本实用新型涉及自动控制领域，特别是涉及一种光谱仪X射线控制系统及手持式光谱仪。
背景技术：
手持式光谱仪是一种基于XRF(X Ray Fluorescence，X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器，主要由X光管、探测器、CPU以及存储器组成，由于其便携具有高效、便携、准确等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有着重要的应用。
传统的手持式荧光光谱仪在进行测试时，需扣下扳机并长按进行测试，若在测试过程中手指松动，容易导致测试中断，测试数据的准确率不佳，且造成仪器硬件的损坏。
此外，扳机在长时间扣压下，内部金属接触面容易出现物理损耗和老化，影响使用周期，并增加维修成本。
技术实现要素：
基于此，有必要针对测试数据的准确率不佳的问题，提供一种光谱仪X射线控制系统及手持式光谱仪。
一种光谱仪X射线控制系统，包括主控模块、触动开关及X射线管；
所述主控模块、触动开关及X射线管依次连接；
所述主控模块用于检测来自所述触动开关的触发信号，并向触动开关输出控制指令，控制所述触动开关闭合或断开；
所述X射线管用于在所述触动开关闭合时发射X射线，在所述触动开关断开时停止发射X射线。
在其中一个实施例中，所述光谱仪X射线控制系统还包括扳机，所述扳机连接触动开关，所述扳机用于根据用户的扳动操作控制所述触动开关产生触发信号。
在其中一个实施例中，所述扳机为一键式扳机。
在其中一个实施例中，所述光谱仪X射线控制系统还包括探测模块，所述探测模块连接主控模块，用于探测待测物，并将探测信号发送至主控模块。
在其中一个实施例中，所述探测模块包括探测器和模数转换器，所述探测器连接模数转换器；所述探测器用于接收来自待测物反馈的X射线荧光，并将 X射线荧光转换为电脉冲信号；所述模数转换器用于将所述电脉冲信号转换为数字信号，并将所述数字信号发送至主控模块。
在其中一个实施例中，所述探测器为半导体探测器。
在其中一个实施例中，所述光谱仪X射线控制系统还包括显示屏，所述显示屏连接主控模块，用于显示探测值，并用于接收输入的控制参数。
在其中一个实施例中，所述光谱仪X射线控制系统还包括LED指示灯，所述LED指示灯连接主控模块，用于指示检测状态。
在其中一个实施例中，所述光谱仪X射线控制系统还包括电源，所述电源为动力锂电池，用于对所述主控模块、触动开关、X射线管和探测模块进行供电。
一种手持式光谱仪，包括上述的光谱仪检测控制系统。
上述光谱仪检测控制系统，利用主控模块检测触动开关的触发信号，并根据触发信号向触动开关输出控制指令，使触动开关在预设测试时间内保持闭合， X射线管发射X射线；在大于预设测试时间时保持断开，X射线管停止发射X 射线。由于在预设测试时内自动完成测试，因此避免了在测试时长按扳机所导致测试数据的准确率不佳的问题。
附图说明
图1为一实施例的光谱仪X射线控制系统结构示意图；
图2为另一实施例的光谱仪X射线控制系统结构示意图；
图3为另一实施例的光谱仪X射线控制系统结构示意图；
图4为另一实施例的光谱仪X射线控制系统结构示意图。
具体实施方式
图1为一实施例的光谱仪X射线控制系统，该系统包括主控模块100、触动开关200及X射线管300。其中，主控模块100、触动开关200及X射线管 300依次连接。
主控模块100用于检测来自触动开关200的触发信号，并向触动开关200 输出控制指令，控制触动开关200闭合或断开，使触动开关200在预设测试时间内保持闭合；在大于预设测试时间时保持断开。
X射线管300用于在触动开关200闭合时发射X射线，在触动开关200断开时停止发射X射线。
在本实施例中，主控模块100可以存储有预设测试时间，该预设测试时间包括最小预设测试时间和最大预设测试时间。最小预设测试时间表示从开始测试到显示测试数据所需的最少时间；最大预设测试时间表示完成测试所需的最多时间。最小预设测试时间和最大预设测试时间根据所选择的测试模式不同而不同，例如：在铝合金测试模式中，最小预设测试时间为3秒，最大预设测试时间为20秒；在轻元素测试模式中，最小预设测试时间为5秒，最大预设测试时间为60秒。
具体地，主控模块100接收来自触动开关200的触发信号，根据触发信号向触动开关200发送闭合控制指令。当触动开关200接收到闭合控制指令时，闭合触动开关200，并且在预设测试时间内都保持闭合状态，此时X射线管300 发射X射线测试待测物。当测试时间达到预设测试时间时，主控模块100向触动开关200发送断开控制指令，断开触动开关200，停止X射线的发射。可以理解地，如果在测试过程中，主控模块100再次接受到触发信号，则向触动开关200发送断开控制指令，断开触动开关200，X射线管300提前停止发射X 射线。
