一种电容器薄膜厚度误差检测方法与流程

文档序号:14193509阅读:253来源:国知局

本发明涉及电容器技术领域,尤其涉及一种电容器薄膜厚度误差检测方法。



背景技术:

目前电容器在电力电子、通讯设施及轨道运输等领域应用广泛,随着科技水平的发展,电容器凭借其良好的电力性能和高可靠性,成为推动上述行业领域更新换代不可或缺的电子元件,其中薄膜电容器由于体积小、安全性高,极大的推动了电容器技术领域的发展。现有技术中薄膜电容器的通用制法是将金属薄膜与聚乙酯、聚丙烯、聚苯乙烯或聚碳酸酯等塑料薄膜从两端重叠后,卷绕成圆筒状的金属化薄膜电极,然后放置到电容器外壳中,注入绝缘油和环氧树脂,再经过组装后得到薄膜电容器。

金属化薄膜在蒸镀过程中会出现镀层厚薄不均、飞溅点、蛇纹、氧化层等缺陷,该类缺陷薄膜在卷绕成薄膜电极后容易出现损耗过大,产品质量难以控制,严重时甚至引发电容器爆炸。



技术实现要素:

基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种电容器薄膜厚度误差检测方法;

本发明提出的一种电容器薄膜厚度误差检测方法,包括:

将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;

对待检测金属化薄膜进行吹风;

在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光;

在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,当检测结果为否时,发出进行警示信息。

优选地,所述对待检测金属化薄膜进行吹风,具体包括:通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行出风。

优选地,所述预设的激光发射位置和预设的激光采集位置位于待检测金属化薄膜两侧且以待检测金属化薄膜形成对称。

优选地,所述预设的激光发射位置包括n个激光发射子位置;所述预设的激光采集位置包括n个激光采集子位置,其中n≥2。

优选地,在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,具体包括:在预设的激光采集位置设置激光采集装置,用以检测激光采集位置是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光。

优选地,在预设的激光采集位置未检测采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光后,还包括:对待检测金属化薄膜进行标记。

本发明通过将待检测金属化薄膜平铺在检测平台,对待检测金属化薄膜进行吹风,在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光,在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,当检测结果为否时,发出进行警示信息,如此,通过光的反射检测金属化薄膜是否存在厚度误差,当在检测到激光采集位置检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时发出警示信息,具有有益的技术效果和显著的实用价值。

附图说明

图1为本发明提出的一种电容器薄膜厚度误差检测方法的流程示意图。

具体实施方式

参照图1,本发明提出的一种电容器薄膜厚度误差检测方法,包括:

将待检测金属化薄膜平铺在检测平台。

在具体方案中,通过机械或人工的方式将待检测金属化薄膜平整的铺在预设的光滑且洁净的检测平台上。

对待检测金属化薄膜进行吹风,具体包括:通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行出风。

在具体方案中,通过垂直于检测平台且与待检测金属化薄膜同侧的风源对待检测金属化薄膜进行吹风,一方面可以吹掉待检测金属化薄膜上的灰尘和杂质,避免灰尘和杂质影响光的反射,从而反射光的落点有影响;另一方面,通过吹风使待检测金属化薄膜与检测平台更加贴合,使待检测金属化薄表面更加平整,从而避免待检测金属化薄因为褶皱的存在导致反射光的落点出现误差。

在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光,所述预设的激光发射位置包括n个激光发射子位置。

在具体方案中,在多个激光发射位置预设激光发射器,同时发出激光对待检测金属化薄膜发射激光。

在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,当检测结果为否时,发出进行警示信息,对待检测金属化薄膜进行标记。其中,所述预设的激光发射位置和预设的激光采集位置位于待检测金属化薄膜两侧且以待检测金属化薄膜形成对称所述预设的激光采集位置包括n个激光采集子位置,其中n≥2。

在具体方案中,与多个激光发射位置预设的激光发射器一一对应设置激光收集器,激光收集器与激光发射器的位置经过待检测金属化薄膜的中心线呈轴对称,用以检测被待检测金属化薄膜反射的激光,当检测到对应的激光发射发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常。

本实施方式通过将待检测金属化薄膜平铺在检测平台,对待检测金属化薄膜进行吹风,在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光,在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,当检测结果为否时,发出进行警示信息,如此,通过光的反射检测金属化薄膜是否存在厚度误差,当在检测到激光采集位置检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时发出警示信息,具有有益的技术效果和显著的实用价值。

以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种电容器薄膜厚度误差检测方法,包括:将待检测金属化薄膜平铺在检测平台;对待检测金属化薄膜进行吹风;在预设的激光发射位置对待检测金属化薄膜发射激光;在预设的激光采集位置检测是否采集到被待检测金属化薄膜反射后的激光,当检测结果为否时,发出进行警示信息。如此,通过光的反射检测金属化薄膜是否存在厚度误差,当在检测到激光采集位置检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度质量较好,当在检测到激光采集位置未检测到在对应的激光发射位置发射的激光时,说明金属化薄膜厚度异常,此时发出警示信息,具有有益的技术效果和显著的实用价值。

技术研发人员:陈忠友;卫中科;杜运朝;方霞;张锐
受保护的技术使用者:宁国市裕华电器有限公司
技术研发日:2017.12.29
技术公布日:2018.04.17
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