技术特征：
技术总结
本发明涉及一种光模块高低温测试装置，其用以测试光模块，该光模块高低温测试装置包括底座和设置在所述底座上的测试架，所述光模块放置在所述测试架上；所述测试架的上方设置有热电偶探头，所述热电偶探头与放置在所述测试架上的光模块接触，所述热电偶探头通过支架固定，该光模块高低温测试装置的热电偶探头通过支架固定，以当光模块固定在测试架上后，热电偶探头直接与光模块接触，从而使得该安装测试工艺方便，而由于热电偶探头不会发生位移现象，从而可避免由于电热偶探头的位移改变而带来了测试数据不准确的问题，另外，相对现有技术来说，该光模块高低温测试装置结构简单。
技术研发人员：许乐
受保护的技术使用者：苏州易锐光电科技有限公司
技术研发日：2017.04.28
技术公布日：2017.08.18