四电容C4并联，第一芯片U1的第十引脚与第一芯片U1的第十六引脚相连。
7.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，通道选择电路包括第二芯片U2和档位接口P3，档位接口P3的第一端与第二芯片U2的第五引脚相连，档位接口P3的第二端与第二芯片U2的第二引脚相连，档位接口P3的第三端与第二芯片U2的第十二引脚相连，档位接口P3的第四端与第二芯片U2的第十五引脚相连，档位接口P3的第五端与第二芯片U2的第十四引脚相连，档位接口P3的第六端与第二芯片的第十三引脚相连。
8.根据权利要求2所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，信号输出电路包括第一电阻R1、第三电容C3和输出接口P2，输出接口P2的第一端通过第三电容C3与输出接口P2的第二端相连，输出接口P2的第一端接地，输出接口P2的第二端通过第一电阻R1与第二芯片U2的第三引脚相连。
9.根据权利要求1、权利要求6或权利要求8所述一种低电压多档位的调速模块测试装置，其特征在于，第一芯片U1的型号为74HC163计数器，第二芯片U2的型号为CD4051芯片。