移动式多工站测试烧录线及其工艺流程的制作方法

文档序号:16777719发布日期:2019-02-01 18:51阅读:416来源:国知局
移动式多工站测试烧录线及其工艺流程的制作方法

本发明涉及集成电路板制造技术领域,尤其涉及一种移动式多工站测试烧录线及其工艺流程。



背景技术:

集成电路板测试与烧录为集成电路板行业内相当普遍的制程,集成电路板根据产品设计与其功能要求,可能需要配合多种测试站与烧录站以进行生产,由于集成电路板的测试时间与烧录时间可能较长,因而在既定的测试时间条件下如何使集成电路板在各测试站、烧录站之间的流转、装载时间最小化便是影响生产效率的一大关键。目前业界测试烧录线的线体长度多与测试站与烧录站设备数量成正相关,设备数量越多则线体相应越长,因此较为复杂的测试烧录线所占用的生产空间便会越大,另因线体本身的复杂性,多需辅以人工配合生产,人为操作疏失所造成的损害风险也相应提高许多。



技术实现要素:

本发明的一个目的在于提供一种移动式多工站测试烧录线,满足集成电路板测试烧录线装载自动化的市场需求,提高生产效率和生产安全性。

本发明的另一目的在于提供一种移动式多工站测试烧录线的工艺流程,合理设计加工工序,自动剔除不良品,提高生产效率和成品质量。

为达上述目的,本发明采用以下技术方案:

一种移动式多工站测试烧录线,其包括先后排布构成流水线的上料带、测试站、烧录站、下料带以及两两之间的传输带,传输带通过提升机构与测试站或烧录站对接,流水线的一侧设置有不良品区,传输带通过移载机构可移动设置,从而与不良品区对接。

其中,测试站包括ict测试站、安全测试站和电源测试站,传输带包括第一传输带、第二传输带、第三传输带、第四传输带和第五传输带,第一传输带设置于上料带与ict测试站之间,第二传输带设置于ict测试站与安全测试站之间,第三传输带设置于安全测试站与电源测试站之间,第四传输带设置于电源测试站与烧录站之间,第五传输带设置于烧录站与下料带之间,第二传输带、第三传输带、第四传输带和第五传输带均可垂直于传输方向平移,ict测试站的一侧设置有第一不良品区,安全测试站的一侧设置有第二不良品区,电源测试站的一侧设置有第三不良品区,下料带的一侧设置有第四不良品区。

其中,电源测试站和烧录站分别设置有两个,采用双线并排设置,两个电源测试站的流水前方设置有第一储料过渡带,两个烧录站的流水后方设置有第二储料过渡带,第一储料过渡带与第三传输带对接,第二储料过渡带与第五传输带对接。

其中,第一传输带、第二传输带、第三传输带上均设置有扫描枪。

其中,提升机构包括两个对称设置于传输带两侧的托板,两个托板分别连接有升降气缸,两个升降气缸同步运动,两个升降气缸固定于安装座上,安装座的底部设置有第一滑块,第一滑块配合设置于按流水线方向布置的第一滑轨上,加工件的宽度大于传输带的宽度,超出的部分由两个托板承托。

其中,移载机构包括支撑座,传输带设置于支撑座上,支撑座的底部设置有第二滑块和螺母,第二滑块配合设置于垂直流水线方向布置的第二滑轨上,支撑座的下方设置有丝杆,丝杆与螺母配合传动。

其中,上料带的宽度大于传输带的宽度,上料带上设置有用于限定加工件位置的挡板。

一种基于上述的移动式多工站测试烧录线的工艺流程,其包括以下步骤:

1)上料带将加工件逐个送至第一传输带上;

2)经过对应提升机构将加工件搬运至ict测试站进行测试,结束后将加工件移至第二传输带上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,加工件被送至不良品区;

3)经过对应提升机构将加工件搬运至安全测试站进行测试,结束后将加工件移至第三传输带上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,加工件被送至不良品区;

4)经过对应提升机构将加工件搬运至电源测试站进行测试,结束后将加工件移至第四传输带上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,加工件被送至不良品区;

5)经过对应提升机构将加工件搬运至烧录站进行烧录,结束后将加工件移至第五传输带上,若检测结果合格,则加工件被送至下料带,否则,加工件被送至不良品区。

综上,本发明的有益效果为,与现有技术相比,所述移动式多工站测试烧录线采用全自动化结构实现加工件流转、装载、测试与烧录,有效避免人工操作可能造成的损害,并通过合理布局,如双排设计等,使得整体生产线结构紧凑,占地空间小,各站独立性高,集成性好,另外可移动的传输带可进行正向逆向流动与横移运输,从而轻松将不良品挑出,提高了成品质量和生产效率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的移动式多工站测试烧录线的整体结构示意图;

图2是图1中的提升机构的结构示意图;

图3是图1中的移载机构的结构示意图;

图4是图1中a处放大图;

图5是本发明实施例提供的移动式多工站测试烧录线的工艺流程的流程图。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

