一种IC测试探针的制作方法

本实用新型涉及IC测试设备技术领域，具体为一种IC测试探针。

背景技术：

IC，即集成电路，是采用半导体制作工艺，在一块较小的单晶硅片上制作上许多晶体管及电阻器、电容器等元器件，并按照多层布线或遂道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路，在集成电路的生产加工过程中经常需要使用探针进行检测，目前使用的探针使用过程中不便于安装在测试插座上，并且在检测过程中探针的长度不能根据使用需要快速的调节长度，以及不便更换不同的探针型号，对检测造成了很大的不便。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种IC测试探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC测试探针，包括连接套筒、滑动伸缩装置和探测主体,所述滑动伸缩装置固定卡接在连接套筒的内部，所述滑动伸缩装置的底端固定安装有固定槽板，所述固定槽板的上端滑动卡接有移动滑块，所述移动滑块上端面固定连接有橡胶块，所述连接套筒上螺纹转动有旋拧固定钮，所述连接套筒的一端固定连接有第二保护弹簧，所述连接套筒的另一端固定连接有第一保护弹簧，所述第二保护弹簧背离连接套筒的一侧固定连接有第一连接套环，所述第一保护弹簧背离连接套筒的一侧固定有第二连接套环，所述第一连接套环和第二连接套环背离连接套筒的端头均卡接有探测主体，所述探测主体的一端安装有螺纹连接柱，所述螺纹连接柱背离连接套筒的一端焊接有卡环，所述卡环背离螺纹连接柱的一端卡接有探针。

优选的，所述第一保护弹簧对着连接套筒的一端与固定槽板相固定连接。

优选的，所述第二保护弹簧对着连接套筒的一端与移动滑块相固定连接。

优选的，所述第二保护弹簧与第一连接套环以及第一保护弹簧与第二连接套环之间固定连接有支撑柱。

优选的，所述连接套筒外部两侧对称镶嵌有橡胶防滑颗粒。

优选的，所述第二连接套环和第一连接套环背离连接套筒的端头均螺纹固定有螺纹连接柱。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型连接套筒外部两侧对称镶嵌有橡胶防滑颗粒，大大增大了摩擦力，从而方便了检测过程中将装置固定在测试插座上，连接套筒内部卡接有滑动伸缩装置，且第一保护弹簧对着连接套筒的一端与固定槽板相固定连接，第二保护弹簧对着连接套筒的一端与移动滑块相固定连接，通过抽拉第二保护弹簧即可调整整个装置的长度，通过旋拧旋拧固定钮使得旋拧固定钮的底端挤压橡胶块从而将长度固定，大大方便了检测过程中对不同长度的调节。

2、本实用新型连接套筒两侧对称安装了第二保护弹簧和第一保护弹簧，能够在检测的过程中有效的缓解探针所受到的压力和撞击力，从而有效的保护了探针,第二连接套环和第一连接套环背离连接套筒的端头均螺纹固定有螺纹连接柱，且不同型号的探针可以卡接在螺纹连接柱一端的卡环内部，从而可以根据使用需要快捷的更换不同的型号的探针，大大方便了对IC的检测。

附图说明

图1为本实用新型主体结构示意图；

图2为本实用新型滑动伸缩装置结构示意图；

图3为本实用新型探测主体结构示意图。

图中：1-第一连接套环；2-旋拧固定钮；3-连接套筒；4-滑动伸缩装置；5-第二连接套环；6-探测主体；7-第一保护弹簧；8-第二保护弹簧；9-橡胶块；10-固定槽板；11-移动滑块；12-螺纹连接柱；13-探针；14-卡环。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种IC测试探针，包括连接套筒3、滑动伸缩装置4和探测主体6,滑动伸缩装置4固定卡接在连接套筒3的内部，滑动伸缩装置4的底端固定安装有固定槽板10，固定槽板10的上端滑动卡接有移动滑块11，移动滑块11上端面固定连接有橡胶块9，连接套筒3上螺纹转动有旋拧固定钮2，通过旋拧旋拧固定钮2使得旋拧固定钮2的底端挤压橡胶块9从而将长度固定，大大方便了检测过程中对不同长度的调节，连接套筒3的一端固定连接有第二保护弹簧8，连接套筒3的另一端固定连接有第一保护弹簧7，能够在检测的过程中有效的缓解探针13所受到的压力和撞击力，从而有效的保护了探针13,第二保护弹簧8背离连接套筒3的一侧固定连接有第一连接套环1，第一保护弹簧7背离连接套筒3的一侧固定有第二连接套环5，第一连接套环1和第二连接套环5背离连接套筒3的端头均卡接有探测主体6，探测主体6的一端安装有螺纹连接柱12，螺纹连接柱12背离连接套筒3的一端焊接有卡环14，不同型号的探针13可以卡接在螺纹连接柱12一端的卡环14内部，从而可以根据使用需要快捷的更换不同的型号的探针13，大大方便了对IC的检测，卡环14背离螺纹连接柱12的一端卡接有探针13。

第一保护弹簧7对着连接套筒3的一端与固定槽板10相固定连接，第二保护弹簧8对着连接套筒3的一端与移动滑块11相固定连接，通过抽拉第二保护弹簧8即可调整整个装置的长度，第二保护弹簧8与第一连接套环1以及第一保护弹簧7与第二连接套环5之间固定连接有支撑柱，连接套筒3外部两侧对称镶嵌有橡胶防滑颗粒，大大增大了摩擦力，从而方便了检测过程中将装置固定在测试插座上，第二连接套环5和第一连接套环1背离连接套筒3的端头均螺纹固定有螺纹连接柱12。

工作原理：在使用本实用新型的过程中，连接套筒3外部两侧对称镶嵌有橡胶防滑颗粒，大大增大了摩擦力，从而方便了检测过程中将装置固定在测试插座上，连接套筒3内部卡接有滑动伸缩装置4，且第一保护弹簧7对着连接套筒3的一端与固定槽板10相固定连接，第二保护弹簧8对着连接套筒3的一端与移动滑块11相固定连接，通过抽拉第二保护弹簧8即可调整整个装置的长度，通过旋拧旋拧固定钮2使得旋拧固定钮2的底端挤压橡胶块9从而将长度固定，大大方便了检测过程中对不同长度的调节，连接套筒3两侧对称安装了第二保护弹簧8和第一保护弹簧7，能够在检测的过程中有效的缓解探针13所受到的压力和撞击力，从而有效的保护了探针13,第二连接套环5和第一连接套环1背离连接套筒3的端头均螺纹固定有螺纹连接柱12，且不同型号的探针13可以卡接在螺纹连接柱12一端的卡环14内部，从而可以根据使用需要快捷的更换不同的型号的探针13，大大方便了对IC的检测。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。