技术特征：
技术总结
本发明公开了一种面板测试装置，包括：定位架；和多个测试针，沿所述定位架的横向依次设置在定位架上、且多个测试针的位置与待测的面板上的多个信号针的位置一一对应，任一所述测试针满足：d≤D≤d+L，其中，D为该测试针的宽度；d为与该测试针对应的待测面板上的信号针的宽度；L为与该测试针对应的待测面板上的信号针同该信号针相邻的信号针之间的最小距离。本发明提供的面板测试装置，增大了测试针的宽度，使得面板测试装置与面板进行对位时，信号针与测试针能够更好地进行对位，避免出现信号针与测试针错位的状况，以使得各个信号针的状态被准确地检测出，有效提升了信号针的检测精准性。
技术研发人员：艾雨;谢学武;刘博文;孙诗;刘浩;韩坤;张阿猛
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司
技术研发日：2017.03.22
技术公布日：2017.07.18