技术总结
本实用新型涉及一种轴承套圈综合测量仪表台，包括套圈挟持台面、上端面翘曲测量机构、下端面翘曲测量机构和外圈平整度测量机构，所述的套圈挟持台面用于固定轴承套圈；所述的上端面翘曲测量机构可上下移动的第一仪表，用于测量上端面的翘曲度；所述的下端面翘曲测量机构包括可上下移动的第二仪表，用于测量下端面的翘曲度；所述的外圈平整度测量机构包括可左右移动的第三仪表，用于测量外圈的平整度。本实用新型能一次性测量轴承套圈上下两端端面翘曲度以及外圈平整度的测量仪表台，减轻了检测工人的劳动量，增加了检测效率。
技术研发人员：李惠祥
受保护的技术使用者：长兴衡鑫仪表科技有限公司
技术研发日：2017.12.25
技术公布日：2018.08.24