本发明属于数控机床箱体检测技术领域，具体涉及一种检查数控机床箱体孔与面的垂直检测机构。
背景技术：
随着科技发展，面向机械零部件质量的提升，零件的质量件直接局限于产品的整体性能。国外在针对零件生产有严格的流程及设备保障，但国内针对此方面的要依靠部分检测手段对零件进行筛选，针对数控机床箱体的孔与面的垂直检测存在劳动强度大，且检测效率低等问题。
技术实现要素：
本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种检查数控机床箱体孔与面的垂直检测机构。
本发明是通过如下技术方案实现的：
一种检查数控机床箱体孔与面的垂直检测机构，包括套类支撑组件、检测支撑组件和立杆调整组件，所述套类支撑组件上设有检测支撑组件，所述检测支撑组件上设有立杆调整组件，所述套类支撑组件上设有套类支撑组件内孔，所述检测支撑组件包括立杆小轴和立杆大轴，检测支撑组件通过立杆小轴与套类支撑组件上的套类支撑组件内孔装配，所述立杆调整组件包括旋转连杆、旋转半径调整杆和固定杆锁紧装置，旋转半径调整杆通过固定杆锁紧装置与旋转连杆连接，旋转半径调整杆一端设有表套，表套通过固定表锁紧装置进行调节。
进一步，所述旋转半径调整杆通过固定杆锁紧装置调节自身的伸缩长度及在旋转连杆上的上下高度，从而调整其使用的旋转半径。
进一步，所述套类支撑组件材质硬度大于检测工件的硬度。
进一步，所述旋转连杆材质硬度大于检测工件的硬度。
进一步，所述立杆调整组件通过旋转连杆设置在立杆大轴上，立杆调整组件的旋转连杆与立杆大轴同心。
本发明的有益效果是：本发明一种检查数控机床箱体孔与面的垂直检测机构结构简单，立杆调整组件通过固定杆锁紧装置用于紧固各轴杆之间的连接，使其在旋转过程中不位移，且旋转半径调整杆通过固定杆锁紧装置调节自身的伸缩长度及在旋转连杆上的上下高度，从而调整其使用的旋转半径，可自由调整表的方向，直观观察表的读数情况，还便于调整。
附图说明
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
附图1为本发明的结构示意图。
图中，1套类支撑组件；2套类支撑组件内孔；3立杆小轴；4立杆大轴；5固定杆锁紧装置；6固定表锁紧装置；7表套；8旋转半径调整杆；9旋转连杆；10检测支撑组件。
具体实施方式
附图1为本发明的一种具体实施例。该发明一种检查数控机床箱体孔与面的垂直检测机构，包括套类支撑组件1、检测支撑组件10和立杆调整组件，所述套类支撑组件1上设有检测支撑组件10，所述检测支撑组件10上设有立杆调整组件，所述套类支撑组件1上设有套类支撑组件内孔2，所述检测支撑组件10包括立杆小轴3和立杆大轴4，检测支撑组件10通过立杆小轴3与套类支撑组件1上的套类支撑组件内孔2装配，所述立杆调整组件包括旋转连杆9、旋转半径调整杆8和固定杆锁紧装置5，旋转半径调整杆8通过固定杆锁紧装置5与旋转连杆9连接，旋转半径调整杆8一端设有表套7，表套7通过固定表锁紧装置6进行调节。
进一步，所述旋转半径调整杆8通过固定杆锁紧装置5调节自身的伸缩长度及在旋转连杆9上的上下高度，从而调整其使用的旋转半径。
进一步，所述套类支撑组件1材质硬度大于检测工件的硬度。
进一步，所述旋转连杆9材质硬度大于检测工件的硬度。
进一步，所述立杆调整组件通过旋转连杆9设置在立杆大轴4上，立杆调整组件的旋转连杆9与立杆大轴4同心。
本发明不局限于上述实施方式，任何人应得知在本发明的启示下作出的与本发明具有相同或相近的技术方案，均落入本发明的保护范围之内。
本发明未详细描述的技术、形状、构造部分均为公知技术。