1.一种晶圆和成品测试通用承载板,包括承载板DIB,在DIB上有成品插座及测试外围电路,其特征在于,还包括一个下大上小的塔式两层绝缘支架,绝缘支架底层与DIB正面固定,远离DIB的绝缘支架顶层植测试探针,每根测试探针的针尾通过绝缘支架边架上的暗槽,用导线连接至DIB上的对应过孔,过孔与DIB上成品插座的测试pin脚一一对应,并且通过跳线帽的方式设计,使DIB上的测试外围电路要么连接成品插座测试pin脚,要么连接与顶层探针对应连通的过孔,成品插座用以插入测试成品,顶层探针用以晶圆测试和调试。