技术特征：
技术总结
本发明涉及一种双光梳精密测角方法及测角系统，其特征在于包括以下内容：设置具有一定重复频率差的第一光频梳和第二光频梳；第一光频梳发出的光脉冲分成两束分别经由设置在测量臂和参考臂的基于光栅的空间姿态无源测头衍射返回合成一束光；合成的此束光与第二光频梳发出的光脉冲发生干涉得到多外差干涉信号，将多外差干涉信号进行处理得到第一光频梳经测量臂返回光脉冲的光谱相位信息，解算出设置在测量臂的基于光栅的空间姿态无源测头的姿态角度。本发明可以广泛应用于空间姿态的高精度测量。
技术研发人员：吴冠豪;曾理江;朱泽斌;熊士林;倪凯;周倩
受保护的技术使用者：清华大学
技术研发日：2017.06.30
技术公布日：2017.09.22