激光器老化测试设备的制作方法

本实用新型涉及检测设备，特别是涉及一种激光器老化测试设备。

背景技术：

半导体激光器在生产完成后，为保证出厂产品的合格率，需对生产完成的产品进行老化测试，所谓老化测试，即将半导体激光器通电，使其在一定条件下持续工作一段时间，通过老化测试的半导体激光器才允许提供给客户，从而确保了出售的半导体激光器能持续稳定工作。

现有老化测试方式中，一般利用人工操作各种检测设备以启动老化测试、并记录老化测试过程中的各种电气参数。因此，现有老化测试的检测效率较低，无法满足半导体激光器批量生产的要求。

技术实现要素：

基于此，本实用新型提供一种检测效率较高的激光器老化测试设备。

为了实现本实用新型的目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种激光器老化测试设备，包括测试架、设置在所述测试架上的降温板、功率检测器、电源机构、与所述电源机构电气连接的主控制器、及与所述降温板连接的供液组件；所述测试架包括相对设置第一侧框、第二侧框、及安装在所述第一侧框与所述第二侧框之间的辅助基板、负载基板；所述主控制器与所述功率检测器电气连接。

本实用新型的激光器老化测试设备通过设置功率检测器及主控制器，可自动分析半导体激光器在老化测试过程中的发光性能，并实施对半导体激光器在老化测试过程中的保护控制，能同时对多个半导体激光器进行老化，提升了测试的效率。

在其中一个实施例中，所述电源机构设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口；所述降温板上还设有测温槽；所述降温板上的测温槽中安装有温控元件；所述温控元件与所述电源机构的温度检测口连接。

在其中一个实施例中，所述电源机构的数据输出口与所述主控制器连接。

在其中一个实施例中，所述辅助基板与所述负载基板在垂直方向相互重合；所述负载基板上安装有若干所述降温板；所述功率检测器包括主体部、及与所述主体部连接的外延部；所述功率检测器的主体部安装在所述负载基板上，且处于所述降温板的一侧。

在其中一个实施例中，所述降温板与若干所述功率检测器对应；所述降温板上的温控元件与所述功率检测器对应。

在其中一个实施例中，所述供液组件包括送液器、及若干导液管；所述降温板上设有若干液流通道；所述送液器的输出口经所述导液管连接至所述降温板上的液流通道。

在其中一个实施例中，在所述负载基板上，相邻的所述降温板的液流通道经所述导液管连通。

在其中一个实施例中，所述供液组件包括送液器、及若干导液管；所述功率检测器的主体部内设有通流腔；所述送液器经所述导液管连接至所述功率检测器的主体部内的通流腔。

在其中一个实施例中，在所述负载基板上，相邻的所述功率检测器的主体部内的通流腔经所述导液管相互连通。

在其中一个实施例中，所述电源机构安装在辅助基板上。

附图说明

图1为本实用新型的一较佳实施例的激光器老化测试设备的立体示意图；

图2为图1中的基板、降温板、及功率检测器之间的结构示意图；

图3为图2中的圆圈A处的放大图；

图4为图2中的圆圈B处的放大图；

图5A为图1中的降温板的立体示意图；

图5B为图5A中的降温板的C处放大图；

图6为电源机构、主控制器、及功率检测器之间的连接关系图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将对本实用新型进行更全面的描述。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。

请参阅图1至图6，为本实用新型一较佳实施方式的激光器老化测试设备100，用于对半导体激光器200进行老化测试，半导体激光器200两侧设有定位部201，定位部201上设有安装孔202。该激光器老化测试设备100包括测试架10、设置在测试架10上的降温板20、功率检测器30、电源机构40、与电源机构40电气连接的主控制器50、及与降温板20连接的供液组件60；电源机构40与半导体激光器200电气连接，向若干半导体激光器200提供电源；功率检测器30与半导体激光器200对应，以检测半导体激光器200在老化测试过程中的发光功率；主控制器50与功率检测器30电气连接；通过设置功率检测器30及主控制器50，可自动分析半导体激光器200在老化测试过程中的发光性能，并实施对半导体激光器200在老化测试过程中的保护控制，能同时对多个半导体激光器200进行老化，提升了测试的效率。

