本实用新型涉及电镜分析仪，具体为一种电镜分析仪上的样品固定装置。
背景技术：
透射电子显微镜可以同时分析微区的组织形态、晶体结构、组成元素等，是固体材料分析强有力的工具之一。电镜的成像原理是高能电子束穿透样品，透射电子经过聚焦与放大，采用探测器收集信号并成像。目前，电镜扫描固定样品采用机械螺丝拧紧、螺丝刀拧紧等方式，这样可能会很多的人为故障，还有可能会损坏辛苦制作的样品或承载样品器皿，增加了操作人员的工作量，也加大了仪器的维修费用。有时需测样品的承载器皿高度和宽度都有一定的规格，这时需要灵活调节样品座上的固定装置，现在的固定装置较为单一。不能满足一些特定规格的样品承载器皿，使用不方便。
技术实现要素：
本实用新型所解决的技术问题在于提供一种电镜分析仪上的样品固定装置，能解决由于机械固定可能产生的样品承载器皿的损坏，固定螺丝的机械损坏，降低了仪器的维修费用、样品的污染概率以及操作人员的工作量。
本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现：一种电镜分析仪上的样品固定装置，包括样品座固定杆、承载样品座、弹片A、弹片B、螺丝A、螺丝B、压片，所述样品固定杆连接所述承载样品座，所述螺丝A和所述螺丝B固定于所述承载样品座的外侧边缘，所述弹片A的一端固定于所述螺丝A，所述弹片B的一端固定于所述螺丝B，所述弹片A和所述弹片B连接一所述压片。
本实用新型中，所述样品固定杆焊接连接所述承载样品座。
本实用新型中，所述承载样品座一侧边缘部位开设有两个螺丝孔。
本实用新型中，所述弹片A和所述弹片B为铜片。
本实用新型中，所述弹片A和所述弹片B的一端连接有一弧形凸起的所述压片。
本实用新型中，所述弹片A和所述弹片B由两个螺母固定，所述弹片A和所述弹片B呈“Z”字形状，且固定的一端可自由旋转。
本实用新型中，所述螺丝A和所述螺丝B可拧紧和释放所述弹片A和所述弹片B。
本实用新型的有益效果：本实用新型能解决由于机械固定可能产生的样品承载器皿的损坏，满足不同承载器皿的不同固定要求，特别是弹片的“Z”形结构的设计，使得设计更加的简单，合理，降低以往电镜样品座的高成本制作，降低了仪器的维修费用、样品的污染概率以及操作人员的工作量。
附图说明
图1为本实用新型外部结构示意图；
图2为被实用新型俯视外部结构示意图。
图中：样品座固定杆-1；承载样品座-2；弹片A-3；弹片B-4；螺丝A-5；螺丝B-6；压片-7；螺丝孔-8。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。
实施例：如图1和图2所示，一种电镜分析仪上的样品固定装置，包括样品座固定杆1、承载样品座2、弹片A3、弹片B4、螺丝A5、螺丝B6、压片7，所述样品固定杆1连接所述承载样品座2，所述螺丝A5和所述螺丝B6固定于所述承载样品座2的外侧边缘，所述弹片A3的一端固定于所述螺丝A5，所述弹片B4的一端固定于所述螺丝B6，所述弹片A3和所述弹片B4连接一所述压片7。
使用方法：使用时，将承载样品的器皿放置于所述承载样品座2上，再利用所述弹片A3和所述弹片B4固定，在固定的过程中，根据承载器皿的尺寸，再利用所述螺丝A5、所述螺丝B6拧进(拧松)螺孔8，调节所述弹片A3和所述弹片B4的固定的高度，通过所述弹片A3和所述弹片B4的旋转一侧调节固定的宽度，灵活调节，以适应不同检测样品器皿的需求，弧形所述压片7的设计是为了防止弹片划伤承载器皿。将样品固定好后，将所述样品座固定杆1放置于电镜固定台上，进行检测。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征及本实用新型的优点，本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内，本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。