一种小间距测试探针模组的制作方法

本发明涉及测试探针，进一步说，尤其涉及一种小间距测试探针模组。

背景技术：

现有技术的模组由探针(针管、弹簧和针头)和模块组成，探针装在模块内，探针上针头接触被测物，下针头接电路板导出信号。该结构采用上、下针板钻孔，利用台阶差来固定探针进行测试，这种设计模式必须使用带有内管的双头探针。

目前市场上测试模组是由探针和模块组成，不能对结构复杂、间隙小的产品进行测试；无法组装针管直径小于0.1mm的探针；针管太细，导致针管内部电镀不均匀；总长小于2mm探针装配困难，导致探针无法测试一些电学，高频率信号，因为探针本身工艺的限制，使用的内管有时无法满足小pitch测试，故而无法满足更小间距的测试。

技术实现要素：

本发明为解决上述技术问题而采用的技术方案是提供一种小间距测试探针模组，其中，具体技术方案为：

由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成，所述模块上设置钻孔，在钻孔内安装针杆，所述针杆内设置弹簧，所述针杆的上部设置上针头，所述针杆的下部设置下针头。

上述的小间距测试探针模组，其中，其制作方法是：

第一步：在板材上钻取对应针杆、上针头、下针头尺寸的孔；

第二步：给板材上开设的针杆、上针头、下针头孔内电镀金或者板材内敲入薄铜管；

第三步：将配件、上针头、弹簧、下针头装入模块里。

本发明相对于现有技术具有如下有益效果：

本发明提供的一种小间距测试探针模组，降低材料成本，提高测试灵活性；测试小间距、高频率信号源；解决微小探针的装配难题。

附图说明

图1为现有技术中小间距测试探针模组的结构示意图。

图2为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图3为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图4为本发明提供的一种小间距测试探针模组的结构示意图。

图中：

1上针头2针管3下针头4上针板5中层针板6下针板7被测引脚8pcb板9焊锡连接处

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的描述。

本发明提供了一种小间距测试探针模组，技术优势主要体现在如下几个方面：解决目前被测物间隔过小不能测试的问题，大大减少材料/人工成本，提高了测试精度和一次测试通过率；大幅度提高测试效率；突破针管壁厚太薄的局限，便于组装；突破针管对探针长度的限制；突破探针过高频率信号的技术要求。

本发明提供了一种小间距测试探针模组，由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成，所述模块上设置钻孔，在钻孔内安装针杆，所述针杆内设置弹簧，所述针杆的上部设置上针头，所述针杆的下部设置下针头。

所述的小间距测试探针模组，其制作方法是：

第一步：在板材上钻取对应针杆、上针头、下针头尺寸的孔；

第二步：给板材上开设的针杆、上针头、下针头孔内电镀金或者板材内敲入薄铜管；

第三步：将配件、上针头、弹簧、下针头装入模块里。

实施例1，如附图3：

上针头被测引脚为锡点、金点、银点；下针头以压合模式连接pcb板；

实施例2，如附图4：

上针头被测引脚为锡点、金点、银点；下针头以焊锡连接模式连接pcb板。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的修改和完善，因此本发明的保护范围当以权利要求书所界定的为准。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种小间距测试探针模组，由模块、弹簧、针杆、上针头、下针头组成，所述模块上设置钻孔，在钻孔内安装针杆，所述针杆内设置弹簧，所述针杆的上部设置上针头，所述针杆的下部设置下针头；本发明提供的小间距测试探针模组，解决目前被测物间隔过小不能测试的问题，大大减少材料/人工成本，提高了测试精度和一次测试通过率；大幅度提高测试效率；突破针管壁厚太薄的局限，便于组装；突破针管对探针长度的限制；突破探针过高频率信号的技术要求。

技术研发人员：黄勇;雷艳清
受保护的技术使用者：上海承盛电子科技有限公司
技术研发日：2017.07.03
技术公布日：2019.01.15