一种光分路器测试设备的制作方法

文档序号:15042632发布日期:2018-07-27 21:50阅读:207来源:国知局

本实用新型涉及一种光分路器,特别涉及一种光分路器测试设备。



背景技术:

光分路器又称分光器,是光纤链路中重要的无源器件之一,是具有多个输入端和多个输出端的光纤汇接器件,而光分路器随着网络的普及,运用的越来越广泛,光分路器在生产后都需要进行测试,而一般测试光分路器大多为插接式测试,并不能够测试光分路器在高温环境下的回波损耗值。



技术实现要素:

本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种光分路器测试设备,能够测试光分路器在高温环境下的回波损耗值。

为了解决上述技术问题,本实用新型提供了如下的技术方案:

本实用新型一种光分路器测试设备,包括光分路器,所述光分路器的一侧设置有第一光万用表,所述光分路器的另一侧设置有第二光万用表,所述光分路器的外表面设置有分光接口,所述光分路器的外侧设置有电加热器,所述电加热器的内部开设有容纳腔,且光分路器、第一光万用表和第二光万用表均位于容纳腔内,所述电加热器的顶部安装有盖板,所述盖板与电加热器之间设置有连接轴,所述电加热器的底部固定安装有中央处理器,所述中央处理器的外表面设置有PLC温控面板,所述中央处理器的外侧开设有电源接口,所述容纳腔的内部还设置有蓄电池组。

作为本实用新型的一种优选技术方案,所述光分路器通过分光接口与第一万用表电性连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案,所述光分路器与蓄电池组电性连接。

作为本实用新型的一种优选技术方案,所述电加热器的外壳由透明玻璃材料制作而成。

作为本实用新型的一种优选技术方案,所述电加热器和中央处理器电性连接。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

本实用新型通过光分路器和第一光万用表、第二光万用表相互配合,且在电加热器的容纳腔内进行高温测试,通过中央处理器外表面的PLC温控面板能够进行精准控温,防止温度过高,能够测试光分路器在高温环境下的回波损耗值,更方便检测光分路器,提高光分路器的生产质量。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型,并不构成对本实用新型的限制。在附图中:

图1是本实用新型的整体结构示意图;

图中:1、光分路器;2、第一光万用表;3、第二光万用表;4、分光接口;5、电加热器;6、容纳腔;7、盖板;8、连接轴;9、中央处理器;10、PLC温控面板;11、电源接口;12、蓄电池组。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

其中附图中相同的标号全部指的是相同的部件。

此外,如果已知技术的详细描述对于示出本实用新型的特征是不必要的,则将其省略。需要说明的是,下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向,词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。

实施例1

如图1所示,本实用新型提供一种光分路器测试设备,包括光分路器1,光分路器1的一侧设置有第一光万用表2,用于为光分路器1提供电源,光分路器1的另一侧设置有第二光万用表3,用于测量光分路器1的回波损耗值,光分路器1的外表面设置有分光接口4,便于第一光万用表2通过多个分光接口4进行测试,方便测试光分路器1的不同分光接口4的回波损耗值,光分路器1的外侧设置有电加热器5,用于为分光器4测试不同温度环境下的回波损耗值,电加热器5的内部开设有容纳腔6,且光分路器1、第一光万用表2和第二光万用表3均位于容纳腔6内,电加热器5的顶部安装有盖板7,盖板6与电加热器5之间设置有连接轴8,盖板6与电加热器5通过连接轴8合页连接,电加热器5的底部固定安装有中央处理器9,中央处理器9的外表面设置有PLC温控面板10,中央处理器9的外侧开设有电源接口11,容纳腔6的内部还设置有蓄电池组12。

进一步的,光分路器1通过分光接口4与第一万用表2电性连接,第一万用表2通过光分路器1外表面的分光接口4提供光源。

光分路器1与蓄电池组12电性连接,通过蓄电池组12便于为光分路器1提供电能。

电加热器5的外壳由透明玻璃材料制作而成,透明玻璃材料制作而成的外壳能够方便观察电加热器5内容纳腔6中的第一光万用表2和第二光万用表3显示参数。

电加热器5和中央处理器9电性连接,方便通过中央处理器9由PLC温控面板10控制电加热器5在容纳腔6内的加温。

具体的,在光分路器1的一侧设置有第一光万用表2,用于为光分路器1提供电源,光分路器1的另一侧设置有第二光万用表3,用于测量光分路器1的回波损耗值,光分路器1的外表面设置有分光接口4,便于第一光万用表2通过多个分光接口4进行测试,蓄电池组12为光分路器1、第一光万用表2和第二光万用表3提供电能,方便测试光分路器1的不同分光接口4的回波损耗值,光分路器1的外侧设置有电加热器5,电加热器5的加热最大值为40度,用于为分光器4测试不同温度环境下的回波损耗值,电加热器5的内部开设有容纳腔6,且光分路器1、第一光万用表2和第二光万用表3均位于容纳腔6内,电加热器5的顶部安装有盖板7,盖板7与电加热器5之间设置有连接轴8,盖板7与电加热器5通过连接轴8合页连接,方便更换光分路器1进行测试,电加热器5的底部固定安装有中央处理器9,中央处理器9的外表面设置有PLC温控面板10,能够控制电加热器5的温度变化,便于测试光分路器1在高温环境下的回波损耗值,方便中央处理器9通过电源接口11连接电源。

本实用新型通过光分路器1和第一光万用表2、第二光万用表3相互配合,且在电加热器5的容纳腔6内进行高温测试,通过中央处理器9外表面的PLC温控面板10能够进行精准控温,防止温度过高,能够测试光分路器在高温环境下的回波损耗值,更方便检测光分路器1,提高光分路器1的生产质量。

最后应说明的是:以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已,并不用于限制本实用新型,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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