技术特征：
技术总结
为了多维高分辨率地成像借助荧光标记进行标记的样品结构，对于样品中的多个测量区域(18)重复以下步骤：将荧光使能光(3)聚焦到所述样品(4)中，其中，所述样品(4)中由所述荧光使能光(3)照亮的区域是相应的所述测量区域(18)。以荧光阻止光(10)加载所述测量区域(18)的部分区域(20)，其中，所述部分区域(20)排除所述测量区域(18)的中央(22)，其方式为：所述荧光阻止光(10)的强度分布具有经过所述中央(22)延伸的线状的或面状的零位(21)。在此，所述零位(21)通过所述测量区域(18)的所述中央(22)的最小延伸(23)以因子k(k≥2)小于所述测量区域(18)在相同方向上的直径(19)。在所述测量区域(18)内部没有空间分辨率的情况下，对于所述零位(21)围绕所述中央(22)的多个相继的角位置测量从所述样品的所述测量区域(18)发射的荧光，其中，对于所述零位(21)的每个角位置，以所述荧光使能光(3)加载所述测量区域(18)。
技术研发人员：A·艾格纳;C·盖斯勒;J-R·克吕格尔
受保护的技术使用者：哥廷根激光实验室
技术研发日：2016.03.31
技术公布日：2018.01.26