本发明涉及一种电路板的电压引脚导通检测系统及其方法,尤其是指一种借由jtag晶片、单片机以及模数转换器以进行待测试电路板的电源引脚导通检测系统及其方法。
背景技术:
在电路板中电源引脚的检测,常用的方式是将电路板中电源引脚电性连接下拉电阻,通过联合测试工作组(jointtestactiongroup,jtag)晶片以边界扫描(boundaryscan)技术读取电路板中电源引脚的电压值,借以通过从检测电路板中电源引脚所读取到的电压值为高电位来判断检测电路板中电源引脚导通与否。
对于上述的检测方式,若是当检测电路板中电源引脚的电压值在600mv以下的情况,检测电路板中电源引脚不论是否导通,jtag晶片从检测电路板中电源引脚所读取到的电压值皆是低电位,导致无法检测出检测电路板中电源引脚是否导通。
综上所述,可知现有技术中长期以来一直存在现有电源引脚导通检测在低电压值导致检测障碍的问题,因此有必要提出改进的技术手段,来解决此问题。
技术实现要素:
有鉴于现有技术存在现有电源引脚导通检测在低电压值导致检测障碍的问题,本发明遂说明一种电路板的电压引脚导通检测系统及其方法,其中:
本发明所说明的电路板的电压引脚导通检测系统,其包含:具有待测试电路板连接器的待测试电路板、检测电路板以及检测装置,其中检测电路板还包含:检测电路板连接器、模数转换器(analogtodigitalconverter,adc)、单片机(single-chipmicrocomputer)、联合测试工作组(jointtestactiongroup,jtag)晶片以及jtag连接器。
检测电路板的检测电路板连接器用以与待测试电路板连接器电性连接;检测电路板的模数转换器的电压读取引脚与检测电路板连接器的电源引脚电性连接以及与下拉电阻电性连接,模数转换器的电压读取引脚用以读取检测电路板连接器的电源引脚的电压值为检测电压值;检测电路板的单片机的电压输入引脚与模数转换器的电压输出引脚电性连接,单片机从模数转换器的电压输出引脚读取检测电压值;检测电路板的jtag晶片被设定为边界扫描(boundaryscan)工作模式,jtag晶片通过自定义的通信协议与单片机电性连接并从单片机接收检测电压值;检测电路板的jtag连接器与jtag晶片电性连接。
检测装置通过jtag连接器形成电性连接控制jtag晶片设定为边界扫描工作模式,且通过jtag连接器从jtag晶片读取检测电压值以进行待测试电路板的电源引脚导通检测。
本发明所说明的电路板的电压引脚导通检测方法,其包含下列步骤:
首先,提供具有检测电路板连接器、模数转换器(analogtodigitalconverter,adc)、单片机(single-chipmicrocomputer)、联合测试工作组(jointtestactiongroup,jtag)晶片以及jtag连接器的检测电路板;接着,检测电路板通过检测电路板连接器与待测试电路板连接器电性连接;接着,模数转换器的电压读取引脚与检测电路板连接器的电源引脚电性连接以及与下拉电阻电性连接,模数转换器的电压读取引脚用以读取检测电路板连接器的电源引脚的电压值为检测电压值;接着,单片机的电压输入引脚与模数转换器的电压输出引脚电性连接,单片机从模数转换器的电压输出引脚读取检测电压值;接着,jtag晶片被设定为边界扫描(boundaryscan)工作模式,jtag晶片通过自定义的通信协议与单片机电性连接并从单片机接收检测电压值;接着,jtag连接器与jtag晶片电性连接;最后,提供检测装置,检测装置通过jtag连接器形成电性连接控制jtag晶片设定为边界扫描工作模式,且通过jtag连接器从jtag晶片读取检测电压值以进行待测试电路板的电源引脚导通检测。
本发明所说明的系统及方法如上,与现有技术之间的差异在于将jtag晶片设定为边界扫描工作模式后,通过自定义的通信协议由jtag晶片从单片机获得模数转换器从待测试电路板所读取的检测电压值,检测装置通过jtag连接器从jtag晶片读取检测电压值以进行待测试电路板的电源引脚导通检测。
通过上述的技术手段,本发明可以达成在所有电压值皆可进行电源引脚导通检测的技术功效。
附图说明
图1示出了本发明电路板的电压引脚导通检测系统的系统方框图。
图2示出了本发明电路板的电压引脚导通检测方法的方法流程图。
图3示出了本发明电路板的电压引脚导通检测系统的系统架构图。
图4示出了本发明电路板的电压引脚导通检测的jtag晶片与单片机的自定义的通信协议示意图。
【附图标记列表】
10待测试电路板
11待测试电路板连接器
20检测电路板
21检测电路板连接器
211电源引脚
22模数转换器
221电压读取引脚
222电压输出引脚
23单片机
231电压输入引脚
24jtag晶片
25jtag连接器
30检测装置
41检测电压值
42下拉电阻
具体实施方式
以下将配合图式及实施例来详细说明本发明的实施方式,借此对本发明如何应用技术手段来解决技术问题并达成技术功效的实现过程能充分理解并据以实施。
以下将以一个实施例来说明本发明实施的操作系统与方法,并请同时参考图1、图2以及图3所示,图1示出了本发明电路板的电压引脚导通检测系统的系统方框图;图2示出了本发明电路板的电压引脚导通检测方法的方法流程图;图3示出了本发明电路板的电压引脚导通检测系统的系统架构图。
本发明所说明的电路板的电压引脚导通检测系统,其包含:具有待测试电路板连接器11的待测试电路板10、检测电路板20以及检测装置30,其中检测电路板20还包含:检测电路板连接器21、模数转换器(analogtodigitalconverter,adc)22、单片机(single-chipmicrocomputer)23、联合测试工作组(jointtestactiongroup,jtag)晶片24以及jtag连接器25(步骤101)。
