技术总结
本发明提供了一种激光测量方法、装置以及系统，其中，该测量方法应用于包括两个线线激光位移传感器的激光测量系统中，两个所述线激光位移传感器的测头相对设置；该方法包括：针对两个所述线线激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；每隔预设时间，触发两个所述线激光位移传感器，并获取两个所述线激光位移传感器的对待测量产品的测量信息；根据所述测量信息以及所述线性度补偿数据，计算所述待测量产品在不同位置的实际厚度数据。该方法能够增加测量面，提升测量准确度。
技术研发人员：张超
受保护的技术使用者：苏州光照精密仪器有限公司
文档号码：201710117779
技术研发日：2017.03.01
技术公布日：2017.05.31