技术特征：
技术总结
本发明公开了一种光电一体式测试系统和光电测试方法，涉及光电测试技术领域。该系统包括：光源支撑台上设置有带刻度线的滑轨；滑轨上设置有升降滑台，升降滑台上设置有带刻度的一升降旋转盘和移动滑炳；光纤支撑台的顶面上设置有多个不同半径的凹槽；凹槽内放置有光纤；光斑放大显示屏可拆卸设置在光纤支撑台后端面处，且设置有带刻度的网格；光电处理电路板与光电探测器电连接；本发明通过将光源支撑台和光纤支撑台一体化设置，只需要微调光源就可实现光源较佳入射光纤端面，解决了调节光源和光纤端面相对位置困难的问题；两个调节方向上均有刻度标记，使本次调节的位置有准确的数据记录，在重复实验或对比实验中，精确度高，实验效果佳。
技术研发人员：王强锋;曹岩;白瑀;仵宁飞;汪晶;高硕;吴庆云;刘长柱;赵迪;吴雨佳;程文;寇啸溪;戚建尧;韩冲;张烁烁;田良;胡一凡
受保护的技术使用者：西安工业大学
技术研发日：2017.07.17
技术公布日：2017.09.26