请参阅图1，测试架10包括相对设置第一侧框11、第二侧框12、及安装在第一侧框11与第二侧框12之间的辅助基板13、负载基板14；辅助基板13、负载基板14水平设置；辅助基板13与负载基板14在垂直方向相互重合。

请参阅图4、图5A及图5B，降温板20上设有若干液流通道21；液流通道21水平连通降温板20的两侧端；降温板20上设有导向孔22，导向孔22与半导体激光器200的卡设部对应；降温板20上还设有测温槽23；降温板20上的测温槽23中安装有温控元件24。

请参阅图3，功率检测器30包括主体部31、及与主体部31连接的外延部32；功率检测器30的主体部31内设有通流腔(图未示)。

请参阅图1，主控制器50上设有显示屏51；供液组件60包括送液器61、及若干导液管62；送液器61通过导液管62输出冷却液。

请参阅图1至图3，降温板20安装在负载基板14上；每一负载基板14上安装有若干降温板20；功率检测器30的主体部31安装在负载基板14上，且处于降温板20的一侧；电源机构40安装在辅助基板13上；每一辅助基板13上安装有若干电源机构40；在本实施例中，每一降温板20与若干功率检测器30对应；降温板20上的温控元件24与功率检测器30对应；送液器61的输出口经导液管62连接至降温板20的液流通道21；在负载基板14上，相邻的降温板20的液流通道21经导液管62连通。

为避免功率检测器30因持续受到激光照射而受损，送液器61还经导液管62连接至功率检测器30的主体部31；在负载基板14上，相邻的功率检测器30的主体部31的通流腔通过导液管62相互连通。

请参阅图6，电源机构40设有电能输出口、温度检测口、及数据输出口。温控元件24与电源机构40的温度检测口连接；电源机构40的数据输出口与主控制器50连接。

在激光器老化测试设备100使用时，每一降温板20上安装若干待测试的半导体激光器200，半导体激光器200上的安装孔202与降温板20上的导向孔22对应，以方便利用固定件(图未示)将半导体激光器200固定在降温板20上；半导体激光器200固定到降温板20上后，测温槽23及温控元件24位于半导体激光器200下方。

送液器61将冷却液泵出，然后冷却液流经各降温板20的液流通道21，以降低因半导体激光器200因运行而产生的温升；冷却液还流经各功率检测器30的通流腔。

半导体激光器200与功率检测器30通过光纤300耦合；光纤300经外延部32后进入半导体激光器200的主体部31内；功率检测器30的主体部31内设有光电二极管，以检查功率检测器30内部光纤300所传导的激光光线的强度。

半导体激光器200与电源机构40的电能输出口连接；电源机构40向各半导体激光器200输出电能，同时电源机构40检测向各半导体激光器200输出的电压及电流大小。

电源机构40通过温控元件24获得各半导体激光器200的发热状况，当半导体激光器200的温度超过一定上限后，电源机构40停止向对应的降温板20上的所有的半导体激光器200提供电能，以避免测试中半导体激光器200或激光器老化测试设备100受损，同时电源机构40向主控制器50发出警告信号。在本实施方式中，温控元件24为热敏电阻；在其他实施方式中，温控元件24为热电偶。

功率检测器30将半导体激光器200在老化测试过程中的发光功率检测数据发送至主控制器50；同时，电源机构40将向半导体激光器200的输出电压及输出电流的相关数据输出至主控制器50；主控制器50根据发光功率检测数据、电压电流数据判断各半导体激光器200的工作性能，并且可直接将检测结果通过显示屏51显示。

本实施例中，通过令负载基板14及辅助基板13在垂直方向上重叠，可节省激光器老化测试设备100的占用空间，同时，方便半导体激光器200安装及取出。通过降温板20承载进行老化测试的半导体激光器200，及送液器61将冷却液通过承载板的液流通道21，使半导体激光器200不会在老化测试过程中不会因温度过高而受损。

本实施例中，通过电源机构、主控制器与半导体激光器的连接、及利用功率检测器检测半导体激光器的发光功率，实现了半导体激光器老化测试过程的自动进行，能同时对多个半导体激光器进行老化测试，提高了检测的效率。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。