技术特征：
技术总结
动态特性试验装置具备：电源；电抗器；具有以串联的方式电连接的第1开关部以及第2开关部，用于选择第1半导体或第2半导体作为开关测定的对象的选择电路；以及用于消耗蓄积于电抗器的能量的过电流防止电路。将第1半导体以及第2半导体电连接的第1连接部和将第1开关部以及第2开关部电连接的第2连接部经由电抗器电连接。过电流防止电路具备以串联的方式电连接的第3开关部及第1二极管以及以串联的方式电连接的第4开关部及第2二极管。第1二极管被配置成第1二极管的正向为从第1连接部朝向第2连接部的方向，第2二极管被配置成第2二极管的正向为从第2连接部朝向第1连接部的方向。
技术研发人员：坂本阳一;泷田伸幸
受保护的技术使用者：新东工业株式会社
技术研发日：2016.03.14
技术公布日：2017.09.26