技术特征：
技术总结
本发明提供一种新的原边检测电路和原边检测方法，适用于副边反馈控制方式的电路中，包括采样延时电路，上升沿判断电路，下降沿判断电路和时间检测电路。所述的采样延时电路用于屏蔽在原边主MOS管在关断以后出现的震荡，因为震荡会被后面的电路误检测造成控制异常，所述的上升沿判断电路是用于判断辅助绕组电压有没有出现电压上升斜率的，所述的下降沿判断电路是用于判断辅助绕组电压有没有出现电压下降斜率的，时间检测电路是用于检测上升沿到下降沿之间的时间的。本发明不需要额外的串联和并联二极管，减小占板面积，降低成本，抗干扰能力加强，提高了产品的可靠性。
技术研发人员：赵永宁;肖华
受保护的技术使用者：广州金升阳科技有限公司;深圳南云微电子有限公司
技术研发日：2018.09.13
技术公布日：2019.02.01