一种曲轴半圆键槽检测用检具的制作方法

本实用新型涉及一种曲轴半圆键槽检测用检具。

背景技术：

参见图1，现有曲轴(N)一般由主轴颈(N-1)、连杆轴颈(N-2)、曲柄臂 (N-4)及平衡臂(N-5)所组成。而为了满足该曲轴装配后的性能要求，在该主轴颈(N-1)上加工有半圆键槽(N-3)且该半圆键槽(N-3)至少具有以下技术要求：第一，该半圆键槽(N-3)本身具有长度和深度要求等槽形尺寸要求；第二，该半圆键槽(N-3)同时与该主轴颈(N-1)中心线和该连杆轴颈(N-2) 中心线具有对称度要求；第三，该半圆键槽(N-3)具有沿该主轴颈(N-1)的轴向长度要求。

现有在对曲轴主轴颈上半圆键槽(N-11)检测时，只能采用对每项技术要求逐一检测，常常单个产品需要耗时20分钟以上。而且采用逐项检测，需要借助于千分表，角规，塞规等大量检具及检测仪器，存在检测误差大，检测效率非常低，判断不方便，操作不方便,且设备成本高。

技术实现要素：

有鉴于现有技术的上述的一个或多个缺陷，本实用新型提供一种曲轴半圆键槽检测用检具，用于曲轴上的半圆键槽合格性检测，且操作简单，判断方便，成本低。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种曲轴半圆键槽检测用检具，其特征在于：包括检具主体(1)、检测臂(2)及条形塞板(3)；该检具主体(1)上沿横向设有用于与曲轴主轴颈(N-1)同心配合的配合孔(11)，该检具主体(1) 顶面设有通入该配合孔(11)内的塞板插口(12)，该塞板插口(12)位于该配合孔(11)中心线的正上方，该条形塞板(3)插装于该塞板插口(12)内，该条形塞板(3)下端设有用于与曲轴主轴颈半圆键槽(N-3)配合检测的半圆键(31)；该检测臂(2)第一端与该检具主体(1)固接且该检测臂(2)第二端设有用于与曲轴连杆轴颈(N-2)侧壁面配合接触的配合部(21)。

进一步地，所述条形塞板(3)的横截面与该塞板插口(12)的口截面相匹配。

进一步地，所述条形塞板(3)板面上设有横向刻线(32)。

进一步地，所述条形塞板(3)板面上设有竖向刻线(33)。

进一步地，所述检具主体(1)顶面设有纵向刻线(13)，该纵向刻线(13) 将该塞板插口(12)长边垂直平分。

本实用新型的有益效果是：本实用新型用于曲轴上的半圆键槽合格性检测，本检具结构简单，设备成本低，操作方便，可随手携带。而且在检测时，可通过观察刻线，可准确快速地对曲轴上半圆键槽的尺寸及形位公差等技术要求实现一次性结果判断，且单件产品的测量时间可在20秒内，判断依据简单，测量结果可靠，可大量节约生产时间，提高生产效率，节约检测成本及设备成本。

附图说明

图1是本实用新型的分体图。

图2是本实用新型在检测时的立体图。

图3是图2的背向立体图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

参见图1-3一种曲轴半圆键槽检测用检具，包括检具主体1、检测臂2及条形塞板3。

在本实施例中，该检具主体1为块体，该检具主体1上沿横向设有用于与曲轴主轴颈N-1同心配合的配合孔11。

在本实施例中，该配合孔11内径与该曲轴主轴颈N-1上位于靠近该连杆轴颈N-2侧的大径段外径相匹配。

另外，该检具主体1顶面设有沿竖向通入该配合孔11内的塞板插口12，该塞板插口12位于该配合孔11中心线的正上方，该塞板插口12为条形孔且其长边沿横向设置，所述条形塞板3的横截面与该塞板插口12的口截面相匹配，该条形塞板3与该塞板插口12间隙配合。

