一种芯片测试防静电装置的制作方法

文档序号:15380776发布日期:2018-09-07 23:59阅读:276来源:国知局

本发明涉及芯片测试领域,具体地,涉及一种芯片测试防静电装置。



背景技术:

芯片,又称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、集成电路(英语:integratedcircuit,ic)。是指内含集成电路的硅片,体积很小,常常是计算机或其他电子设备的一部分。

芯片在制作完成后需要进行测试,芯片在进行测试需要放静电,静电对芯片的危害是很大的,一不小心就会导致芯片的失效,损失就大了。

在现有技术中,主要采用防静电手套和手环进行防静电,导致防静电手套浪费严重,且不同的芯片需要到不同的机位上去进行测试效率较低。



技术实现要素:

本发明提供了一种芯片测试防静电装置,解决了现有的芯片测试防静电手套浪费严重,且不同的芯片需要到不同的机位上去进行测试效率较低的技术问题,实现了装置设计合理,节约防静电手套,芯片测试效率较高的技术效果。

为实现上述发明目的,

本技术:
提供了一种芯片测试防静电装置,所述装置包括:

底座、测试主机、测试连接端、芯片放置盒、波纹软管、真空吸盘、防静电手套、防静电手环、蓄电池、风干机;

所述底座上表面设有绝缘层,所述底座内为空腔状且底座侧面设有开口,蓄电池和风干机安装在底座空腔内,蓄电池与风干机连接,底座设有进风口和出风口,出风口处设有挂钩,防静电手套挂放在挂钩处,防静电手套通过第一绳与底座侧面连接,防静电手环通过第二绳与底座侧面连接,测试主机、测试连接端安装在底座上表面,测试主机与测试连接端连接,波纹软管一端与底座连接,波纹软管另一端与真空吸盘连接,底座上表面设有导轨,导轨一端延伸至测试连接端侧面,导轨另一端延伸至底座侧面,芯片放置盒通过滑块与导轨滑动连接。

其中,本发明的原理为:在对芯片进行测试时,首先工作人员佩戴上防静电手套、防静电手环,然后利用真空吸盘将芯片吸附至芯片放置盒内,利用芯片放置盒能够进行滑动,便于将芯片的连接端与测试连接端进行配合连接,适应不同型号不同长度的芯片连接进行测试,测试效率较高,且测试完成后将防静电套放置在空腔内,利用风干机进行风干,消除手套内残留汗液,便于下次利用,节约手套。

进一步的,所述导轨上设有绝缘层。

进一步的,芯片放置盒上设有多个凹槽,且多个凹槽的形状和尺寸互不相同。便于不同型号的芯片固定。

进一步的,所述底座下表面设有带刹脚轮。利用带刹脚轮便于移动。

进一步的,所述装置还包括led照明灯、支架,led照明灯通过支架与底座连接,led照明灯与蓄电池连接。利用led照明灯照明便于进行测试。

本申请提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

解决了现有的芯片测试防静电手套浪费严重,且不同的芯片需要到不同的机位上去进行测试效率较低的技术问题,实现了装置设计合理,节约防静电手套,芯片测试效率较高的技术效果。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解,构成本申请的一部分,并不构成对本发明实施例的限定;

图1是本申请中芯片测试防静电装置的结构示意图。

具体实施方式

本发明提供了一种芯片测试防静电装置,解决了现有的芯片测试防静电手套浪费严重,且不同的芯片需要到不同的机位上去进行测试效率较低的技术问题,实现了装置设计合理,节约防静电手套,芯片测试效率较高的技术效果。

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在相互不冲突的情况下,本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述范围内的其他方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

请参考图1,本申请提供了一种芯片测试防静电装置,所述装置包括:

底座1、测试主机2、测试连接端3、芯片放置盒4、波纹软管5、真空吸盘6、防静电手套7、防静电手环8、蓄电池9、风干机10;

所述底座上表面设有绝缘层,所述底座内为空腔状且底座侧面设有开口,蓄电池和风干机安装在底座空腔内,蓄电池与风干机连接,底座设有进风口和出风口,出风口处设有挂钩13,防静电手套挂放在挂钩处,防静电手套通过第一绳11与底座侧面连接,防静电手环通过第二绳12与底座侧面连接,测试主机、测试连接端安装在底座上表面,测试主机与测试连接端连接,波纹软管一端与底座连接,波纹软管另一端与真空吸盘连接,底座上表面设有导轨,导轨一端延伸至测试连接端侧面,导轨另一端延伸至底座侧面,芯片放置盒通过滑块与导轨滑动连接。

其中,本发明的原理为:在对芯片进行测试时,首先工作人员佩戴上防静电手套、防静电手环,然后利用真空吸盘将芯片吸附至芯片放置盒内,利用芯片放置盒能够进行滑动,便于将芯片的连接端与测试连接端进行配合连接,适应不同型号不同长度的芯片连接进行测试,测试效率较高,且测试完成后将防静电套放置在空腔内,利用风干机进行风干,消除手套内残留汗液,便于下次利用,节约手套。

进一步的,所述导轨上设有绝缘层。

进一步的,芯片放置盒上设有多个凹槽,且多个凹槽的形状和尺寸互不相同。便于不同型号的芯片固定。

进一步的,所述底座下表面设有带刹脚轮。利用带刹脚轮便于移动。

进一步的,所述装置还包括led照明灯、支架,led照明灯通过支架与底座连接,led照明灯与蓄电池连接。利用led照明灯照明便于进行测试。

本申请提供的一个或多个技术方案,至少具有如下技术效果或优点:

解决了现有的芯片测试防静电手套浪费严重,且不同的芯片需要到不同的机位上去进行测试效率较低的技术问题,实现了装置设计合理,节约防静电手套,芯片测试效率较高的技术效果。

尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。



技术特征:

技术总结
本发明公开了一种芯片测试防静电装置,包括:底座、测试主机、测试连接端、芯片放置盒、波纹软管、真空吸盘、防静电手套、防静电手环、蓄电池、风干机;蓄电池和风干机安装在底座空腔内,底座设有进风口和出风口,出风口处设有挂钩,防静电手套挂放在挂钩处,测试主机、测试连接端安装在底座上表面,测试主机与测试连接端连接,波纹软管一端与底座连接,波纹软管另一端与真空吸盘连接,底座上表面设有导轨,导轨一端延伸至测试连接端侧面,导轨另一端延伸至底座侧面,芯片放置盒通过滑块与导轨滑动连接。实现了装置设计合理,节约防静电手套,芯片测试效率较高的技术效果。

技术研发人员:李震
受保护的技术使用者:成都平阿迪科技有限公司
技术研发日:2018.03.19
技术公布日:2018.09.07
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