本实用新型涉及超声波检测技术领域，特别涉及一种多用途超声波对比试块。
背景技术：
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新出版的NB/47013-2015中的ⅡA-1试块，可以兼用，但其纵波反射体互相干扰，无法使用，且试块过大，不便使用，反射体利用率不高。
NB/T47013.3-2015第6.3.3.2.2规定：“d)在满足基准灵敏度要求时，试块的人工反射体根据检测需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效试块。”在不改变反射体尺寸的情况下，应该设计一款体积小、使用方便、适用尽可能多的探头与被检工件的调校的试块。
技术实现要素：
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本实用新型要解决的技术问题是提供一种多用途超声波对比试块，该装置实现了体积小，长横孔少，降低了加工难度与成本，适用于多种探头与被检工件的调校，试块制作简单，反射体等效，灵敏度相同，实现直探头与横波斜探头用同一对比试块制作波幅曲线。克服了现有NB47013.3-2015中的ⅡA-1试块纵波反射体互相干扰，无法使用，且试块过大，不便使用，反射体利用率不高的不足。
本实用新型所采取的技术方案是：一种多用途超声波对比试块，包括试块本体；试块本体前后为相同的直角三角形平面，试块本体厚度为40mm，试块本体上设计有贯穿前后两个直角三角形平面的长横孔Ⅰ和长横孔Ⅱ，长横孔Ⅰ和长横孔Ⅱ长度均为40mm，长横孔Ⅰ、长横孔Ⅱ与前后两个直角三角形直角边BC组成的平面距离分别为30mm、10mm，长横孔Ⅰ、长横孔Ⅱ与前后两个直角三角形直角边AC组成的平面距离分别为20mm、40mm，长横孔Ⅰ、长横孔Ⅱ与前后两个直角三角形斜边AB组成的平面距离分别为40mm、30mm。
本实用新型的有益效果是：本实用新型实现了体积小，长横孔少，降低了加工难度与成本，适用于多种探头与被检工件的调校，试块制作简单，反射体等效，灵敏度相同，实现直探头与横波斜探头用同一对比试块制作波幅曲线。
附图说明：
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细的说明。
图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式：
如图1所示，一种多用途超声波对比试块，包括试块本体1；试块本体1前后为相同的直角三角形平面，试块本体1厚度为40mm，试块本体1上设计有贯穿前后两个直角三角形平面的长横孔Ⅰ2和长横孔Ⅱ3，长横孔Ⅰ2和长横孔Ⅱ3长度均为40mm，长横孔Ⅰ2、长横孔Ⅱ3与前后两个直角三角形直角边BC组成的平面距离分别为30mm、10mm，长横孔Ⅰ2、长横孔Ⅱ3与前后两个直角三角形直角边AC组成的平面距离分别为20mm、40mm，长横孔Ⅰ2、长横孔Ⅱ3与前后两个直角三角形斜边AB组成的平面距离分别为40mm、30mm。
横波斜探头曲线制作：
当厚度为6mm-10mm，曲线制作步骤：
1、从BC面扫查长横孔Ⅱ3，得深度为10mm的反射波；
2、从AC面扫查长横孔Ⅰ2，得深度为20mm的反射波；
3、从AB面扫查长横孔Ⅱ3，得深度为30mm的反射波；
4、曲线制作完毕。
当厚度为10mm-20mm，曲线制作步骤：
1、从BC面扫查长横孔Ⅱ3，得深度为10mm的反射波；
2、从AC面扫查长横孔Ⅰ2，得深度为20mm的反射波；
3、从AB面扫查长横孔Ⅱ3，得深度为30mm的反射波；
4、从AB面扫查长横孔Ⅰ2，得深度为40mm的反射波；
纵波直探头或双晶直探头曲线制作：
从BC面得到长横孔Ⅱ3深10mm，长横孔Ⅰ2深30mm；
从AC面得到长横孔Ⅰ2深20mm，长横孔Ⅱ3深40mm。
从AB面得到长横孔Ⅰ2深40mm，长横孔Ⅱ3深30mm。
可以理解的是，以上关于本实用新型的具体描述，仅用于说明本实用新型而并非受限于本实用新型实施例所描述的技术方案，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本实用新型进行修改或等同替换，以达到相同的技术效果；只要满足使用需要，都在本实用新型的保护范围之内。