检测电路板20的检测电路板连接器21是用以与待测试电路板10的待测试电路板连接器11电性连接(步骤102),检测电路板20的模数转换器22的电压读取引脚221与检测电路板20的检测电路板连接器21的电源引脚211电性连接以及与下拉电阻42电性连接,检测电路板20的模数转换器22的电压读取引脚221即可读取检测电路板20的检测电路板连接器21的电源引脚211的电压值为检测电压值41(步骤103)。
当待测试电路板10的待试电路板连接器11的电源引脚为正常导通时,检测电路板20的模数转换器22的电压读取引脚221即可读取到正常的电压值;当待测试电路板10的待测试电路板连接器11的电源引脚为不导通时,检测电路板20的模数转换器22的电压读取引脚221借由下拉电阻42所读取到电压值即为0。
检测电路板20的单片机23的电压输入引脚231与检测电路板20的模数转换器22的电压输出引脚222电性连接,检测电路板20的单片机23即可通过电压输入引脚231从模数转换器22的电压输出引脚222读取检测电压值41(步骤104)。
检测电路板20的jtag晶片24是被设定为边界扫描(boundaryscan)工作模式,检测电路板20的jtag晶片24通过自定义的通信协议与检测电路板20的单片机23电性连接并从检测电路板20的单片机23接收检测电压值41(步骤105)。
请参考图4所示,图4示出了本发明电路板的电压引脚导通检测的jtag晶片与单片机的自定义的通信协议示意图。
检测电路板20的jtag晶片24与检测电路板20的单片机24彼此之间所使用的自定义的通信协议是检测电路板20的jtag晶片24的load_cmd引脚或是load_data引脚(load_data引脚是作为备份引脚)设定为低电位时,检测电路板20的jtag晶片24所生成的8位请求命令(8bitrequestcommand)为有效命令,且检测电路板20的jtag晶片24的更新(update)引脚设定为高电位(high)时,检测电路板20的单片机23从jtag晶片读取8位请求命令,检测电路板20的单片机23在读取到8位请求命令后将检测电路板20的单片机23的busy_n引脚状态设置为有效(即将busy_n引脚设置为0,表示检测电路板20的单片机23接受指令成功),检测电路板20的jtag晶片24进一步检测检测电路板20的单片机23的busy_n引脚状态为有效时,检测电路板20的jtag晶片24再将load_cmd引脚或是load_data引脚设定为高电位以及将更新引脚设定为低电位,检测电路板20的单片机23依据8位请求命令执行从检测电路板20的模数转换器22的电压输出引脚222读取检测电压值41后,检测电路板20的单片机23设置包含有检测电压值41的8位响应数据(8bitresponsedata)且将检测电路板20的单片机23的busy_n引脚状态设置为无效(即将busy_n引脚设置为1,表示检测电路板20的单片机23已执行完成指令,检测电路板20的单片机23处于闲置状态),检测电路板20的jtag晶片24即可从检测电路板20的单片机23读取包含有检测电压值41的8位响应数据。
上述检测电路板20的jtag晶片24包含复杂可编程逻辑装置(complexprogrammablelogicdevice,cpld)以及现场可编程逻辑门阵列(fieldprogrammablegatearray,fpga)。
上述检测电路板20的jtag晶片24是通过边界扫描技术控制8位请求命令的生成、控制load_cmd引脚或是load_data引脚的电位设定、控制更新引脚的电位设定以及读取8位响应数据中检测电压值41。
值得注意的是,检测电路板20的jtag晶片24的8个输入输出引脚与检测电路板20的单片机23的8个输入输出引脚彼此之间相互电性连接,借以传输8位请求命令以及8位响应数据。
检测电路板20的jtag连接器25与检测电路板20的jtag晶片24电性连接(步骤106),并且检测装置30通过与检测电路板20的jtag连接器25形成电性连接以控制检测电路板20的jtag晶片24设定为边界扫描工作模式,且通过检测电路板20的jtag连接器25从检测电路板20的jtag晶片24读取检测电压值41以进行待测试电路板10的电源引脚导通检测(步骤107),即当检测装置30从检测电路板20的jtag晶片24读取检测电压值41为正常的电压值时,表示待测试电路板10的电源引脚为正常导通状态,当检测装置30自检测电路板20的jtag晶片24读取检测电压值41为0时,表示待测试电路板10的电源引脚为不导通状态。
综上所述,可知本发明与现有技术之间的差异在于将jtag晶片设定为边界扫描工作模式后,通过自定义的通信协议由jtag晶片从单片机获得模数转换器从待测试电路板所读取的检测电压值,检测装置通过jtag连接器从jtag晶片读取检测电压值以进行待测试电路板的电源引脚导通检测。
借由此技术手段可以来解决现有技术所存在现有电源引脚导通检测在低电压值导致检测障碍的问题,进而达成在所有电压值皆可进行电源引脚导通检测的技术功效。
虽然本发明所说明的实施方式如上,惟所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本发明所属技术领域中的技术人员,在不脱离本发明所说明的精神和范围的前提下,可以在实施的形式上及细节上作些许的更动。本发明的专利保护范围,仍须以所附的权利要求书所界定者为准。