技术特征：
技术总结
公开了晶体管桥故障测试。本文中描述了一种用于驱动晶体管桥的驱动电路布置，其至少包括由低侧晶体管和高侧晶体管组成的第一半桥。根据本说明的一个示例，电路包括电流源和检测电路。电流源可操作地耦合至第一半桥的高侧晶体管并且被配置成向第一半桥供应测试电流。检测电路被配置成将表示第一半桥的高侧晶体管两端的电压的电压感测信号与至少一个第一阈值相比较，以根据比较的结果来检测第一半桥中是否存在短路。
技术研发人员：A·海因茨;M·伯古斯
受保护的技术使用者：英飞凌科技股份有限公司
技术研发日：2017.03.21
技术公布日：2017.09.29