请参阅图1至4所示,本实施例提供一种移动式多工站测试烧录线,适用于集成电路板的自动测试、烧录加工,主要包括上料带1、测试站2、烧录站3、下料带4和传输带5,其中测试站2具体包括ict测试站21、安全测试站22和电源测试站23,传输带5包括第一传输带51、第二传输带52、第三传输带53、第四传输带54和第五传输带55,上料带1、第一传输带51、ict测试站21、第二传输带52、安全测试站22、第三传输带53、电源测试站23、第四传输带54、烧录站3、第五传输带55、下料带4依次先后排布构成流水线。

其中,ict测试站21、安全测试站22、电源测试站23和烧录站3上的电路板的转移主要通过提升机构6进行。提升机构6包括两个对称设置于传输带5两侧的托板61,两个托板61分别连接有升降气缸62,两个升降气缸62同步运动,两个升降气缸62固定于安装座63上,安装座63的底部设置有第一滑块64,第一滑块64配合设置于按流水线方向布置的第一滑轨65上,需要说明的是,电路板的宽度大于传输带5的宽度,因此超出的部分即由两个托板61承托,托板61升降、平移动作即可实现电路板在各测试站2和烧录站3到传输带5之间的搬运转移。

特别地,电源测试站23和烧录站3分别设置有两个,采用双线并排设置,两个电源测试站23的流水前方设置有第一储料过渡带56,两个烧录站3的流水后方设置有第二储料过渡带57,第一储料过渡带56与第三传输带53对接,第二储料过渡带57与第五传输带55对接。等待电源测试的电路板可以根据电源测试站23是否正在进行测试以及第一储料过渡带56上的储料数量决定要流动至哪一个,以提高生产效率。同理,烧录站3的双排设置也能提高烧录效率。

另外,该流水线上还设置有不良品区7,ict测试站21的一侧设置有第一不良品区71,安全测试站22的一侧设置有第二不良品区72,电源测试站23的一侧设置有第三不良品区73,下料带4的一侧设置有第四不良品区74,第二传输带52、第三传输带53、第四传输带54和第五传输带55均可通过移载机构8而垂直于传输方向平移,从而与对应不良品区7对接。

移载机构8包括支撑座81,各传输带5设置于支撑座81上,支撑座81的底部设置有第二滑块82和螺母83,第二滑块82配合设置于垂直流水线方向布置的第二滑轨84上,支撑座81的下方设置有丝杆85,丝杆85与螺母83配合传动。

需要说明的是,各传输带5的平移运动与提升机构6的运动互不干扰,且根据各不良品区7的前后位置,各传输带5对应进行正向或逆向流动,实现不良品的传递。

补充,上料带1的宽度大于传输带5的宽度,上料带1上设置有挡板11,将原先位置不固定的电路板定位。

第一传输带51、第二传输带52、第三传输带53上均设置有扫描枪9,以便扫描电路板上二维码纪录生产过程与相关信息。

此外,本实施例针对上述移动式多工站测试烧录线还提出了其工艺流程,如图5所示,具体包括以下步骤:

s1、上料带1将电路板逐个送至第一传输带51上;

s2、经过对应提升机构6将电路板搬运至ict测试站21进行测试,结束后将电路板移至第二传输带52上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,电路板被送至第一不良品区71;

s3、经过对应提升机构6将电路板搬运至安全测试站22进行测试,结束后将电路板移至第三传输带53上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,电路板被送至第二不良品区72;

s4、经过对应提升机构6将电路板搬运至电源测试站23进行测试,结束后将电路板移至第四传输带54上,若检测结果合格,则进入下一步,否则,电路板被送至第三不良品区73;

s5、经过对应提升机构6将电路板搬运至烧录站3进行烧录,结束后将电路板移至第五传输带55上,若检测结果合格,则电路板被送至下料带4到达加工合格品区,否则,电路板被送至第四不良品区74。

该移动式多工站测试烧录线至少包括以下优点:

1)全自动化流转与装载,有效避免人工操作可能造成的损害;

2)能够智能剔除不良品,减少后期工序,提高了生产效率;

3)双排操作可节约设备占地空间,效率提高,且多线分段交错的配置也使产线更为灵活,不易受局部故障影响整线;

4)各站可独立运作,能在极短时间内完成产线分布的变更,保留操作弹性,使产品更迭之际产线能够快速地做出调整应对;

5)能有效集成多种使用功能,集成性更高,适用性更强。

综上,上述的移动式多工站测试烧录线采用全自动化结构实现加工件流转、装载、测试与烧录,有效避免人工操作可能造成的损害,并通过合理布局,如双排设计等,使得整体生产线结构紧凑,占地空间小,各站独立性高,集成性好,另外可移动的传输带可进行正向逆向流动与横移运输,从而轻松将不良品挑出,提高了成品质量和生产效率。

以上实施例只是阐述了本发明的基本原理和特性,本发明不受上述事例限制,在不脱离本发明精神和范围的前提下,本发明还有各种变化和改变,这些变化和改变都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

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