技术特征：
技术总结
本发明提供一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法，它有以下步骤：一、对高速光耦进行低频宽带噪声测试；二、分别对应不同温度温度应力下进行恒定应力加速退化试验；三、进行恒定应力加速退化试验期间每周对高速光耦进行一次低频宽带噪声测试；四、基于低频宽带噪声电压的退化模型；五、根据基于低频宽带噪声的退化模型，计算出合格高速光耦器件的低频宽带噪声能满足的范围，用于高速光耦器件的筛选中；本发明提供一种基于低频宽带噪声的高速光耦筛选方法，给出了一种通过高速光耦微观参数对高速光耦进行筛选的新方法，在高速光耦筛选方面具有广阔应用前景。
技术研发人员：高成;张科辉;黄姣英;张利彬;张俊
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
技术研发日：2018.03.26
技术公布日：2018.09.25