技术特征：
技术总结
本发明涉及用于齿状测试样本的超声测试的超声探头适配器、用于检测齿状测试样本中的缺陷的超声测试方法和超声测试系统。特别是，本发明涉及一种用于齿状测试样本(特别是外部齿状测试样本(100、100’、101))的超声测试的超声探头适配器(1、1’)，该超声探头适配器包括：探头侧(10、10’)，该探头侧优选地在超声测试期间背对测试样本(100、100’、101)；测试样本侧(20、20’)，该测试样本侧优选地在超声测试期间面向测试样本(100、100’、101)；其中，探头侧(10、10’)和测试样本侧(20、20’)均具有：纵向长度(L)；厚度(D)，该厚度从探头侧(10、10’)延伸到测试样本侧(20、20’)；以及宽度(B)，该宽度与厚度(D)正交地且与探头侧(10、10’)的纵向长度和/或测试样本侧(20、20’)的纵向长度正交地延伸，其中，测试齿接部(21)布置在测试样本侧(20、20’)上。
技术研发人员：R·汤姆森
受保护的技术使用者：维斯塔斯风力系统有限公司
技术研发日：2017.03.14
技术公布日：2018.11.09