另外，优选地，该塞板插口12长边方向留有0.5-1mm间隙，由于在检测时，该条形塞板3会随存曲轴主轴颈上的半圆键槽N-3沿轴向偏移，因此能为该条形塞板3在该塞板插口12内沿长边方向偏移留有一定间隙空间。

另外，该条形塞板3下端设有用于与曲轴主轴颈半圆键槽N-3配合检测的半圆键31。

在测量时，该条形塞板3下部插装于该塞板插口12内，该半圆键31伸入该配合孔11内且与曲轴主轴颈半圆键槽N-3的位置相对应。

另外，该检测臂2第一端与该检具主体1固接且该检测臂2第二端朝向该曲轴轴颈N-2一侧延伸且避开设置，检测臂2第二端上设有用于与曲轴轴颈N-2 侧壁面配合接触的配合部21。

在检测时，可按照以下步骤：第一，将有曲轴N的主轴颈N-1插入检具主体1的配合孔11内而实现同心定位，且使该检具主体1侧面与该主轴颈N-1底端面N-11紧贴而实现轴向定位；第二，再将检测臂2沿主轴颈N-1中心转动，并使检测臂2上的配合部21与曲轴轴颈N-2侧壁面配合接触，可使该检具主体 1径向方位定位(此时，该连杆轴颈N-2中心线平行位于该主轴颈N-1中心线的正上方，该塞板插口12宽边同时被其两者的中心线的所对称平分)；第三，将该条形塞板3插于该塞板插口12内，再下压该条形塞板3，并将该条形塞板3 下端的半圆键31插入该曲轴主轴颈的半圆键槽N-3内直至到底。

因此只需通过刻线观察或可借助游标卡尺或标准高度尺等工具验证判断该条形塞板3高出该检具主体1顶面的部分，当该高出部分的高度合格时，该该半圆键槽N-3的各项技术指标即为合格。由于只需检测高度，操作简单，判定方便。

另外，为了便于快速判断其高出部分否满足要求，在所述条形塞板3板面上设有横向刻线32。当条形塞板3插装到底后，该横向刻线32与该检具主体1 顶面相互平齐重合，即可判断合格。因此判断简单，且不需要借助游标卡尺等工具。

另外，为了便于观察半圆键槽N-3深度情况，在所述条形塞板3板面上设有竖向刻线33。可根据该竖向刻线33与该检具主体1顶面线的平齐位置高度，进而判断该半圆键槽N-3深度范围。

优选地，该竖向刻线33上可设置标记数值，可判断深度是否合格，且能量化其深浅偏差值。

另外，所述检具主体1顶面设有纵向刻线13，该纵向刻线13将该塞板插口12长边垂直平分。在检测时，只有当该纵向刻线13与该竖向刻线33相交时，该半圆键槽N-3沿该主轴颈N-1的轴向长度才满足要求，因此可检测该半圆键槽N-3轴向长度。

在检测时，当该半圆键槽N-3的轴长位置沿轴向偏移时，由于该检具主体 1不会沿该主轴颈N-1轴向偏移，而该条形塞板3会沿轴向同步随半圆键槽N-3 偏移，因此该纵向刻线13与该竖向刻线33将不会相交。

综上所述，在采用本检具检测时，仅有当观察到该纵向刻线13、竖向刻线 33及横向刻线32三者相交在一个点上时，才可判断该曲轴上的半圆键槽N-3完全合格。否则，视为不合格。

而且当上述三者相交在一个点时，该半圆键槽N-3的深度、长度、其与曲主轴颈N-1中心线的对称度、其与连杆轴颈N-2中心线的对称度、及其在曲轴上的轴向长度均满足要求。

因此，本实用新型检具结构简单，设备成本低，操作方便，可随手携带。而且在检测时，可通过观察刻线，可准确快速地对曲轴上半圆键槽的尺寸及形位公差等技术要求实现一次性结果判断，且单件产品的测量时间可在20秒内，可在机床加工现场快速检测，判断依据简单，测量结果可靠，可大量节约生产时间，提高生产效率，节约生产成本。

以上详细描述了本实用新型的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本实用新型的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本实用新型的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。