技术特征：
技术总结
本发明涉及对珍珠层厚度进行测量的技术领域，具体公开了一种利用OCT系统测量人工培植珍珠层厚度的方法，其包括以下步骤：步骤一，在时域OCT系统下，取得反射光的亮度值以显示断层图像，取得珍珠层的横断面图像；步骤二，根据横断面图像，估算珍珠层内部和外部的轨迹；步骤三，根据珍珠层内部和外部的轨迹，计算珍珠层的厚度。本发明采用OCT技术对珍珠层厚度进行测量，可以准确地检测珍珠珠面的圆浑度、珍珠层的均匀性等；对珍珠不会造成损耗，保证了测量的安全性；检测的精度高，满足国家标准的检测方式达到的精度。
技术研发人员：潘朗星;张志洪;苏文杰
受保护的技术使用者：香港生产力促进局
技术研发日：2018.02.27
技术公布日：2018.08.10