一种组合式测试针的制作方法

本实用新型涉及电子测试针技术领域，尤其涉及一种组合式测试针。

背景技术：

测试针，业内也称探针，用于PCB板测试时又分为弹簧针(专用针)和通用针，弹簧针在使用时，需要根据所测试的PCB板的布线情况制作测试模具，且一般情况下，一个模具只能测试一种PCB板；通用针在使用时，只需有足够的点数即可，故现在很多厂家都在使用通用针；弹簧针根据使用情况又分为PCB板探针、ICT探针、BGA探针，PCB板探针主要用于PCB板测试，ICT探针主要用于插件后的在线测试，BGA探针主要用于BGA封装测试及芯片测试。

目前，为了将电连接器精确地安装在印刷电路板上，通常使用到组合式测试针，但现有的组合式测试针，需要使用胶芯固定好测试针后，再套上吸取帽，造成组装难度大、成本高的问题。

因此，寻找一种组装简单的组合式测试针成为本技术领域人员所研究的重要课题。

技术实现要素：

本实用新型实施例公开了组合式测试针，用于解决现有技术的组合式测试针组装复杂，且生产成本高的问题。

本实用新型实施例提供了一种组合式测试针，包括：第一测试针、第二测试针和吸取帽；

所述吸取帽底部设置有第一卡槽和第二卡槽；

所述第一卡槽与所述第二卡槽平行，且所述第一卡槽设置于所述第二卡槽的下方；

所述第一卡槽用于卡紧所述第一测试针；所述第二卡槽用于卡紧所述第二测试针。

可选地，所述第一卡槽由相互面对的一对第一立柱组成。

可选地，所述第一立柱的内侧面上具有一定弧度，所述弧度与所述第一测试针外壳面的弧度相同。

可选地，所述第二卡槽由4个第二立柱组成。

可选地，所述第二立柱内侧面上具有一定弧度，所述弧度与所述第二测试针外壳面的弧度相同。

可选地，所述第一测试针的尺寸与所述第二测试针的尺寸不同。

可选地，所述第一卡槽的底部设置有透气孔。

可选地，所述第二卡槽的底部设置有透气孔。

可选地，所述第一卡槽至少为1个。

可选地，所述第二卡槽至少为1个。

从以上技术方案可以看出，本实用新型实施例具有以下优点：

本实用新型实施例提供了一种组合式测试针包括：第一测试针、第二测试针和吸取帽；所述吸取帽底部设置有第一卡槽和第二卡槽；所述第一卡槽与所述第二卡槽平行，且所述第一卡槽设置于所述第二卡槽的下方；所述第一卡槽用于卡紧所述第一测试针；所述第二卡槽用于卡紧所述第二测试针。本实施例中的组合式测试针，不需使用胶芯固定测试针，在吸取帽底端设置卡槽，使得测试针卡紧在卡槽内，从而简化了组装的工艺，降低成本。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本实用新型实施例中提供的一种组合式测试针的结构示意图；

图2为本实用新型实施例中提供的一种组合式测试针中的吸取帽的底端；结构示意图；

图3为本实用新型实施例中提供的一种组合式测试针的结构俯视图；

图示说明：吸取帽1；第二测试针2；第一测试针3；第一卡槽4；第二卡槽5；第一立柱6；第二立柱7；透气孔8。

具体实施方式

本实用新型实施例公开了一种组合式测试针，用于解决现有技术的组合式测试针组装复杂，且生产成本高的问题。

请参阅图1、图2和图3，本实用新型实施例中提供的一种组合式测试针的一个实施例包括：第一测试针3、第二测试针2和吸取帽1；吸取帽1底部设置有第一卡4槽和第二卡槽5；

第一卡槽4与第二卡槽5平行，且第一卡槽4设置于第二卡槽5的下方；

第一卡槽4用于卡紧第一测试针3；第二卡槽5用于卡紧第二测试针2；

本实施例中，放弃原来使用胶芯固定测试针的方法，在吸取帽1的底部位置设置多个卡槽，用于卡紧测试针，使得组装变得更加简单，且由于不使用胶芯，降低了生产的成本。

进一步地，第一卡槽4由相互面对的一对第一立柱6组成。

进一步地，第一立柱6的内侧面上具有一定弧度，弧度与第一测试针3外壳面的弧度相同。

进一步地，第二卡槽5由4个第二立柱7组成。

进一步地，第二立柱7内侧面上具有一定弧度，弧度与第二测试针2外壳面的弧度相同。

进一步地，第一测试针3的尺寸与第二测试针2的尺寸不同。

进一步地，第一卡槽4的底部设置有透气孔8。

进一步地，第二卡槽5的底部设置有透气孔8；

本实施例中，在卡槽底部设置有透气孔8，即在吸取帽顶端设置有透气孔8，防止非透气产品上SMT过层真空效应而产生不易拔取的问题。

进一步地，第一卡槽4至少为1个。

进一步地，第二卡槽5至少为1个。

上述是对本实用新型实施例提供的一种组合式测试针的结构进行详尽的描述，下面将以一个应用的方法对本测试针进行进一步地描述，本实用新型实施例提供的一种组合式测试针的一个应用例包括：

电流或者电压信号通过测试针的传输来测试线路板的开路或者短路，其中组合式测试针的应用方法：

参数测试系统将电流或者电压输入被测器件，然后测量该器件对于输入信号的影响。

信号的传输路径：从测试仪通过电缆束至测试针管，然后通过测试针针轴至待测的焊点，到达被测器件，并最后沿原路返回至测试仪器。

测试针分析：测试针针轴尾端部压缩弹簧，测试时弹簧整体受力，确保压力垂直作用于弹簧，测试时电流通过针轴。

上述为该组合式测试针中测试针的工作原理，本组合式测试针在吸取帽上设置有多个卡槽，用于卡紧不同型号的测试针，该吸取帽用于使得测试针精确地安装在印刷电路板上，然后利用真空吸取装置吸取该吸取罩，从而将测试针精确地放置在印刷电路板上。而且该吸取帽的表面上，即卡槽的底端位置设有透气孔，防止非透气产品上SMT过层真空效应而产生不易拔取的问题。

本组合式测试针，用于解决现有技术的组合式测试针组装复杂，且生产成本高的问题。且该组合式测试针不需使用胶芯固定测试针，在吸取帽底端设置卡槽，使得测试针卡紧在卡槽内，从而简化了组装的工艺，降低成本。

以上对本实用新型所提供的一种组合式测试针进行了详细介绍，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。