具体地，主控模块100还用于向触动开关200主动输出控制指令。主控模块100主动向触动开关200输出控制指令指的是：主控模块100无需接收触动开关200的触发信号，而是根据用户输入的控制信号向触动开关200发送控制指令，主动控制触动开关200的闭合或断开，使X射线管300发射X射线或停止发射X射线。同时，在用户设置的预设测试时间内，触动开关200保持闭合， X射线管300持续发射X射线；当测试时间达到预设测试时间时，触动开关200 自动关闭，X射线管300停止发射X射线。
上述光谱仪检测控制系统，利用主控模块100检测来自触动开关200的触发信号，并根据触发信号向触动开关200输出控制指令，使触动开关200在预设测试时间内保持闭合，X射线管300发射X射线；在大于预设测试时间时保持断开，X射线管300停止发射X射线。由于在预设测试时内自动完成测试，因此避免了在测试时长按扳机所导致测试数据的准确率不佳的问题。
进一步地，如图2所示，光谱仪X射线控制系统还包括扳机400。其中，扳机400连接触动开关200，扳机400用于根据用户的扳动操作控制所述触动开关200产生触发信号。
具体地，扳机400为一键式扳机。一键式扳机设置为用户扣压一次扳机则触发触动开关200的触发信号。当用户扣压一次扳机400，触动开关200便向主控模块100发送触发信号，主控模块100根据触发信号控制触动开关200闭合，且在预设测试时间内都保持闭合状态。若需要在预设测试时间内停止测试，只需再次扣压一次扳机400，主控模块100自动控制触动开关200断开。
在本实施例中，用户只需扣压一次扳机，触动开关200在预设测试时间内自动保持闭合状态，使得X射线管300在预设测试时间内自动发射X射线测试待测物。因此，本申请光谱仪X射线控制系统避免了：在测试时，用户因长按扳机400，而导致的扳机400内部金属接触面出现物理损耗和老化，影响使用周期，并增加维修成本的情况。
进一步地，如图3所示，光谱仪X射线控制系统还包括探测模块500，探测模块500连接主控模块100，用于探测待测物，并将探测信号发送至主控模块 100。
具体地，探测模块500包括探测器510和模数转换器520，探测器510连接模数转换器520。探测器510用于接收来自待测物反馈的X射线荧光，并将X 射线荧光转换为电脉冲信号；模数转换器520用于将电脉冲信号转换为数字信号，并将数字信号发送至主控模块100。
在本实施例中，主控模块100自动分析探测器510所探测的待测物探测值，并存储该探测值。用户根据该探测值与预设值的比较信息，并进行分析计算可得到待测物的元素组成信息。
具体地，探测器510为半导体探测器。其中，半导体探测器为X射线荧光探测器中的一种，其是以半导体材料为探测介质的辐射探测器。例如，利用锗和硅作为半导体探测材料。
进一步地，如图4所示，光谱仪X射线控制系统还包括显示屏600，显示屏600连接主控模块100，用于显示探测值，并用于接收输入的控制参数。
在本实施例中，显示屏600用于提供测试结果的显示窗口，测试结果包括探测值与预设值的对比关系，测试数据分析结果等。显示屏600还提供用户输入测试数据参数的输入界面。
进一步地，如图4所示，光谱仪X射线控制系统还包括LED指示灯700， LED指示灯700连接主控模块100，用于指示检测状态。
在本实施例中，当主控模块100开机接通电源时，LED指示灯700显示绿色指示灯；当主控模块100进行检测时，LED指示灯700闪烁红色指示灯。
具体地，光谱仪X射线控制系统还包括电源800，电源800为动力锂电池，用于对主控模块100、触动开关200、X射线管300和探测模块500进行供电。
一种手持式光谱仪，包括上述的光谱仪检测控制系统。
上述光谱仪检测控制系统，利用主控模块100检测触动开关200的触发信号，并根据触发信号向触动开关200输出控制指令，使触动开关200在预设测试时间内保持闭合，X射线管300发射X射线；在大于预设测试时间时保持断开，X射线管300停止发射X射线。由于在预设测试时内自动完成测试，因此避免了在测试时长按扳机所导致测试数据的准确率不佳的问题。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。