技术特征：
技术总结
本发明涉及一种光响应特性快速测量装置和方法。该测量装置用于对待测光器件的光响应特性进行测量，所述测量装置包括：光信号发生器，用于生成时变移频光信号；分光器，用于将所述时变移频光信号分为第一光信号和第二光信号；其中，所述第一光信号经过待测光器件到达后端的光混频器；光延迟线，用于将所述第二光信号进行延迟后到达后端的光混频器；光混频器，用于将经过待测光器件的第一光信号和经过延迟处理的第二光信号进行混频处理；光电探测器，用于对光混频器输出的光信号进行探测，获得用于计算光响应特性的电信号。该测量方法可以采用上述装置实现。上述装置和方法能够快速测量不同频率下的光响应特性，效率高。
技术研发人员：刘健;刘猛;成学平
受保护的技术使用者：深圳市杰普特光电股份有限公司
技术研发日：2017.07.18
技术公布日：2017.10.27